質譜分析法術語質荷比
質荷比（mass charge ratio，m/z）離子質量（以相對原子質量為單位）與它所帶電荷（以電子電量為單位）的比值。......閱讀全文
質譜分析法術語質荷比
質荷比（mass charge ratio，m/z）離子質量（以相對原子質量為單位）與它所帶電荷（以電子電量為單位）的比值。
質譜分析，基于質荷比的高端定量檢測
質譜分析法是利用電磁學原理使待測樣本粒子電離，再根據離子的質荷比將其區分開，記錄顯示這些離子的相對強度。將離子按質荷比的大小順序進行收集和記錄，得到質譜圖，最后通過對質譜圖各峰的識別和解析進行分析檢驗，以達到分析目的一種分析方法。質譜圖的橫軸表示粒子質荷比（m/z）；縱軸表示離子流強度，通常以相對強
荷質比計算
質荷比，是指帶電粒子質量與電荷之比（m/e或m/q）；通常說的是帶電粒子的質量數與電荷數之比（m/z），其中質量數m以原子質量（au）為單位，電荷數z以質子電荷（e）為單位，因此m/z是一個無量綱數。比如，氫離子（質子）的m/z=1/1=1，帶一個正電荷的甲基ch3+的m/z=15/1=15。質荷比
核質比與荷質比的區別
荷質比：一個粒子的質量和它所帶電荷的比(m/q),如質子：1.6*10^-19/1.6*10^-27。荷質比為物理學上的概念，核質比為生物學上的概念。
質譜分析法術語質譜
質譜（mass spectra mass spectrum）按照被測體質量大小排序的譜線。
質譜分析法術語質譜圖
質譜圖（mass spectrogram）質譜測定結果經計算機處理統計后，以棒狀圖（或數據列表形式）表示的譜圖。它是二維圖譜，橫坐標表示離子的質荷比（m/z），對于單電荷的離子，電荷數z＝1，橫坐標表示的數值即為離子的質量；縱坐標表示離子流的強度，通常用相對強度來表示，即把被記錄的各個質量數的離子峰
質譜分析法術語同位素豐度比
同位素豐度比（isotope abundance ratio）指某元素的任一同位素豐度與元素中的其他同位素豐度的比值。
質譜分析法術語同量（質）異位素
同量（質）異位素（isobaric nucleus）原子質量數M（M＝Z＋N）相同，質子數（Z）不同，即原子序數不同的核素。
質譜分析法術語峰匹配測量法
峰匹配測量法（peak matching measurement）一種測定離子精確質量的方法。精度可達（110）×10-6根據扇形磁質譜儀的基本公式:m/z＝KB21V，當B2不變時，質量分別為m1和m2的兩個離子有如下關系:m1:m2＝V1:V2。在離子接收狹縫前裝上一對偏轉電極，并在電極上加一個
質譜分析法術語同位素稀釋法
同位素稀釋法（isotope dilution method）采用同位素稀釋進行定量分析的方法。如在含有自然豐度的某元素未知濃度溶液中，加入該元素已知豐度的定量濃縮同位素或貧化同位素溶液，等待兩種溶液均勻混合，通過待測樣品、混合溶液的同位素豐度質譜法測量，根據待測、濃縮和混合溶液中的同位素豐度和所加
質譜分析法術語計量
計量（metrology）以確定量值為目的的操作，且具有計量法規依據，確定的量值具有溯源性，則此操作可視為計量。
質譜分析法術語核素
核素（nuclide）泛指原子序數、原子質量和能態不同的原子形式，也可以定義為具有特定核特征的某種原子。核素分為穩定核素和放射核素，在已經發現的2000多種核素中，絕大多數是人造核素，天然核素僅有340種，其中穩定核素285種，其余為放射核素。
質譜分析法術語稀釋
稀釋（dilution）在較高濃度的溶液中，加入溶劑或試劑使溶液的濃度變小，稱為稀釋。所加的溶劑或試劑稱為稀釋劑（spike）
質譜分析法術語本底
本底（background）是指在測量條件下，當欲測量樣品的離子還未抵達接收器時，探測器所記錄的電信號。通常“本底”由儀器的記憶效應、殘存氣體分子離子、儀器噪聲和零點漂移等信號組成。
