用小角度模式掃，就可以避免基片影響。測試的人都懂的，不用買特殊的單晶硅片。
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味著變大,常見是摻入了比主體大的雜原子出現“摻雜”，雜質原子會使晶胞參數變大或變小；如果左移,說明晶胞參數變大,晶面間距變大；制樣時要盡量使樣品和樣品板相平,......
拿到圖譜后，用分析軟件打開（如jade),去本底，平滑，尋峰，手動添加和刪減峰，物相鑒定（根據材料的具體成分進行元素的合理選擇）,根據軟件提供的標準圖譜和自己的圖譜比對，重合性好的可以作為一種物相。......
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味著變大,常見是摻入了比主體大的雜原子.出現“摻雜”,雜質原子會使晶胞參數變大或變小；如果左移,說明晶胞參數變大,晶面間距變大；制樣時要盡量使樣品和樣品板相平......
角度θ為布拉格角或稱為bai掠射角。關于XRD的測量原理比du較復雜，zhi要知道晶體學和X射線知識。簡單dao的來說（對粉末多晶）：當單色X射線照射到樣品時，若其中一個晶粒的一組面網（hkl）取向和......
XRD結晶度是根據部分結晶聚合物的X射線衍射強度峰總面積中晶區部分貢獻的百分數計算的結晶度。分析方法：已知波長的X射線來測量θ角du，從而計算出晶面間距d，這是用于X射線結構分析zhi；dao另一個是......
對于樣品的準備工作，必須有足夠的重視。常常由于急于要看到衍射圖，或舍不得花必要的功夫而馬虎地準備樣品，這樣常會給實驗數據帶入顯著的誤差甚至無法解釋，造成混亂。準備衍射儀用的樣品試片一般包括兩個步驟：首......
XRD多以定性物相分析為主，但也可以進行定量分析。通過待測樣品的X射線衍射譜圖與標準物質的X射線衍射譜圖進行對比,可以定性分析樣品的物相組成；通過對樣品衍射強度數據的分析計算,可以完成樣品物相組成的定......
能譜儀(EDS,EnergyDispersiveSpectrometer)，是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。EDS的分析結果里面會有原子比（atomi......
分析測試百科網訊2020年1月7日，工業和信息化部發布2019年第61號公告，正式批準《5G移動通信網核心網總體技術要求》等447項行業標準。其中通信行業標準32項、電子行業標準14項、化工行業標準1......
二氧化硅的化學式為SiO2。二氧化硅有晶態和無定形兩種形態。晶態二氧化硅的熔點1723℃，沸點2230℃，不溶于水。除氟氣和氫氟酸外，二氧化硅跟鹵素、鹵化氫和無機酸均不反應，但能溶于熱的濃堿、熔融的強......