離子探針質量顯微分析儀
離子探針質量顯微分析儀ion microprobe mass analyzer以聚焦很細(1～2微米)的高能(10～20千電子伏)一次離子束作為激發源照射樣品表面，使其濺射出二次離子并引入質量分析器，按照質量與電荷之比進行質譜分析的高靈敏度微區成分分析儀器，簡稱離子探針。簡史 應用離子照射樣品產生二次離子的基礎研究工作*初是R.H.斯隆(1938)和R.F.K.赫佐格(1949)等人進行的。1962年R.卡斯塔因和G.斯洛贊在質譜法和離子顯微技術基礎上研制成了直接成像式離子質量分析器。1967年H.利布爾在電子探針概念的基礎上，用離子束代替電子束,以質譜儀(見質譜法)代替X射線分光計研制成掃描式離子探針質量顯微分析儀。儀器 主要包括四部分：①能夠產生加速和聚焦一次離子束的離子源;②樣品室和二次離子引出裝置;③能把二次離子按質荷比分離的質量分析器;④二次離子檢測和顯示系統及計算機數據處理系統等(見圖[離子探針質量顯微分析儀])。應......閱讀全文
離子探針方法
離子探針方法是將質譜測定技術與離子發射顯微鏡技術相結合的現代儀器分析方法。能提供一般質譜分析所不能提供的試樣微區質譜。由于它能對固體物質作微區、微量及深度成分分析，在某些條件下檢測靈敏度可達ppb數量級，因此被廣泛地應用于半導體、冶金、地質和生物研究等部門。其原理是利用聚焦的高能一次離子束轟擊試樣表
離子探針原理
離子探針(IMA)的基本原理是，用高能負氧離子轟擊樣品表面，測定被飛濺活化出來并發生電離的原子（即離子）的同位素組成，以獲得年齡。為一種得到迅猛發展的新型質譜計，它具有許多其他測年方法所沒有的優點：不需要化學處理；具有高的分辨率，可同時獲得幾組年齡以確定被測對象同位素體系是否封閉，有無鉛丟失；可對樣
鈣離子熒光探針：比值型熒光探針
前面我們介紹了熒光指示劑法可以將Ca2+檢測的實驗與其他技術結合使用，如可以與流式細胞儀、熒光分光光度計、或者熒光顯微鏡進行聯合檢測 。紫外光型主要包括Quin-2、Indo-1、Fura-2等，數量較少，可見光型數目較多，包括Fluo-3、鈣黃綠素、Rhod-2等。熒光指示劑根據測光原理和數據
北京離子探針中心離子探針質譜儀器研發進入攻堅階段
2010年1月16-17日，由北京離子探針中心主辦的“2009北京SHRIMP成果報告會”在京隆重舉行。中國科學院多位院士、政府相關部門負責人以及來自全國各地的地學界同仁等約100人出席了開幕式。自2002年起，一年一度的“北京SHRIMP成果交流會”已經成為中國地學界同仁們進行學術交
離子探針分析儀特點
離子探針分析儀有以下幾個特點：1. 由于離子束在固體表面的穿透深度（幾個原子層的深度）比電子束淺，可對這樣的極薄表層進行成份分析。2. 可分析包括氫、鋰元素在內的輕元素，特別是氫元素，這種功能是其它儀器不具備的。3. 可探測痕量元素（～50×10-9，電子探針的極限為～0.01%）。4. 可作同位素
離子探針分析儀應用
目前可以應用于下列五個方面的分析研究：1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同位素的深度濃度 分布最有效的表面分析工
離子探針分析儀應用
離子探針分析儀應用由于SISM的特點，目前可以應用于下列五個方面的分析研究：1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同
離子探針分析儀簡介
離子探針分析儀，即離子探針（Ion Probe Analyzer，IPA），又稱二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加速并聚焦成細小的高能離子束轟擊樣品表面，使之激發和濺射二次離子，經過加速和質譜分析，分析區域可
離子探針分析儀器組成
離子探針主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次離子的記錄和顯示系統。前兩者處于壓強〈10-7Pa的真空室內。其結構原理如圖所示。 ① 一次離子發射系統 一次離子發射系統由離子源（或稱離子槍）和透鏡組成。離子源是發射一次離子的裝置，通常是用幾百伏特的電子束轟擊氣體分子（如惰性氣體氦、氖
同位素質譜儀和離子探針
同位素質譜儀 同位素質譜分析法的特點是測試速度快，結果精確，樣品用量少（微克量級）。能精確測定元素的同位素比值。廣泛用于核科學，地質年代測定，同位素稀釋質譜分析，同位素示蹤分析。 離子探針 離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測射出原子及分子的二次離子，在磁場中按質荷比（m