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  • 發布時間:2021-05-21 15:25 原文鏈接: 掃描電鏡之EDX能譜分析介紹

    使用EDX,研究人員可以快速得到有關樣品化學成分的信息,包括元素構成、分布及濃度。

    但是EDX到底是如何工作的

    利用掃描電子顯微鏡,各種信號可以提供給定樣品的不同信息。

    例如

    背散射電子生成襯度圖像,顯示出原子序數差異。而二次電子則提供樣品的表面形貌信息。當掃描電子顯微鏡與EDX探測器結合使用時,X射線也可以用作產生化學信息的信號。

    為了更好地理解X射線的產生原理,我們要清楚,每個原子都擁有特定數量的電子,且電子處于特定的能級。正常情況下,電子在特定的軌道上運行且具有不同的、分立的能量。

    EDX分析原理

    電子束轟擊原子內層,激發出基態原子的內殼電子,在內層留下帶正電的電子空穴。內層電子離開原子后,處于較高能級的外層電子會填充這些低能級的空穴,多余能量可能會以 X 射線形式放出,而這種X 射線的能量分布可以反映特定元素和躍遷特征。

    X射線生成過程:

    (1)能量傳遞給原子中的電子,使其離開原子留下空穴;

    (2)較高能級的外層電子填充空穴并釋放出特性X射線。

    此種X射線可以用硅漂移探測器收集,并結合軟件對其進行測量和解釋。化學信息可以通過元素面分布和線掃描等多種方式實現可視化。這樣,利用X射線也就可以識別樣品中的各種元素。

    有趣的是,EDX還可用于定性和定量分析,也就是識別樣品的元素類型以及每種元素的濃度百分比。與傳統掃描電子顯微鏡一樣,EDX 技術幾乎不需要樣品制備,并且無損,不會損壞樣品。

    EDX分析以其多種優勢,已在制造業、研究領域、能源資源管理、快消品等多個行業得到廣泛應用。EDX 已經成為掃描電子顯微鏡的重要部分,利用掃描電子顯微鏡進行EDX分析,研究人員既可以提高分析結果質量,同時又能節省寶貴的時間。


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