MalinEdvardsson博士，主修物理專業，于2006年畢業于ChalmersUniversityofTechnology，此前她的研究主要集中在QCM-D技術方面。此后她也一直致力于QCM-D技術在世界范圍內廣泛應用。
測量納克級別的質量變化的“天平”
石英晶體微天平或QCM，就像它的名字一樣，本質上是一個用于稱量非常小的質量變化的天平。它不像我們日常生活中所用的測量磅或公斤級別的那種天平。石英晶體微天平(QCM)和它家族的兄弟們，可用來測量納克級的質量變化，它所測量的質量是實時的，一旦質量增加或下降，用戶便可以捕捉到這一微小的變化。也就是說，QCM可以檢測出表面上增加或減少的及其微小的質量變化。
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為什么要稱量這么小的質量呢？
不同于廚房秤那種測量磅或公斤級質量的天平，QCM和它家族的兄弟們可以用來測量納克級的質量。
那么問題是，為什么會有人想要測量某種材料納克級的質量變化呢？我們每天都要使用的許多物品中，如智能手機觸摸屏，都有非常薄的涂層，知道它們到底有多薄或多厚，才能保持功能是非常有必要的。此外，測量質量如何隨時間變化，可以提供材料的某些非常有用的信息，例如眼淚中的蛋白質，能夠隨著時間的推移與隱形眼鏡表面發生相互作用。QCM檢測就可以針對這樣的事實，當我們感興趣的表面材料置于能夠與其發生相互作用并最終能夠成功吸附在其表面的分子之中時，QCM檢測的結果將是表面質量的增加。質量的變化便可以證實相互作用的發生。或者，如果沒有檢測到質量的增加，確認沒有相互作用發生，即沒有分子粘附在表面上。因此，QCM是一種通過監測表面質量的實時變化，從而定性和定量的研究分子和表面間相互作用的方法。