原子光譜技術作為現代分析檢測技術中的一個重要組成部分，在分析領域中占據著舉足輕重的地位，而其發展也反映了分析技術的不斷改革與創新。綜述了中國原子光譜技術近15年來（2000年—2014年）的研究與應用進展。內容涉及原子光譜的多個分支領域，包括原子發射光譜，原子吸收光譜，原子熒光光譜，X射線熒光光譜以及原子質譜五種原子光譜技術。
原子發射光譜(AES)：原子發射光譜法，是根據每種化學元素的原子或離子在熱激發或電激發下，從激發態回到基態時發射的特征譜線，進行元素定性、半定量和定量分析的方法。它是光學分析中產生與發展最早的一種分析方法，卻也是原子光譜技術研究中較為薄弱的一個部分。
原子吸收光譜(AAS)：原子吸收光譜包括火焰原子化吸收光譜，石墨爐原子化吸收光譜，氫化物發生原子吸收光譜等。
原子熒光光譜(AFS)：典型原子熒光檢測過程是以氫化物/冷蒸氣發生方式實現樣品的導入，氬氫擴散火焰原子化器實現被測元素的原子化，自由原子被空心陰極燈激發后發射的原子熒光，以無色散光路被 光 電 倍 增 管 接 收，獲 得 原 子 熒 光 信 號。理 論 上，AFS兼具AES和AAS的優點，同時也克服了兩者的不足，但是，由于AFS存在散射光干擾及熒光猝 滅 嚴 重 等 固 有 缺陷，使得該方法對激發光源和原子化器有較高的要求。
X射線熒光光譜(XRF)：X射線熒光光譜按 分 離 特 征 譜 線 的 方 法 分 為 波 長 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）兩種。WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按光子能量進行分離來測定各元素含量。
原子質譜(AMS)：原子質譜（AMS）又稱為無機質譜法，是將試樣原子化后采用各種離子源使其離子化，按質荷比不同而進行分離檢測的方法，廣泛用于各種試樣中元素的定性和定量檢測。
