四、X-Trace LIBS遙測分析系統
X-Trace
LIBS元素遙測分析系統由歐洲工程技術中心（CEITEC）研制生產，用于巖礦、材料、塑料、土壤及植物等的元素分析和元素分布2D成像，可廣泛應用于地質科學、材料科學、土壤科學、生物科學、環境科學、考古學、生物醫學等領域樣品分析。系統主要由移動平臺（Transport
module）、遙測模塊（Stand-off detection module）和手持光纖探頭（Fiber optic module with
hand
probe）等組成，移動平臺集成有光譜儀、檢測器、控制系統、光機結構等，遙測模塊內置脈沖激光發射器和聚焦系統及等離子體光譜采集系統等。整機采用模塊式結構，可根據不同的需求應用靈活組合，具備強大的擴展性能。
主要技術特點；
Stand-off LIBS 與Remote LIBSZL技術，原位非接觸測量分析，遙測距離可達20m
模塊式結構組成，配置高度靈活、系統高度可擴展，擴展升級不必要返廠，在實驗室即可就地升級擴展
移動平臺方便操作、移動等
高端LIBS系統，可適用于環境監測（土壤污染、微粒或沉積分析、突發事件檢測等）、巖礦分析、塑料等各種材料分析、土壤分析、植物分析、痕跡溯源追蹤分析、法醫與生物醫學檢測（牙齒、骨骼、毛發等）、考古學檢測等各種應用
遙測模塊可遠距離（可達20m）原位非接觸激光脈沖聚焦沖蝕遙測，或手持光纖探頭原位激光脈沖聚焦沖蝕測量
高端全光譜Echelle光譜儀及iCCD光譜檢測器，高穩定性、高精確度、高靈敏度，每次可檢測分析所有波段光譜；如特別需要，可選配Czerny Turner光譜儀及相應iCCD光譜檢測器以進一步達到更低的檢測極限（參見下表，檢測極限很大程度上與樣品本身有關，如植物中的C、N一般很難達到表中的檢測極限），但這類超高靈敏度檢測系統每次能檢測的波段數量有限——這意味著每次可分析的元素種類有限
可分析元素周期表中所有元素，檢測極限可達0.1ppm甚至更低；可選配Echelle全光譜檢測系統或超高靈敏度Czerny Turner檢測系統
CEITEC專家團隊提供技術支持，隨時提供最佳最優的LIBS方案，并愿意合作進行應用研究和發表論文。
五、易科泰SPECIM高光譜成像技術
Specim高光譜掃描技術廣泛應用于地質科學及礦產資源勘測，成為地質礦產高光譜成像分析的領導者。在此主要介紹廣被采用的完整系統SisuSCS、SisuROCK和SisuCHEMA。易科泰生態技術公司可以根據需求制定不同的選配方案。
1、SisuSCS高光譜單樣芯掃描平臺（Situ Single Core Scanner）
SituSCS適于對單個巖礦樣芯或湖泊沉積樣芯進行高光譜掃描成像分析，可選配400-1000nmVNIR傳感器或1000-2500SWIR傳感器，整機重量約重100kg，適合于樣芯量不大的實驗室進行高光譜分析。
SisuSCS高光譜樣芯掃描分析可以快速、無損傷、非接觸、高分辨率獲取巖石樣芯或沉積樣芯的光譜反射特征，可以提供其它樣芯分析技術所不能提供的物質組成與時空分布大數據信息。