原子吸收分光光度法背景吸收干擾及消除

　　原子化器中非原子吸收的光譜干擾。

　　 ①分子吸收（火焰中難熔鹽分子和氣體分子）

　　 ②固體或液體微粒對光的散射和折射作用

　　有關因素：l、基體元素的濃度、火焰條件、原子化方法(石墨爐法大于火焰法)等

　　減小方法： ①氘燈自動扣背景校正裝置（190~350 nm）

　　兩個光源——空心陰極燈和 D2 燈

　　一個切光器

　　二次測量——

　　圖6 氘燈背景校正原理圖

　　氘燈自動背景校正原理：

　　氘燈發射的連續光譜經過單色器的出光狹縫后，出射帶寬約為 0.2nm 的光譜通帶（帶寬取決于狹縫寬度和色散率）；空心陰極燈發射線的寬度一般約為0.002nm；

　　測量前調制：

　　ID=I空（此時△A=0）

　　在測定時，如果待測元素原子產生一正常吸收，則

　　 (14)

　　從連續光源氘燈發出的輻射 ID 在共振線波長處也被吸收，但由于所觀察的譜帶寬度至少有0.2nm ，因此，在相應吸收線處寬度約為 0.002nm 的輻射即使被 100% 吸收最多也只占輻射強度的 1% 左右，故可忽略不計；因此：

　　 (15)

　　局限性：①氘燈與空心陰極燈光源二束光在原子化器中的嚴格重疊(平行)很難調整；

　　 ②氘燈測得的是光譜通帶內的平均背景，與分析線真實背景有差異。

　　 2. 塞曼效應校正法

　　塞曼效應——將光源置于強大的磁場中時，光源發射的譜線在強磁場作用下，因原子中能級發生分裂而引起光譜線分裂的磁光效應塞曼效應背景校正比氘燈連續光源背景校正優越，可在各波長范圍內進行，背景校正的準確度高。

　　但僅限于石墨爐法，結果較理想，且測定靈敏度低。