電感耦合等離子體質譜分析技術及應用培訓班通知
中儀標化電感耦合等離子體質譜分析技術及應用培訓班6月23日將于長沙舉辦 中儀標化(北京)技術咨詢中心,是專業從事光譜、色 譜、質譜等儀器分析培訓、實驗室培訓、高級化學檢驗員培訓的專業培訓機構。 是中國分析測試協會、中國儀器儀表學會分析儀器學會團體會員單位,國家質檢總局質量技術監督行業國家資格取證委托培訓單位。中儀標化目前已在全國各地成功 舉辦100多期相關培訓班,每年培訓來自全國各地儀器分析測試人員及實驗室管理人員近千名。 中儀標化將于2014年6月23日長沙再次舉辦“電感耦合等離子體質譜分析技術及應用”高級培訓班,邀請李冰研究員、劉麗萍研究員兩位專家系統地講授ICP質譜技術及在各領域的應用。 【培訓詳情】 培訓時間:2014年6月 23日-6月28日 培訓地點:長沙 培訓對象:各企事業單位負責化學分析及ICP質譜儀器的負責人及工程技術人員 授課專家: 李 冰 研究員 博士生導師,國家地質實驗中心。......閱讀全文
電感耦合等離子質譜工作原理
質譜分析法主要是通過對樣品的離子的質荷比的分析而實現對樣品進行定性和定量的一種方法。因此,質譜儀都必須有電離裝置把樣品電離為離子,有質量分析裝置把不同質荷比的離子分開,經檢測器檢測之后可以得到樣品的質譜圖,由于有機樣品,無機樣品和同位素樣品等具有不同形態、性質和不同的分析要求,所以,所用的電離裝置、
電感耦合等離子質譜工作原理
質譜分析法主要是通過對樣品的離子的質荷比的分析而實現對樣品進行定性和定量的一種方法。因此,質譜儀都必須有電離裝置把樣品電離為離子,有質量分析裝置把不同質荷比的離子分開,經檢測器檢測之后可以得到樣品的質譜圖,由于有機樣品,無機樣品和同位素樣品等具有不同形態、性質和不同的分析要求,所以,所用的電離裝置、
電感耦合等離子體-質譜要點講解
1 前言 電感耦合等離子體質譜(ICP-MS)由于分析速度快、線 性范圍寬、可多元素測定、檢出限低等優點,被廣泛地應用于生物與醫學、環境與食品、地質、化學反應的機理研究、鋼鐵、同位素比測定、核材料、貴金屬和高純物質分析等領域。關于ICP-MS做半定量分析的應用報道也較多。ICP-MS用作半定量
了解ICP電感耦合等離子體光譜質譜
ICP電感耦合等離子體 (Inductively Coupled Plasma)一般指電離度超過0.1%被電離了的氣體,這種氣體不僅含有中性原子和分子,而且含有大量的電子和離子,且電子和正離子的濃度處于平衡狀態,從整體來看是中性的。?有時人們在口語中,常以“ICP”作為簡稱來代替“ICP-OES和I
大咖直播間之原子光譜系列講座:電感耦合等離子體質譜
原子光譜分析方法是微量及痕量元素定性和定量檢測的主要手段之一,它在各個領域中均有廣泛的研究與應用。清華大學邢志老師精心策劃的“原子光譜法”系列講座將為大家講解無機元素分析方面的知識,邢老師在前幾期的講座中為大家介紹了原子吸收光譜法、原子發射光譜法的原理及應用的發展、無機樣品前處理中需要注意的問題
有機質譜、X射線熒光、電感耦合等離子體質譜培訓會召開
為促進西部地區分析測試科學技術的進步,提高西部地區分析測試技術人員的專業技能,2015年7月13日-14日,由中國分析測試協會委托中國分析測試協會青年學術委員會主辦,寧夏分析測試中心承辦,寧夏回族自治區地質礦產中心實驗室協辦的中國分析測試協會第六屆青年學術委員會全體學術委員會議暨學術交流會議和
電感耦合等離子體-質譜(ICP-MS)要點講解
1 前言電感耦合等離子體質譜(ICP-MS)由于分析速度快、線 性范圍寬、可多元素測定、檢出限低等優點,被廣泛地應用于生物與醫學、環境與食品、地質、化學反應的機理研究、鋼鐵、同位素比測定、核材料、貴金屬和高純物質分析等領域。關于ICP-MS做半定量分析的應用報道也較多。ICP-MS用作半定量分析時可
質譜及質譜的目的
質譜,是一種分析方法,原理就是讓帶電原子、分子或分子碎片按質荷比的大小順序排列,打出相應的譜線。待分析的樣品分子在離子源中離化成具有不同質量的單電行分子離子和碎片離子,這些單電荷離子在加速電場中獲得相同的動能并形成一束離子,進入由電場和磁場組成的分析器中;其中離子束中速度較慢的離子通過電場后編轉大,
氣體分析質譜質譜原理
? ? 質譜儀配備QuaderaTM 分析軟件, 操作簡單, 功能強大, 有128 個檢測通道,可生成用戶特殊應用軟件界面. 在參數設置, 多種實測方式, 譜庫, 數據統計, 譜圖放大, 光標, 輸入輸出模塊等性能的支持下, 可以更方便地進行定性定量分析以及在線離線分析.? ? ?Omnistar/
實驗室分析儀器--電感耦合等離子體質譜質譜干擾
ICP-MS中的干擾可分為兩大類:“ 質譜干擾”和“非質譜于擾”或稱為“基體效應”。質譜干擾是 ICP-MS中見到的最嚴重的干擾類型,通常對分析物離子流測量結果產生正誤差。可進一步分為:同量異位素重疊干擾;多原子離子干擾;難熔氧化物干擾;雙電荷離子干擾。第二種類型的干擾大體可分為:抑制和增強效應;由