ICPMS的干擾——基體酸干擾
基體酸干擾 必須指出，HCl 、HClO4、H3PO4和H2SO4將引起相當大的質譜干擾。Cl+ 、P+ 、S+離子將與其他基體元素Ar+ 、O+ 、H+結合生成多原子，例如35Cl 40Ar對75As 、35Cl 16O對51V的疊加干擾。因此在ICP-MS的許多分析中避免使用HCl 、HClO4 、H3PO4和H2SO4是至關重要的，但這是不可能的。克服這個問題的方法有：“碰撞池技術”、在試樣導入ICP之前使用色譜（微栓）分離、電熱蒸發（ETV）技術等，另外一個比較昂貴的選擇是使用高分辨率的扇形磁場的ICP-MS，它具有分辨小于0.01amu的能力，可以清除許多質譜的干擾。 ICP-MS分析用的試液通常用硝酸來配制。......閱讀全文
ICPMS的干擾——基體酸干擾
基體酸干擾 必須指出，HCl?、HClO4、H3PO4和H2SO4將引起相當大的質譜干擾。Cl+?、P+?、S+離子將與其他基體元素Ar+?、O+?、H+結合生成多原子，例如35Cl?40Ar對75As?、35Cl?16O對51V的疊加干擾。因此在ICP-MS的許多分析中避免使用HCl?、HClO4
ICPMS的干擾——基體效應
基體效應 試液與標準溶液粘度的差別將改變各個溶液產生氣溶膠的效率，采用基體匹配法或內標法可有效地消除。
ICP光譜儀光源的基體效應
基體效應是指試樣主要成分變化對分析線強度和有關光譜背景的影響，它是ICP光譜干擾效應的一種。基體效應的產生實際上是各種干擾效應的總和。基體效應的特點：1 基體效應的存在可造成分析線強度的增加或降低，增加譜線強度的基體干擾稱曾敏效應，降低者稱為抑制效應。2 基體與干擾元素（基體）種類有關，也與基體含量
ICP光譜儀分析中基體干擾的機理及消除方法
ICP光源由于ICP溫度高和電子數密度高的原因，基體效應較小。但是，對于基體成分復雜的樣品，當基體含量與待測元素濃度相差很大時，將會產生各種干擾效應，使ICP光譜儀分析檢測限提高，選擇性變差。所謂基體效應主要指共存組分對分析元素信號的影響，只有當基體與待測組分共存時才表現出來，不具有加和性。基體效應
副基體
中文名稱副基體英文名稱parabasal body定 義某些寄生性鞭毛蟲中近核處與動基體結合的一種結構。應用學科細胞生物學（一級學科），細胞結構與細胞外基質（二級學科）
基體厚度
磁性測厚儀測量精度不準因素有哪些？磁性測厚儀測量精度不準因素主要有：基體金屬磁性、基體厚度、邊緣效應、曲率、表面粗糙度、外界磁場、附著物質、測頭壓力、測頭位置、試樣的變形等。⒈ 基體金屬磁性磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理及冷加工因
EPA－3052:1996－硅酸和有機基體的微波輔助酸消解
一：ICP-AES（或ICP-OES）?ICP（Inductive Coupled Plasma）電感耦合高頻等離子光源。OES是Optical Emission SpectrometerAES是Atomic Emission Spectroscopy兩者都是指電感耦合等離子體原子發射光譜，因為俄歇
ICP光源的電離干擾、化學干擾和基體干擾相對較小的原因
試樣引入ICP光源的主要方式有：霧化進樣（包括氣動霧化和超聲霧化進樣）、電熱蒸發進樣、激光或電弧和火花熔融進樣，對于特定元素還可以采用氫化物發生法進樣。其中，以氣動霧化方式最為常用。原因包括（1）樣品在ICP光源中的原子化與激發是在惰性氣體Ar的氛圍進行的，因此不容易氧化電離；（2）樣品的原子化與激
高純金屬基體的ICPOES分析，Avio分析金屬鎳中的雜質
倫敦金屬交易所(London Metal Exchange,LME)是世界上最大的有色金屬交易所，成立于 1876 年，于 2012 年被香港證券交易所英鎊收購，成為其全資附屬公司。倫敦金屬交易所的交易品種主要有銅、鋁、鉛、鋅、鎳和鋁等，發布的成交價格被廣泛作為世界金屬貿易的基準價格，其價格
