近年來，為了研究和測量作物生長的限制因素等有價值的信息，進一步提高農作物的生長潛力，取得增產增效的目標，農業研究中應用了很多新的科學儀器和技術，而作物冠層分析儀就是其中一種重要的農業測量儀器，其作用是快速實時測量有效光合輻射PAR值，用來描繪作物冠層PAR的分布圖，同時也用于計算冠層的葉面積指數LAI值。
我們知道光對于植物的影響是非常大的，植物生長只有有了光才能夠進行正常的光合作用等，維持其正常的生長需要。因此采用作物冠層分析儀研究光對于作物生長的影響，對于精細農業發展而言，有著十分重要的意義。作物冠層分析儀的測量原理是，當光線透過植物冠層時，由于受到葉片和枝干的阻攔，輻射強度會迅速消減，根據其消減程度就可推算出植物的葉量，進而計算LAI。
與傳統的植物冠層分析相比，作物冠層分析儀是簡單，也是最輕松的一種測量方式，它是直接采用光量子傳感器來測量、計算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數，通過通過一次測定，既可以得到想要的數據結果，而不再需要進行復雜的測量，運算等，為植物研究工作的開展提供了不少便利。