【掃描電子顯微鏡】簡稱“`SEM`”。一種超高分辨的具表面測試技術的分析儀器。可用于微粒、金屬薄片等表面性質的研究。主要是利用電子束在樣品表面上逐點掃描，通過電子束與樣品相互作用，從樣品上激發出與樣品性質有關的各種信息（如二次電子、背射電子、`X`射線等），通過分別收集這些從樣品上激發出的信息，經電子線路放大處理后輸入以陰極射線管的柵極，控制其電子束的強弱，也即控制陰極射線管的亮度來顯示樣品的圖象。可進行各種圖象觀察、元素分析及品體結構分析，可
