吉天參展日本“JAIMAEXPO2010／SIS2010”展會

        2010年9月1---3日，我公司在劉明鐘董事長和王安邦常務副總的帶領下，參加了與美國Pittcon、德國Analytica及中國BCEIA齊名的日本最大的分析儀器展覽會“JAIMA EXPO 2010 / SIS 2010”展會。展會于日本千葉縣幕張會展隆重召開，來自世界各國的450多家科學儀器公司和近三萬余行業人士參加。此次是中國儀器商第一次參加日本的分析儀器展覽會，我公司隆重展出了具有自主知識產權的原子熒光形態分析儀，得到了來自日本，馬來西亞，迪拜，伊朗，臺灣等國家和地區的熱烈關注，紛紛來到展臺參觀咨詢。此次展出給參觀者留下了深刻的印象，其中不少留日學者看到中國自己的儀器能夠走出國門，走向世界而倍感驕傲。