掃描電鏡及能譜在機械零部件中的應用
掃描電鏡及相應附件已成為機械零部件研究和生產過程中發現問題的有利手段。隨著掃描電鏡分辨率及自動化程度的提高以及附件裝置的增多。在SEM下可完成越來越多的材料分析表征工作。因此，充分利用掃描電鏡的優勢將為汽車、機械裝備的大發展、大創新做出巨大的貢獻。1、掃描電子顯微鏡和能譜儀的原理掃描電鏡是由電子槍發射電子束，通過電子束轟擊試樣，使試樣表面激發出物理信號，通過收集這些物理信號而獲得圖像。掃描電鏡樣品尺寸范圍較大，一般可配備直徑為15Cm的樣品臺。樣品制備比較簡單，經清洗即可，樣品在樣品室內可以作三維空間平移及90°內旋轉，可多角度觀察樣品，有利于分析斷裂形狀不規則的樣品，景深大，圖像立體感強，圖像放大范圍.能譜儀是通過高能量電子束照射樣品，樣品原子受激發產生特征X射線，通過收集X射線的特征能量確定元素類型。能譜儀可以同時探測多種元素，分析速度快，能在幾分種內對10～11個元素進行定量和定性分析。2、實際應用2.1 鋼的金相組織觀察......閱讀全文
掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年以后才迅速發展起來的新型電子儀器。其主要特點可歸納為：①儀器分辨率高；②儀器的放大倍數范圍大，一般可達15～180000倍，并在此范圍內連續可調；③圖像景深大，富有立體感；④樣品制備簡單，可不破壞樣品；⑤在SEM上裝上必要的專用附件——能譜儀(EDX)，以實現一機
掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年以后才迅速發展起來的新型電子儀器。其主要特點可歸納為：①儀器分辨率高；②儀器的放大倍數范圍大，一般可達15～180000倍，并在此范圍內連續可調；③圖像景深大，富有立體感；④樣品制備簡單，可不破壞樣品；⑤在SEM上裝上必要的專用附件——能譜儀(EDX)，以實現一機
掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年以后才迅速發展起來的新型電子儀器。其主要特點可歸納為：①儀器分辨率高；②儀器的放大倍數范圍大，一般可達15～180000倍，并在此范圍內連續可調；③圖像景深大，富有立體感；④樣品制備簡單，可不破壞樣品；⑤在SEM上裝上必要的專用附件——能譜儀(EDX)，以實現一機
掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年以后才迅速發展起來的新型電子儀器。其主要特點可歸納為：①儀器分辨率高；②儀器的放大倍數范圍大，一般可達15～180000倍，并在此范圍內連續可調；③圖像景深大，富有立體感；④樣品制備簡單，可不破壞樣品；⑤在SEM上裝上必要的專用附件——能譜儀(EDX)，以實現一機
掃描電鏡“弱視”，
對材料微觀結構的觀測離不開“微觀相機”——掃描電子顯微鏡，一種高端的電子光學儀器，它被廣泛地應用于材料、生物、醫學、冶金、化學和半導體等各個研究領域和工業部門。? ??“比如，在材料科學領域，它是非常基礎的科研儀器，毫不夸張地說，材料領域70%—80%的文章都要用到掃描電鏡提供的信息。”中國科學院上
掃描電鏡組成
儀器的組成? 1、?掃描電鏡的組成? ????掃描電子顯微鏡由電子光學系統、信號檢測和放大系統、掃描系統、圖像顯示和記錄系統、電源系統和真空—冷卻水系統組成。?2、?X射線能譜儀的儀器結構? ????X射線能譜儀由半導體探測器、前置放大器、主放大器、脈沖堆積排除器、模擬識數字轉換器、多道分析器、計算
掃描電鏡簡介
掃描電子顯微鏡 (scanning electron microscope, SEM) 是一種用于高分辨率微區形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、分辨率高, 成像直觀、立體感強、放大倍數范圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富, 幾乎不損傷和污染原始樣品以及
掃描電鏡介紹
