馬爾文粒度特性曲線的繪制方法有算術坐標法、半對數坐標法和全對數坐標法。
算術坐標法是根據篩分分析結果表的數據，在普通的直角坐標系上繪制粒度特性曲線。當縱坐標表示大于某一篩孔尺寸的物料產率時，是正累積粒度特性曲線；當縱坐標表示小于某一篩孔尺寸的物料產率時，是負累積粒度特性曲線；半對數坐標法表示粒級大小的橫坐標用對數表示，縱坐標用算術坐標，在這樣的坐標系中做出的累積粒度特性曲線稱為半對數累積粒度特性曲線。它基本上克服了算術坐標法繪制的曲線所存在的問題，避免了細粒級各點過分密集的缺點；全對數坐標法表示粒度大小的橫坐標用對數表示，縱坐標也用對數坐標，在這樣的坐標系中做出的累積粒度特性曲線稱為全對數負累積特性曲線。
粒度分布曲線又稱粒度分布頻率曲線，是在以粒度大小為橫坐標，百分含量為縱坐標的坐標紙上，按各粒級百分含量繪出相應的點后，聯接各粒級百分含量的點即成一波狀起伏的圓滑的頻率曲線。