眾所周知,二維拓撲絕緣體的體內是絕緣的,而其邊界是無能隙的金屬導電態。且這種金屬態中存在自旋-動量的鎖定關系,相反自旋的電子向相反的方向運動,由于受到時間反演不變性的保護,它們之間的散射是禁止的,因此是自旋輸運的理想“雙向車道”高速公路,可用于新型低能耗高性能自旋電子器件。當前實驗證實的二維拓撲絕緣體有HgTe/CdTe和InAs/GaSb等的量子阱。但它們的樣品制備需要精準的調控,不利于規模化生產;體能隙小,需要在低溫下應用。這些都阻礙了二維拓撲絕緣體的實際應用。一個好的二維拓撲絕緣體必須:(1)具有層狀結構,易于得到化學穩定的二維系統;(2)體能隙大,在室溫下就能觀測到量子自旋霍爾效應,可用于日常電子器件。
2014年,中國科學院物理研究所/北京凝聚態物理國家實驗室(籌)的凝聚態理論與材料計算實驗室翁紅明副研究員和戴希、方忠研究員通過廣泛的材料數據庫搜索并結合材料計算,成功預言了含有過渡金屬Zr和Hf的碲化物ZrTe5和HfTe5,確認它們的單層是大能隙的二維拓撲絕緣體。它們體態的直接能隙有0.4 eV,間接能隙有0.1eV,均高于室溫。其層間耦合強度跟石墨相似,因此可以通過簡單的機械剝離方法制備單層二維材料,適合大規模生產。他們的計算結果還表明,其拓撲特性在相當大范圍的晶格應變(壓縮10%到拉伸20%)下保持不變,可以適用于不同的襯底和應用環境。這些都表明ZrTe5和HfTe5的單層是理想的二維拓撲絕緣體材料。另外,由于是過渡金屬化合物,不同的金屬元素替代摻雜比較容易,提供了良好的拓撲物性調控手段。譬如,磁性摻雜可實現量子化反常霍爾效應等。
他們進一步計算表明,三維的ZrTe5和HfTe5處于三維強、弱拓撲絕緣體相變點附近,熱脹冷縮或是微小的壓力都可能導致強、弱拓撲絕緣態的轉變,并引起表面態的變化。因此在實驗上觀測到這樣的量子現象是非常有趣的。
相關研究得到國家自然科學基金委員會和科技部有關基金的支持。這一研究成果已發表在Phys. Rev. X4, 011002 (2014)上。
ZrTe5和HfTe5的三維層狀晶體結構及其單層。
ZrTe5和HfTe5的層間耦合跟石墨一樣弱,可用類似的簡單的機械剝離方法制備二維材料。
在較大的晶格應變下(-10%~20%),ZrTe5保持大能隙,且其拓撲性質也保持穩定。
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