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  • 光電比較儀的功能介紹

    中文名稱光電比較儀英文名稱photoelectric comparator定 義一種光電式線紋比較儀器,用兩只光電顯微鏡分別對基準刻度尺和被檢刻度尺進行瞄準和讀數。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),光學計量儀器(三級學科)......閱讀全文

    光電比較儀的功能介紹

    中文名稱光電比較儀英文名稱photoelectric comparator定  義一種光電式線紋比較儀器,用兩只光電顯微鏡分別對基準刻度尺和被檢刻度尺進行瞄準和讀數。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),光學計量儀器(三級學科)

    光電比較儀的功能介紹

    中文名稱光電比較儀英文名稱photoelectric comparator定  義一種光電式線紋比較儀器,用兩只光電顯微鏡分別對基準刻度尺和被檢刻度尺進行瞄準和讀數。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),光學計量儀器(三級學科)

    線紋比較儀器的功能介紹

    中文名稱線紋比較儀器英文名稱linear comparator定  義檢定刻度尺上刻度線位置誤差的光學計量儀器,通常按瞄準方式可分為目視式和光電式。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),光學計量儀器(三級學科)

    線紋比較儀器的功能介紹

    中文名稱線紋比較儀器英文名稱linear comparator定  義檢定刻度尺上刻度線位置誤差的光學計量儀器,通常按瞄準方式可分為目視式和光電式。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),光學計量儀器(三級學科)

    激光線性比較儀的功能介紹

    中文名稱激光線性比較儀英文名稱laser linear comparator定  義以穩頻激光波長作為長度基準測量分劃尺的分劃線位置誤差的儀器。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),激光器件和激光設備-激光應用(三級學科)

    激光線性比較儀的功能介紹

    中文名稱激光線性比較儀英文名稱laser linear comparator定  義以穩頻激光波長作為長度基準測量分劃尺的分劃線位置誤差的儀器。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),激光器件和激光設備-激光應用(三級學科)

    比較儀的相關介紹

      比較儀(comparator)利用相對法進行測量的長度測量工具,主要由測微儀和比較儀座組成。測量時,先用量塊研合組成與被測基本尺寸相等的量塊組,再用此量塊組使測微儀指針對零,然后換上被測工件,測微儀指針指示的即為被測尺寸的偏差值。

    臥式光學比較儀和影屏式光學比較儀的相關介紹

      1、臥式光學比較儀:又稱臥式光學計,其工作原理與立式光學計相同,測量范圍為0~500毫米,適用于在計量室測量較大的或在立式光學計上不易定位的工件,如圓盤等,也常利用測孔附件測量孔徑。  2、影屏式光學比較儀:又稱投影光學計,其光學系統與立式光學計相似,但刻度尺影像經投影放大透鏡放大后成象于影屏上

    光電式長度計的功能介紹

    中文名稱光電式長度計英文名稱photoelectric length meter定  義采用光電敏感元件,測量并顯示物體長度的儀表。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),光學計量儀器(三級學科)

    光電發射器件功能介紹

    光電發射陰極光電發射陰極是光電發射探測器中的光電發射體,是完成光電轉換的重要部件,主要作用是吸收光子能量發射光電子,它的性能好壞直接影響整個光電發射器件的性能。主要特性參數:1.靈敏度;2.量子效率(量子效率和光譜靈敏度是一個物理量的兩種表示方法);3.光譜響應(用光譜響應特性曲線描述光電發射陰極的

    機械式比較儀的相關介紹

      和百分表和千分表、杠桿齒輪式測微儀或扭簧測微儀等機械式指示表作為放大、指示部件。杠桿齒輪式測微儀的工作原理與百分表和千分表相似。但第1級放大機構是杠桿,其分度值通常為1微米。扭簧測微儀是一種具有無機械摩擦放大機構的指示表(圖 [扭簧測微儀工作原理].它的主要放大元件是一根從中間起一端向右扭曲,另

    光電式長度計的的功能介紹

    中文名稱光電式長度計英文名稱photoelectric length meter定  義采用光電敏感元件,測量并顯示物體長度的儀表。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),光學計量儀器(三級學科)

    電學比較儀

      常用電感式或電容式測微儀(見長度傳感器)作為放大、指示部件。圖4 [數字顯示電感式比較儀]是數字顯示的電感式比較儀,其分辨率有1微米、0.1微米和0.01微米等幾好種。

    光學比較儀

      利用光學測微儀作為放大指示部件。常見的有立式、臥式和影屏式 3種。  ①立式光學比較儀:又稱立式光學計,圖3[光學測微儀的光學系統]為光學測微儀的光學系統。它是按自準直原理(見自準直儀)設計的。分劃板位于物鏡焦平面上,平面反射鏡按杠桿原理設置。當測桿上下移動時,平面反射鏡繞支點轉動一個很小角度,

    光電直讀光譜儀的功能介紹

    光電直讀光譜儀是指應用光電轉換接收方法作多元素同時分析的發射光譜儀器。由于電感耦合高頻等離子體光源的廣泛使用,使光電直讀光譜儀在光譜儀中占有主要地位。

    光電顯微鏡的功能介紹

    中文名稱光電顯微鏡英文名稱photoelectric microscope定  義應用光電裝置進行精確瞄準、定位或測量的顯微鏡。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),光學計量儀器(三級學科)

