EDXLE能量色散型X射線熒光分析裝置

　　EDX-LE是一款專用于RoHS/ELV/法規限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷(Si-PIN檢測器)檢測器，因此在實現降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標。 根據不同樣品從開始測試到得到結果所需測試時間基本上可在1分鐘內完成，所以完全可以應對RoHS法規中所限制的有害元素的篩選分析。另外，zei近幾年在眾多企業中實施的自行檢測有害元素Cl的檢測分析，該款裝置也可以通過篩選分析簡單的檢測出來。同時推薦該裝置作為中國版RoHS第二階段應對手段。

　　主要特點：

　　利用“篩選分析”畫面，操作簡單方便

　　從主成分判定到條件選擇全部實現自動處理

　　標準配備了RoHS/ELV分析所需要的必要功能

　　擁有大容量樣品室，可以直接測定大型樣品

　　配備電子制冷檢測器，將日常維護量控制到zei小程度

　　配備保護功能，限制條件或數據的變更

　　配備篩選輕松設定功能，能夠根據管理方法輕松自定義

　　主要規格

　　測定對象：固體、液體、粉狀

　　測定范圍：13^AL~90^U

　　樣品室尺寸：zei大370(W)×320(D)×約155(H)mm

　　X射線發生部

　　X射線管：Rh靶

　　電壓：5~50kV

　　電流：1~1000μA

　　冷卻方式：風冷(附風扇)

　　照射面積：3、5、10mm(直徑)四種切換

　　一次濾光片：5種(含OPEN6種)自動切換

　　檢測器

　　檢測器類型：Si-PIN半導體檢測器

　　數據處理部

　　內存：512M以上

　　HDD：40GB

　　分辨率：1024*768以上

　　OS：windowsVISTA

　　環境設置

　　溫度條件：10~30℃(溫度變化在2℃以內)

　　濕度條件：40~70%(不結露)