微分干涉顯微鏡工作原理

在材料顯微分析如何使用微分干涉相襯法微分干涉相襯法(DIC)作為一種前途的分析檢驗方法，具有對金相樣品的制備要求較低，所觀察到的樣品各組成相間的相對層次關系突出，呈明顯的浮雕狀，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出正確的判斷，能夠容易判斷許多明場下所看不到的或難于判別的一些結構細節或缺陷，可進行彩色金相攝影等優點。但在目前的金相檢驗工作中，DIC法還利用得很少。

在金相顯微鏡檢驗方法中，微分干涉相襯法(DIC)是金相檢驗的一種強有力的工具，其特點主要為: 

 1、對金相樣品的制備要求降低，對于某些樣品，甚至只需拋光而不必腐蝕處理即可進行觀察。優點是可以觀察到樣品表面的真實狀態，如將試樣拋光后在真空下發生馬氏體相變，不用腐蝕就可以觀察到馬氏體的相變浮凸。

2、所觀察到的表面具有明顯的凹凸感，呈浮雕狀，樣品各組成相間的相對層次關系都能顯示出來，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等都能作出正確的判斷，提高了金相檢驗準確性，同時也增加了各相間的反差。

3、用微分干涉相襯法觀察樣品，會看到明場下所看不到的許多細節，明場下難于判別的一些結構細節或缺陷，可通過微分干涉進行反差增強而容易判斷。

4、微分干涉相襯法基于傳統的正交偏光法，又巧妙地利用了在渥拉斯頓棱鏡基礎上改良的DIC 棱鏡和補色器(λ-片)等，使所觀察的樣品以光學干涉的方法染上豐富的色彩，從而可利用彩色膠卷或者數碼產品(CCD 攝像頭以及數碼相機)進行彩色金相顯微攝影。由于微分干涉相襯得效果與樣品細節的浮雕像以及色彩都是可以調節的，因而比正交偏光更為優越。微分干涉相襯法在生物醫學領域得到了廣泛的重視，然而，到目前為止從發表的有關材料金相研究的論文中，國內外基于微分干涉相襯法進行材料金相研究的工作開展得很少。

其原因主要有兩個方面:

一方面是由于配備微分干涉相襯部件的金相顯微鏡不是很多；另一方面，許多材料科學工作者還沒有意識到微分干涉相襯法在材料研究中的優勢

一、微分干涉相襯法的基本原理：

1、微分干涉相襯法所需部件：起偏器、檢偏器、微分干涉相襯組件插板(DIK組件插板)，以及補色器(λ- 片)。起偏器和檢偏器是在對金相樣品進行正交偏振光觀察中必不可少的基本配套部件，組裝在明/暗場照明組件中，也是微分干涉相襯法必不可少的部件。起偏器是把光源變為按東- 西方向振動的線偏振光；檢偏器可以使滿足干涉條件的相干光進行干涉。DIK組件插板是微分干涉相襯法的核心部件，其上裝配有以渥拉斯頓棱鏡為基礎改良后的DIC棱鏡。DIK組件插板上有兩個調節旋鈕，其中較大的一個用來調節組成DIC棱鏡的兩個棱鏡間的相對位置，使其厚度產生微小的改變從而引起光程或光程差的微小變化，產生明顯的干涉相襯效果；較小的一個用來調節DIC棱鏡的高低位置，以配合不同倍數物鏡后焦平面位置上的差異，從而確保DIC觀察視場中能獲得均勻的照明。補色器(λ- 片) 由石膏制成，插在線偏振光的照光路中用以增加一個光波波長約550nm的光程差，使干涉級序升高一級，保證視野中樣品的不同組織細節獲得豐富的色彩，從而利于金相組織的觀察和分析。

2、微分干涉相襯的基本原理：微分干涉相襯法的基本原理如圖1所示。由光源出射的照明光經起偏器后變為東-西方向振動的線偏振光，*次進入DIC棱鏡內部時分為尋常光(o光)和非尋常光(e光)，這兩束光微微分開，而其振動方向相互垂直