有色金屬質量控制系列：高純金屬基體的ICPOES分析
倫敦金屬交易所有色金屬質量控制系列（3）高純金屬基體的ICP-OES分析?我們在1月份連續推出了《倫敦金屬交易所有色金屬質量控制系列 —— 高純基體金屬的 ICP-OES 分析》（1）Avio 500 分析金屬鎳中的雜質和（2）Avio 500 分析金屬鉛中的雜質，介紹了倫敦金屬交易所對金屬鎳和鉛中
合金基體比例
合金基體比例是值集體在成品中所占比例。查詢相關資料顯示，基體是在金屬材料中，指主要相或主要聚集體，即復相合金的主要組分。在熱噴涂工藝中，用來沉積熱噴涂層的物體稱為基體。根據結構特點不同，可將合金中的相分為固溶體和金屬化合物兩類。合金中固溶體是基體相，化合物相組成物的硬度值和強值遠高于基體相，因而稱之
光譜儀測定案例ICPAES測定鐵基體中－26種痕量元素
在電感耦合等離子體原子發射光譜分析中.分析線常會受到其它元素的光譜干擾，特別 是在富線基體下的痕量元素分析，光譜干擾尤為嚴重，因而受到較多重視以鐵為基體的 雜質元素分析在鋼鐵工業中具有意義,歷來受 到冶金工業者的關注。鐵又是至今報道光譜線 較多的元素之一,對于icp多色儀系■統，幾乎 每條譜線都不能
實驗室分析儀器ICP儀重要基體效應及其處理方法
造成基體效應主要有五種原因，即物理效應、化學干擾、電離效應、光譜背景影響及激發干擾。在光譜分析實踐中有些干擾效應并不嚴重，在優化分析條件下它們的影響可以考慮，例如化學干擾，在較高高頻功率和較低載氣條件下化學干擾可以忽略，在高溫等離子體條件下，生成的難溶化合物也能有效地原子化。這里重點講經常會遇到的基
實驗室分析儀器ICP儀抑制鹽基體效應的方法
1、基體匹配法基體匹配法是在配制標準溶液系列時，加入與分析樣溶液相同量的基體，使標準溶液系列主要成分與分析樣相同或相近。2、標準加入法分析較高純度樣品時，基體匹配法需要有高純基體，一般要比分析樣純度高1~2個數量級，有時難以得到高純基體，這時可用標準加入法。標準加入法，不需要用基體。3、化學分離基體
不同基體改進劑對ICPMS法測量血清中甲胎蛋白的影響
血清中甲胎蛋白（AFP）的準確測量對于癌癥的臨床診斷和治療具有重要意義。電感耦合等離子體質譜法（ICPMS）具有靈敏度高、檢出限低、多元素同時檢測等優點，但用于血清中低豐度蛋白的檢測時，檢出限常不及熒光檢測法，因此，提高ICPMS免疫分析測量低豐度蛋白質時的靈敏度具有重要意義。本研究發現，增強液能很
實驗室分析儀器ICP應用測定鐵基體中－26種痕量元素
在電感耦合等離子體原子發射光譜分析中.分析線常會受到其它元素的光譜干擾，特別 是在富線基體下的痕量元素分析，光譜干擾尤為嚴重，因而受到較多重視以鐵為基體的 雜質元素分析在鋼鐵工業中具有意義,歷來受 到冶金工業者的關注。鐵又是至今報道光譜線 較多的元素之一,對于icp多色儀系■統，幾乎 每條譜線都不能
高尓基體的成分
（Golgi apparatus，Golgi complex） 亦稱高爾基復合體、高爾基器。是真核細胞中內膜系統的組成之一。為意大利細胞學家高爾基Golgi于1898年首次用銀染方法在神經細胞中發現。是由光面膜組成的囊泡系統，它由扁平膜囊（saccules）、大囊泡（vacuoles）、小囊泡（ve
什么叫基體改進
一、基體改進技術所謂基體改進技術，就是往石墨爐中或試液中加入一種化學物質，使基體形成易揮發化合物在原子化前驅除，從而避免待測元素的揮發；或降低待測元素的揮發性以防止灰化過程中的損失。隨著研究和應用工作的深入和發展，基體改進劑在控制和消除背景吸收、灰化損失、分析物釋放不完全、分析物釋放速率的變化、難解
什么是高爾基體？
高爾基體是由單位膜構成的扁平囊疊加在一起所組成。扁平囊為圓形，邊緣膨大且具穿孔。一個細胞內的全部高爾基體，總稱為高爾基器。一個高爾基體常具5——8個囊，囊內有液狀內含物。[1] 高爾基體（Golgi apparatus，Golgi complex）亦稱高爾基復合體、高爾基器。是真核細胞中內膜系
什么是高爾基體？
