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高活性電催化劑(特別是導電性能較差)可通過與導電助劑制備復合材料增強導電性，上述導電助劑包括炭黑、納米碳纖維或超細纖維、石墨碳、rGO、碳納米管以及聚合物等。將電催化材料與導電基底進行整合通常可改善其性能和穩定性，由于將電催化劑直接與導電基底復合確保了電子傳輸通路阻抗較低并減少了電催化劑物理分層的可能性。導電基底和電催化劑之間的電子耦合可以協同提高內在活性。例如，研究人員在鎳銅合金納米顆粒表面包覆厚度可控的純石墨碳層，形成NiCu@C核殼結構納米顆粒，并將其作為全pH范圍的析氫電催化劑。研究表明，碳殼層厚度對NiCu@C核殼結構體系的電催化析氫性能有很大的影響。由單層石墨碳包覆的NiCu納米顆粒在電催化HER中達到了最高的活性和穩定性，在pH為0，7，14的電解質溶液中達到10 mA cm-2的電流密度需要的過電位分別為48，164，74 mV。 鎳銅合金與石墨碳核殼結構用作全pH范圍的析氫電催化劑......閱讀全文
氫能是一種理想的能源載體，開發大規模、廉價、清潔、高效的制氫技術是氫能有效利用的關鍵。電解水由于環境友好、產品純度高以及無碳排放而成為具有應用前景的綠色制氫方法之一。限制電解水制氫大規模應用的最重要瓶頸是如何大幅降低其電能消耗，因而大幅降低制氫成本。其關鍵是發展廉價、易制備的高性能非貴金屬電解水
從晶體管，線路板的誕生之日開始表面阻抗測試SIR/離子遷移測試就成為一個常見的測試工具，我們可以用此工具進行以下的測試：來料檢驗，材料特性檢測和驗證，失效分析，品質一致性檢查，產品壽命的預測分析等。什么是SIR測試在電子制造領域，SIR被認為是評估用戶線路板組裝材料的有效評估手段。SIR測試可以用來
一、樣品處理的要求 掃描電子顯微鏡的優勢為可以直接觀察非常粗糙的樣品表面，參差起伏的材料原始斷口。但其劣勢為樣品必須在真空環境下觀察，因此對樣品有一些特殊要求,籠統的講：干燥，無油，導電。 1 形貌形態，必須耐高真空。 例如有些含水量很大的細胞，在真空中很快被抽干水分，細胞的形態也發生了改
1樣品處理的要求 掃描電子顯微鏡的優勢為可以直接觀察非常粗糙的樣品表面，參差起伏的材料原始斷口。但其劣勢為樣品必須在真空環境下觀察，因此對樣品有一些特殊要求,籠統的講：干燥，無油，導電。 1形貌形態，必須耐高真空。 例如有些含水量很大的細胞，在真空中很快被抽干水分，細胞的形態也發生了改變，
涂層測厚儀涂鍍層測厚儀根據測量原理一般有以下五種類型: 1.磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量.導磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳.此種方法測量精度高 2.渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度低 3.超聲波測厚法:目前國內還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的
涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等） 及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆層的厚度（如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產品
2．元器件影響元器件可靠性的因素如下。（1）高溫影響。某些元器件，如塑料封裝的元器件、電解電容器等，受高的焊接溫度的影響程度要超過其他因素。（2）Sn晶須的影響。Sn晶須是長壽命的高端產品中精細間距元器件更加需要關注的另一個問題。無Pb釬料合金均屬高Sn合金，長Sn晶須的概率比SnPb高得多。通過限
涂鍍層測厚儀相關測試原理及應用 涂鍍層測厚儀根據測量原理一般有以下五種類型:1.磁性測厚法 適用導磁材料上的非導磁層厚度測量.導磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳.此種方法測量精度高2.渦流測厚法 適用導電金屬上的非導電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度低3.超聲波測厚法 目
鏡面式冷鏡式露點儀圖冊不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會結露。采用光電檢測技術，檢測出露層并測量結露時的溫度，直接顯示露點。鏡面制冷的方法有：半導體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。鏡面式露點儀采用的是直接測量方法，在保證檢露準確、鏡面制冷高效率和精密測量結露溫度前提下，該種露點儀可作為標準露點儀
不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會結露。采用光電檢測技術，檢測出露層并測量結露時的溫度，直接顯示露點。鏡面制冷的方法有:半導體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。鏡面式露點儀采用的是直接測量方法，在保證檢露準確、鏡面制冷率和精密測量結露溫度前提下，該種露點儀可作為標準露點儀使用。目前國際上zui高精