一企業獲得多項提升離子阱性能的專利

　　分析測試百科網訊 近日， Astrotech Corporation (NASDAQ: ASTC) 的子公司1st Detect Corporation因實現了在苛刻的環境中使用離子阱化學分析儀而獲得了美國專利局（USPTO）批準的三項專利。至此，1st Detect Corporation具有已經頒發的16個美國專利和10個國際專利，而8個美國專利和12個國際專利則還有待確定。

　　1st Detect 公司是Astrotech Corporation (NASDAQ: ASTC)的子公司，是一家集開發、生產和銷售性能強大、靈敏并精確的化學分析儀器廠商，所生產的產品大都銷往食品、飲料、半導體、醫藥、健康、學術和環 境等領域，還包括國土安全局和軍事中的易燃易爆和化學戰爭方面的檢測領域。該公司的核心質譜技術，是源于與NASA的合作開發用于國際空間站的質譜技術。 該單元可以檢測多種化學物質，包括來自爆炸的殘留物和蒸汽物質、化學戰劑、有毒化學物質、食品飲料污染和環境污染物等。所有的這些性能，并加上一個具有經 濟的價格、方便運輸和耐用的解決方案，使得它成為各種應用的理想工具。

　　該公司有多項關于質譜方面的專利技術，以下為1st Detect Corporation的部分專利：

　　No. 9,312,112美國專利：“樣品真空室”，是有關將揮發性或者半揮發性樣品引入質譜儀的方法。用拭子采樣來進行收集和轉移違禁品到化學分析儀進行威脅 偵測是安全部門廣泛使用的手段。然而，通過加熱拭子來實現氣態物質的轉移常常伴隨著樣品的熱降解，因此，這限制了人們對熱敏感化合物的檢測。1st Detect 公司的專利提供了一種創新的方法，使用減壓條件增加分析物的蒸氣壓而實現高效轉移。

　　日本專利No. 5,895,034：“離子阱端蓋電壓控制”，這個專利是1st Detect公司關于離子阱技術的另一個重要創新。該技術對于小型化離子阱質譜儀來說，可以極大地提高質譜儀性能，使得檢測的離子質量范圍增大，同時檢測 樣品的濃度范圍也增大。這使得1st Detect公司的小型離子阱質譜儀獲得之前只在更大質譜系統才能獲得的性能。

　　 Astrotech Corporation的董事長兼首席執行官Thomas B. Pickens III表示：“這些專利擴大了我們的專利組合，使得我們先進的分析技術可以在惡劣條件進行可靠的分析，并幫助公司打開市場”。同時，Thomas B. Pickens III還表示，已經有500強公司在對他們的半導體和食品行業的化學分析儀進行評估。