原子力顯微鏡（AFM）應用舉例

1, Lateral Force Microscopy 測量樣品表面的摩擦力。

2, 活體細胞測量

3, chemical force microscopy 測量兩個化合物之間的作用力。

4, quantitative  nanomechanical 測量樣品的形貌、模量、表面粘滯力、能量損失和形變量。

5, electric force microscopy 測量樣品表面帶電的電荷強度，或者說保有電荷的能力。

6, surface potential imaging 測量樣品的表面電勢，或者說電子溢出金屬的難易程度。

7, Piezo Response microscopy 壓電力響應。

8, conductive AFM 測量樣品的導電性質，測量樣品的電阻。

9, scanning capacitance microscopy 掃描電容，測試樣品中的載流子密度。

10, scanning spreading resistance microscopy 擴散電阻。