顆粒大小是評估固態物質物理和化學屬性的重要參數。篩分分析通常由半熟練員工進行，因此設備必須易于使用。Excellence Plus 天平將簡單、直觀的操作理念與簡單的文檔解決方案相結合。
分級分離或篩分分析是一種常用的粒度分布分析法。在許多場合，篩分分析由半熟練員工進行，這就要求設備必須易于操作，無需任何
PC 連接。憑借 Excellence Plus
天平，篩分分析過程具有邏輯性而且操作簡單。安裝空篩網，天平去皮重；然后即可稱出樣品質量。接著，開始進行篩分分析。完成后，您只需將篩子放回天平并獲取讀數即可。快速且具邏輯性。
完美顯示結果
XP 精密天平與其他型號相比的明顯優勢是：它可在重新稱重后立即按 % 顯示剩余粒度，剩余含量也可以以 g 或 kg 顯示。此外，它還有一個毛重顯示選項。如果需要，可以12 種語言顯示所有用戶菜單。
此時，可在專門創建的簡單結果表中手動輸入結果。如果需要，還可將這些結果發送至打印機或 PC（例如，使用我們的 LabX 軟件）。用戶只需按下最多 2 個按鈕即可完成。
記錄多個篩網
篩分分析過程通常會使用多個篩網，一般為6-8個。該款天平中還有存儲這些篩網的選項，并附帶其測試設備編號，用戶在需要時可查看。還可以預設皮重，為各種用戶提供同時稱量幾個粒度篩網的選項。無需等待即可完成篩分分析。
所有這些特點使得 Excellence Plus XPR 精密天平成為您的最佳之選。它具有靈活性、功能性，并且簡單易用。
One Click? 篩分分析 — 結合 LabX
如果您每天都要按列篩分分析（分級分層），或者大量數據收集和評估，建議增加軟件支持（例如 LabX）以簡化過程。按下 XP 天平觸摸屏上的
One Click?按鈕即開始篩分分析。自動質量計算功能確保逐個稱量篩網，無需再進行任何輸入。LabX
指導用戶分步操作，可自動進行計算，并存儲所有的數據。該解決方案靈活、完整，滿足單個的過程要求，簡化實驗室里每天廣泛的篩分分析過程。