質譜分析法術語誤差
誤差（error）測量結果減去被測量的“真值”之差。由于真值不能確定，實際上用的是約定真值。誤差是一個單個數值，原則上已知誤差可以用來修正測量結果；通常認為誤差含有兩個分量，即隨機分量和系統分量，分別稱為隨機誤差和系統誤差。
質譜分析法術語測量
測量（measurement or determination）定義為以確定量值為目的的一組操作。
質譜分析法術語示蹤劑
示蹤劑（tracer）用于追蹤生命體內某一物質，或某一組織行為的試劑稱為示蹤劑，它通常是被濃縮的穩定性同位素或放射性同位素。
質譜分析法術語元素
元素（element）不能用化學分解方法再分成更簡單組分的基本物質，也可以把元素理解為組成分子的基本單元。
質譜分析法術語基體
基體（matrix）亦稱基質。試樣中除被測成分之外的其他組分集合的稱謂，基體對被測成分的行為有時有重要影響。
質譜分析法術語質譜法
質譜法（ mass spectrometry，MS）亦稱質譜學（ mass spectroscopy），采用不同離子化方式，將待測物電離形成帶電離子，離子按質荷比m/z分離、檢測的方法。質譜法是實現原子（分子）質量測定，同位素分離、分析，物質結構鑒定以及氣相離子化學基礎研究的譜學方法。作為一種檢測手
質譜分析法術語同位素示蹤法
同位素示蹤法（isotope tracer method）用同位素作為示蹤劑來觀察和研究生命體，或物體中某一物質行為的方法。
質譜分析法術語無機質譜法
無機質譜法（ inorganic mass spectrometry）用質譜儀器對無機元素或無機化合物進行定性定量分析的方法。早期以火花源質譜法、二次離子質譜法為主，隨著電感耦合等離子體質譜法、輝光放電質譜法的成熟，拓寬了無機質譜法的應用領域。在高純氣體、高純材料中痕量雜質分析，無機物元素分析，固體
質譜分析法術語標準物質
標準物質（reference materials，RM）亦稱參考物質。已確定其一種或幾種特性量值，用于校準測量器具、評價測量方法或確定材料特性量值的物質。標準物質是國家計量部門頒布的一種計量標準，具有以下的基本屬性:均勻性穩定性和準確量值。標準物質可以是純的或混合的氣體、液體或固體，也可以是一件制品
質譜分析法術語負離子
負離子（negative ions）帶負電荷的離子，產生于質譜儀的負離子源。
質譜分析法術語放電電離
放電電離（discharge ionization）一種利用放電現象（如電弧、輝光、火花、電暈等）進行離子化的方法。
質譜分析法術語電荷數
電荷數（chargenumber）以電子電量e去除離子的總電荷q得到的值。其整數值用z表示，z＝q/e。
質譜分析法術語電離度
電離度（degree of ionization）泛指液體、氣體或氣溶膠在高溫或高頻電場作用下，生成的離子濃度M+與該體系中仍然存有的自由原子濃度M和生成離子濃度M+之和的比[M+（M＋M+)]。電離度遵從Saha方程，即原子的電離度與原子蒸氣的分壓強、元素原子的電離電位和體系的溫度密切相關。
質譜分析法術語絕對測量
絕對測量（ absolute measurement）絕對測量泛指不依賴任何參照物，在測量過程中有效消除儀器系統誤差，給出具有不確定度測量值的方法。絕對測量值的不確定度依賴于樣品制備、消除儀器系統誤差等系列操作產生的誤差分量和儀器測量精度。
質譜分析法術語功函數
功函數（work function）亦稱逸出功，脫出功。一個電子從金屬或半導體的原子外層逸出時所需要的功，單位伏特。
質譜分析法術語電場掃描
電場掃描（electric field scan）以一定速度運動的離子進入電場后，其運動行為可以用下式描述:式中，m是離子質量；z是電荷；V是離子加速電壓；B是磁場強度；r是離子運動圓周半徑。當磁場強度B和半徑r固定時，改變加速電壓可獲得不同mz的離子軌跡，稱為電場掃描。