掃描電鏡全稱為掃描電子顯微鏡，是自上世紀60年代作為商用電鏡面世以來迅速發展起來的一種新型的電子光學儀器。由于它具有制樣簡單、放大倍數可調范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點，故被廣泛地應用于化學、生物、醫學、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個研究領域和工業部門。??掃描電鏡的制造是依據電子與
掃描電鏡技術
掃描電鏡技術 掃描電鏡是用極細的電子束在樣品表面掃描，將產生的二次電子用特制的探測器收集，形成電信號運送到顯像管，在熒光屏上顯示物體。(細胞、組織)表面的立體構像，可攝制成照片。?掃描電鏡樣品用戊二醛和餓酸等固定，經脫水和臨界點干燥后,再于樣品表面噴鍍薄層金膜，以增加二波電子數。?電子顯微鏡下的纖維
掃描電鏡原理
掃描電子顯微鏡的設計思想和工作原理，早在1935年便已被提出來了。1942年，英國首先制成一臺實驗室用的掃描電鏡，但由于成像的分辨率很差，照相時間太長，所以實用價值不大。經過各國科學工作者的努力，尤其是隨著電子工業技術水平的不斷發展，到1956年開始生產商品掃描電鏡。近數十年來，掃描電鏡已廣泛地應
掃描電鏡介紹
掃描電鏡全稱為掃描電子顯微鏡，是自上世紀60年代作為商用電鏡面世以來迅速發展起來的一種新型的電子光學儀器。由于它具有制樣簡單、放大倍數可調范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點，故被廣泛地應用于化學、生物、醫學、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個研究領域和工業部門。??掃描電鏡的制造是依據電子與
掃描電鏡介紹
?掃描電鏡全稱為掃描電子顯微鏡，是自上世紀60年代作為商用電鏡面世以來迅速發展起來的一種新型的電子光學儀器。由于它具有制樣簡單、放大倍數可調范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點，故被廣泛地應用于化學、生物、醫學、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個研究領域和工業部門。??掃描電鏡的制造是依據電子
場發射掃描電鏡和環境掃描電鏡的區別
場發射指的是發射電子的原理。環境掃描則是功能，在實際使用中就是一套附件，購買電鏡時可以選擇購買。環境掃描電鏡既可以用場發射作光源也可以用鎢燈絲作光源。環境掃描電鏡不需要抽真空，可以在有液體的場合使用，這對于生物研究來說很有用。
場發射掃描電鏡和環境掃描電鏡的區別
場發射指的是發射電子的原理。環境掃描則是功能，在實際使用中就是一套附件，購買電鏡時可以選擇購買。環境掃描電鏡既可以用場發射作光源也可以用鎢燈絲作光源。環境掃描電鏡不需要抽真空，可以在有液體的場合使用，這對于生物研究來說很有用。
冷場掃描電鏡和熱場掃描電鏡的區別
冷場：做完測試關燈絲，需要做Cleaning，燈絲束流亮度較低，成像質量較好，不適合做EDS。 熱場：燈絲常亮，不需要清潔維護，燈絲亮度高，成像效果較好（相同等級的熱場FESEM成像效果略遜色于冷場FESEM），EDS效果遠優于冷場。
冷場掃描電鏡和熱場掃描電鏡的區別
冷場：做完測試關燈絲，需要做Cleaning，燈絲束流亮度較低，成像質量較好，不適合做EDS。熱場：燈絲常亮，不需要清潔維護，燈絲亮度高，成像效果較好（相同等級的熱場FESEM成像效果略遜色于冷場FESEM），EDS效果遠優于冷場。
冷場掃描電鏡和熱場掃描電鏡的區別
掃描式電子顯微鏡，其系統設計由上而下，由電子槍 (Electron Gun) 發射電子束，經過一組磁透鏡聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后，用遮蔽孔徑 (Condenser Aperture) 選擇電子束的尺寸(Beam Size)后，通過一組控制電子束的掃描線圈，再透過物鏡 (O
場發射掃描電鏡和環境掃描電鏡的區別
場發射指的是發射電子的原理。環境掃描則是功能，在實際使用中就是一套附件，購買電鏡時可以選擇購買。環境掃描電鏡既可以用場發射作光源也可以用鎢燈絲作光源。環境掃描電鏡不需要抽真空，可以在有液體的場合使用，這對于生物研究來說很有用。
場發射掃描電鏡和環境掃描電鏡的區別