    光電顯微鏡的功能介紹

    中文名稱光電顯微鏡英文名稱photoelectric microscope定  義應用光電裝置進行精確瞄準、定位或測量的顯微鏡。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),光學計量儀器(三級學科)

    光電直讀光譜儀的功能介紹

    光電直讀光譜儀是指應用光電轉換接收方法作多元素同時分析的發射光譜儀器。由于電感耦合高頻等離子體光源的廣泛使用,使光電直讀光譜儀在光譜儀中占有主要地位。

    立式光學比較儀的簡介

      又稱立式光學計,[光學測微儀的光學系統]為光學測微儀的光學系統。它是按自準直原理(見自準直儀)設計的。分劃板位于物鏡焦平面上,平面反射鏡按杠桿原理設置。當測桿上下移動時,平面反射鏡繞支點轉動一個很小角度,由平面反射鏡反射回去的光線,經直角棱鏡后成象在分劃板上的刻度尺象發生偏移。偏移量的大小與測桿

    光電比色計的構件及功能介紹

    光電比色計由光源、濾光片、比色皿、光電檢測器、放大和顯示等六部分組成。光源在光電比色測定中,光源強度保持不變是獲得準確測定結果的重要因素,因此,光電比色計附有使電源電壓穩定的裝置(穩壓器)。它的作用是穩定光源,使之不受外界電壓變化的影響。濾光片濾光片的作用是只讓一定波長范圍的光透過,而將其余不需要的

    立式光學比較儀概述

      立式光學比較儀是一種精度較高而結構簡單的常用光學量儀。用量塊作為長度基準,按比較測量法來測量各種工件的外尺寸。  1-底座 2-立柱 3-橫臂升降螺母 4、11、12-緊固螺釘 5-橫臂 6-直角光管 7-上下偏差調整螺釘 8-目鏡  9-反光鏡 10-零調螺釘面 13-偏心手輪 14-測頭 1

    機械式比較儀

      和百分表和千分表、杠桿齒輪式測微儀或扭簧測微儀等機械式指示表作為放大、指示部件。杠桿齒輪式測微儀的工作原理與百分表和千分表相似。但第1級放大機構是杠桿,其分度值通常為1微米。扭簧測微儀是一種具有無機械摩擦放大機構的指示表(圖 [扭簧測微儀工作原理].它的主要放大元件是一根從中間起一端向右扭曲,另

    光電池的相關功能特性

      電源  直流電源可以分為電流電源,電壓電源,光電池的特性很接近理想電流電源的特性,可以認為是理想電流電源。  電池  A. 單層光電池(Single-layer Solar Cell):  光電池像“三明治(Sandwich)",外兩層是保護層,中間的一層是主體,由  硅(Silicon)物質組

    光電直讀光譜儀的功能特點

    光電直讀光譜儀是指應用光電轉換接收方法作多元素同時分析的發射光譜儀器。由于電感耦合高頻等離子體光源的廣泛使用,使光電直讀光譜儀在光譜儀中占有主要地位。

    光電直讀光譜儀的功能特點

    在工業生產中,由于光電直讀光譜儀分析費用節省,分析速度快,分析結果可靠,已被廣泛采用。它具有以下優點。(1)用光電直讀光譜儀做分析,可使用的譜線波長范圍較寬。這個范圍由光電倍增管的性能決定。例如,用石英窗孔的PMT,加上光譜儀的光學系統置于真空中,可用的波長可短至150nm。這就可能利用位于波段中的

    光電子像的定義和功能

    中文名稱光電子像英文名稱photoelectronic image定  義在發射電子顯微鏡中,用樣品在光輻射條件下發射的光電子所成的像。應用學科機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),電子光學儀器-電子光學儀器一般名詞(三級學科)

    光電距儀的功能特點及應用

    光電距儀光電測距儀按照測距方法,又分為相位法測距儀和脈沖測距儀兩種。脈沖測距儀是利用向目標物體發射一束光,測定目標物將光反射回來的時間,從而計算出儀器與目標物的距離,由于激光具有良好的方向性、單一的波長,所以是光電測距儀一般使用激光作為調制對象,所以脈沖式測距儀又被俗稱為激光測距儀。利用脈沖法測距的

    光電自準直儀的功能及技術特點

    通過LED發光元件和線陣CCD成像技術設計而成。由內置的高速數據處理系統對CCD信號進行實時采集處理,同時完成兩個維度的角度測量。ELP光電自準直儀采用模塊化設計技術,由光學系統、光電轉換系統、數據處理系統組成。通過光學成像系統測量被測平面角度的變化,由光電轉換系統敏感光學信號并將其轉換為電信號供后

    X光電鍍測厚儀使用及功能

    檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...可測單層,雙層,多層,合金鍍層,測量范圍:0.04-35um測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度全自動臺面,操作非常方便簡單XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性

    光電自動數粒儀功能詳解

    光電自動數粒儀又叫做數粒儀,是專門用來對水稻、小麥等大小粒子進行數數的一款儀器。它有三種型號,分別是SLY-A光電自動數粒儀、SLY-B數粒儀、SLY-C數粒儀。 每種型號對應不同的測試對象,如SLY-A光電自動數粒儀,專數水稻小麥(中粒),油菜,蔬菜,花卉,煙草(小粒)等中小粒種子;SLY-B光電

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