半導體芯片是當代電子設備中不可或缺的核心組件之一。無論是計算機、手機、平板電腦還是智能家居，都離不開這些關鍵的芯片。然而，由于芯片的制造過程異常復雜，為了確保芯片的質量和可靠性，需要做各種測試。其中，推拉力測試是一項非常重要的測試之一。
半導體芯片推拉力測試機是一種用于測試和評估半導體芯片的強度和耐久性的機器。它可以通過施加推拉力來模擬芯片在實際使用中可能遭受的壓力，以確保芯片在長時間使用過程中不會出現故障或損壞。
產品特點：
1.采用精密動態傳感采集技術，確保測試數據的精度的真實性。
2.三軸運動平臺，雙搖桿控制機器操作簡單快捷。
3.采用3D立體傳感技術，自動測試功能保證測試精度及數據準確性。
4.只需手動更換相對應的測試頭即可實現推力及拉力測試功能。
產品參數：
設備型號：LB-8000D
測試精度：±0.25%
測試范圍：推力0-5000克（可根據客戶，配置不同傳感器）
工作方式：推針及拉針180度垂直與測試產品接觸，確保數據的準確性
外型尺寸：長：500mm寬：550mm高：440mm
傳感器更換方式：手動
操作系統：控制系統+Windows操作界面
平臺夾具：機臺可共用各種夾具，夾具可360度旋轉
X軸行程：75mm
X軸分辨率：±0.002mm
Y軸行程：75mm
Y軸分辨率：±0.002mm
Z軸行程：75mm
乙軸分辨率：±0.001mm
重量：35kg
功率：300W(MAX)
電源：220V±5%