電子探針X射線微區分析儀簡稱電子探針。利用髙能電子束與物質相互作用時產生的特征X射線來分析試樣微區化學組成的一種顯微儀器。其工作原理為：聚焦得很細的電子束照射在試樣某微區，使該微區原子受激產生特征X射線，通過已知晶面間距的分光晶體對不同波長的X射線分光，來測量它的波長與強度，從而對微區所含元素進行定性定量分析。該儀器常與掃描電鏡配合使用，可在觀察試樣形貌像的同時，進行成分分析，分析區域在微米級，分析元素可從B5—U92,精度為萬分之一，分析感量可達10-14g，適用于元素的定量分析。對測量基體中的第二相，晶界和基體的組成差別、元素的分布狀態非常有用。
電子探針全稱電子探針X射線顯微分析儀，又稱微區X射線光譜分析儀，是一種利用電子束作用樣品后產生的特征X射線進行微區成分分析的儀器，英文簡稱為EPMA。可用來分析薄片中礦物微區的化學組成，分析對象是固體......
2023年6月2-3日，中國地學界電子探針分析技術平臺2023年度交流會在北京成功舉辦。本次會議由中國地學界電子探針分析技術平臺主辦，中國地質科學院礦產資源研究所（以下簡稱“資源所”）承辦，邀請了國內......
本文介紹電子探針能譜法測定含金量５０％～９９％黃金飾品的成色，該法無損、快速、準確，對束流穩定性要求不高且操作簡便。 ......
電子探針所分析的元素范圍從硼(B)——鈾(Ｕ)，因為電子探針成份分析是利用元素的特征X射線，而氫和氦原子只有K層電子，不能產生特征X射線，所以無法進行電子探針成分分析。鋰(Li)和鈹(Be)雖然能產生......
電子探針是利用0.5μm－1μm的高能電子束激發待分析的樣品，通過電子與樣品的相互作用產生的特征X射線、二次電子、吸收電子、背散射電子及陰極熒光等信息來分析樣品的微區內(μm范圍內)成份、形貌和化學結......
實驗設備 名稱：SX51型電子探針型號：SX51性能指標：法國CAMRCA公司生產1994年10月安裝使用 配備3道波譜儀（WDS）、OXFORD公司LINKISIS能......
分析測試百科網訊2015年10月28日，在BCEIA2015期間，儀器廠商紛紛借此機會推出自己的新品，召開技術說明會等，島津作為本次大會的參展商參加了本次展會，并展出了色譜、質譜和光譜等產品，并于10......
電子探針和掃描電鏡X射線能譜儀定量通則......
掃描電鏡電子探針的課件......