掃描式電子顯微鏡，其系統設計由上而下，由電子槍 (Electron Gun) 發射電子束，經過一組磁透鏡聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后，用遮蔽孔徑 (Condenser Aperture) 選擇電子束的尺寸(Beam Size)后，通過一組控制電子束的掃描線圈，再透過物鏡 (Obje
場發射掃描電鏡和環境掃描電鏡的區別
場發射指的是發射電子的原理。環境掃描則是功能，在實際使用中就是一套附件，購買電鏡時可以選擇購買。環境掃描電鏡既可以用場發射作光源也可以用鎢燈絲作光源。環境掃描電鏡不需要抽真空，可以在有液體的場合使用，這對于生物研究來說很有用。
場發射掃描電鏡和普通掃描電鏡的區別
有冷場發射的和熱場發射的，還有環掃。場發射的分辨率較高，達到1nm 環掃達3?4nm,樣品室比較大，景深大，可做斷口和有污染的樣品，電子束流達，可信度高。
掃描電鏡廠家講述掃描電鏡測樣，須注意什么？
1.對試樣的要求：試樣可以是塊狀或粉末顆粒，在真空中保持穩定，含有水分的試樣應先烘干除去水分，或使用臨界點干燥設備進行處理。表面受到污染的試樣，要在不破壞試樣表面結構的前提下進行適當清洗，然后烘干。新斷開的斷口或斷面，一般不需要進行處理，以免破壞斷口或表面的結構狀態。有些試樣的表面、斷口需要進行適當
掃描電鏡對比以及掃描電鏡基礎知識點
掃描電子顯微鏡，是自上世紀60年代作為商用電鏡面世以來迅速發展起來的一種新型的電子光學儀器，被廣泛地應用于化學、生物、醫學、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個研究領域和工業部門。? 掃描電鏡對比以及掃描電鏡基礎知識點? 圖1.掃描電子顯微鏡外觀圖? 一、特點? 制樣簡單、放大倍數可調范
什么是掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope)的簡稱，通過加速電子束轟擊樣品表面來激發各種信號，如二次電子、背散射電子、俄歇電子、特征X射線等，通過各種接收器可以提取出這些信號，最終得到一系列的圖像和數據。
什么是掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope)的簡稱，通過加速電子束轟擊樣品表面來激發各種信號，如二次電子、背散射電子、俄歇電子、特征X射線等，通過各種接收器可以提取出這些信號，最終得到一系列的圖像和數據。
什么是掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope)的簡稱，通過加速電子束轟擊樣品表面來激發各種信號，如二次電子、背散射電子、俄歇電子、特征X射線等，通過各種接收器可以提取出這些信號，最終得到一系列的圖像和數據。
什么是掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope)的簡稱，通過加速電子束轟擊樣品表面來激發各種信號，如二次電子、背散射電子、俄歇電子、特征X射線等，通過各種接收器可以提取出這些信號，最終得到一系列的圖像和數據。
什么是掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope)的簡稱，通過加速電子束轟擊樣品表面來激發各種信號，如二次電子、背散射電子、俄歇電子、特征X射線等，通過各種接收器可以提取出這些信號，最終得到一系列的圖像和數據。
什么是掃描電鏡
掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope)的簡稱，通過加速電子束轟擊樣品表面來激發各種信號，如二次電子、背散射電子、俄歇電子、特征X射線等，通過各種接收器可以提取出這些信號，最終得到一系列的圖像和數據。
掃描電鏡技術解析
掃描電鏡（SEM）已經成為材料表征時所廣泛使用的強有力工具。而且因為不同應用中使用的材料尺寸都在不斷減小，這在近幾年尤其如此。本篇文章中，我們將描述掃描電鏡 SEM 的主要工作原理。顧名思義，電子顯微鏡使用電子成像，就像光學顯微鏡利用可見光成像。一臺成像設備的zui佳分辨率主要取決于介質的波長。由于