透射電鏡TEM襯度的形成,物鏡后焦面是起重要作用的部位。
電子經樣品散射后，相對光軸以同一角度進入物鏡的電子在物鏡后焦面上聚焦在一個點上。散射角越大，聚焦點離軸越遠,如果樣品是一個晶體,在后焦面上出現的是一幅衍射圖樣。與短晶面間距（或者說"高空間頻率"）對應的衍射束被聚焦在離軸遠處。在后焦面上設有一個光闌。它截取那一部分電子不但對襯度，而且對分辨本領有直接的影響。如果光闌太小，把需要的高空間頻率部分截去，那么和細微結構對應的高分辨信息就丟失了（見阿貝成像原理）。
樣品上厚的部分或重元素多的部分對電子散射的幾率大。透過這些部分的電子在后焦面上分布在軸外的多。用光闌截去部分散射電子會使"質量厚度"大的部位在像中顯得暗。這種襯度可以人為地造成，如生物樣品中用重元素染色，在材料表面的復形膜上從一個方向噴鍍一層金屬，造成陰陽面等。散射吸收(指被光闌擋住)襯度是最早被人們所認識和利用的襯度機制。就表面復型技術而言，它的分辨本領可達幾十埃。至于晶體樣品的衍襯像和高分辨的點陣像的襯度來源，見點陣像和電子衍襯像
電鏡襯度分類
電鏡襯度分四類：質厚襯度，衍射襯度，相位襯度，Z襯度。TEM是利用相位襯度。