高爾基體，是在大多數真核細胞中發現的細胞器。細胞質內膜系統的一部分，它將蛋白質包裝到細胞內的膜結合小泡中，然后小泡被送到目的地。它位于分泌、溶酶體和內吞的交匯處途徑。它在加工蛋白質以進行分泌時特別重要，它包含一組糖基化酶，當蛋白質通過該裝置時，這些糖基化酶將各種糖單體連接到蛋白質上。它于1897年由
高爾基體的結構
1、順面膜囊 (cis Golgi)接受來自內質網新合成的物質并將其分類后大部分轉入高爾基體中間膜囊，小部分蛋白質與脂質再返回內質網（駐留在內質網上）。其他如：蛋白的O-連接，跨膜蛋白的酰基化，日冕病毒的裝配也是在此。 2、中間膜囊（medial Golgi）多數糖基化修飾、糖脂的形成、多糖的
高爾基體的病變
1、高爾基體肥大。高爾基體肥大見于細胞的分泌物和酶的產生旺盛時。巨噬細胞在吞噬活動旺盛時，可見形成許多吞噬體、高爾基復合物增多并從其上斷下許多高爾基小泡。 2、高爾基體萎縮。在各種細胞萎縮時可見高爾基體變小和部分消失。 3、高爾基體損傷。大多出現扁平囊的擴張以及扁平囊、大泡和小泡崩解。
高爾基體的歷史
高爾基體（Golgi apparatus, Golgi bodies）是由許多扁平的囊泡構成的以分泌為主要功能的細胞器。又稱高爾基器或高爾基復合體；在高等植物細胞中稱分散高爾基體。最早發現于1855年，1898年由意大利神經學家、組織學家卡米洛·高爾基（Camillo Golgi，1844-19
ICP光譜儀分析中的物理干擾及消除
等離子體光譜法（ICP-OES）近年在實驗室應用越來越廣泛，對等離子體分析法的研究也越來越多，對等離子體光譜法的干擾也越來越多，本文簡單介紹一下ICP光譜儀分析中的物干擾。?溶液物理性質不同導致的干擾效應稱為物理干擾，又稱為物性干擾，主要是由分析樣品的溶液黏度、表面張力以及密度差異引起譜線強度的變化
ICPAES樣品制備無機酸的選用
通常用來分解樣品的無機酸有硝酸、鹽酸、氫氟酸、高氯酸、硫酸、磷酸等。硫酸與磷酸介質的粘滯性會在樣品的傳輸中產生影響，且他們的沸點較高，難以蒸干除去（磷酸在受熱時逐步形成焦磷酸、三聚及多聚磷酸）。它們雖然具有很強的分解能力，能分解一些礦物、合金、陶瓷等物質，但它們主要應用于化學分析工作中，而在ICP—
ICPAES酸溶制樣方法是什么？
準確稱取0.05~0.2g，置于燒杯中加入適量的酸，一定溫度加熱至樣品完全溶解，取下冷卻至室溫，轉移至容量瓶內，ICP-MS測試需加入內標溶液，稀釋至刻度，混勻，待測；隨同試樣做試劑空白。
化學方法分析高純金屬純度質譜法
電感耦合高頻等離子體質譜法( ICP-MS) ICP ?-MS技術是20世紀80年代發展成熟起來的一種痕量、超痕量多元素同時分析技術。ICP-MS 綜合了等離子體極高的離子化能力和質譜的高分辨、高靈敏度及連續測定多元素的優點, 檢出限低至(0.001～0.1) ng/ml ,測定的線性范圍寬達
ICPAES和ICPOES有什么區別
區別：1、測量對象ICP-MS測量的是離子質譜，提供在3～250 amu范圍內每一個原子質量單位(amu)的信息，ICP-MS除了元素含量測定外，還可測量同位素。ICP-OES測量的是光學光譜(165～800nm)2、干擾ICP-MS的干擾:質譜干擾、基體酸干擾、雙電荷離子干擾、基體效應、電離干擾、
一般樣品處理
ICP-AES中樣品的分解、制備 ICP-AES的前期樣品分解與處理、制備 ICP的方式有固、液、氣三種，其中固體進樣有電弧，電火花、激光等燒蝕生成氣溶膠(比如：SSEA)，氣體進樣有氫化物發生器，現在廣泛采用的是液體進樣。ICP-AES的干擾及處理： 1、物理因素干擾：包括溶液的粘度、
ICPOES在環境樣品預處理時要注意哪些問題
一般樣品處理：ICP-OES的前期樣品分解與處理、制備ICP的方式有固、液、氣三種，其中固體進樣有電弧，電火花、激光等燒蝕生成氣溶膠（比如：SSEA），氣體進樣有氫化物發生器，現在廣泛采用的是液體進樣。ICP-OES的干擾及處理：1、物理因素干擾：包括溶液的粘度、比重及表面張力等影響霧化效率的因素。