XRD、SEM和AFM測試沒有固定的先后順序。
1 XRD（X-ray diffraction）是用來獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構。
2 SEM（掃描電子顯微鏡）是一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。
3 AFM （原子力顯微鏡）是一種表面觀測儀器，與掃描隧道顯微鏡相比，能觀測非導電樣品。
XRD通常薄膜厚度不夠的話，需要剝離研磨制成粉末樣品。SEM和AFM根據樣品的特性選擇一個測試就可以。測試時通常是選擇同批次，同條件的幾個樣品分別去測形貌和組分。按照預約測試時間來安排測試順序。
X射線熒光（XRF）是一種用于測定材料元素和涂層系統特性的分析方法，具有悠久的歷史，在許多實驗室都有應用。傳統上，XRF分析大面積或體積的樣品。在制備過程中，往往需要對樣品材料進行變形和破壞，即制備過......
掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質間的相互作用,來激發各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達......
——聚束科技創始人之一、副總經理李帥專訪分析測試百科網訊作為觀察微觀世界的“科學之眼”，電子顯微鏡在生命科學、材料、電子半導體等各領域的應用日益廣泛，但長久以來該市場都被進口產品壟斷。近年來一匹黑馬出......
掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質間的相互作用,來激發各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達......
SEM儀器是掃描電子顯微鏡，是一種用于高分辨率微區形貌分析的大型精密儀器，具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強、放大倍數范圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。目前,掃描電子顯微鏡已......
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味著變大,常見是摻入了比主體大的雜原子出現“摻雜”，雜質原子會使晶胞參數變大或變小；如果左移,說明晶胞參數變大,晶面間距變大；制樣時要盡量使樣品和樣品板相平,......
拿到圖譜后，用分析軟件打開（如jade),去本底，平滑，尋峰，手動添加和刪減峰，物相鑒定（根據材料的具體成分進行元素的合理選擇）,根據軟件提供的標準圖譜和自己的圖譜比對，重合性好的可以作為一種物相。......
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味著變大,常見是摻入了比主體大的雜原子.出現“摻雜”,雜質原子會使晶胞參數變大或變小；如果左移,說明晶胞參數變大,晶面間距變大；制樣時要盡量使樣品和樣品板相平......
掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質間的相互作用,來激發各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達......
描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質間的相互作用,來激發各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達到......