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微區分析 上面利用俄歇能譜面分布或線分布進行的分析就是微區分析（略）。 狀態分析 對元素的結合狀態的分析稱為狀態分析。AES的狀態分析是利用俄歇峰的化學位移，譜線變化（包括峰的出現或消失），譜線寬度和特征強度變化等信息。根據這些變化可以推知被測原子的化學結合狀態。一般而言，由AES解釋元素的化學狀態比XPS更困難。實踐中往往需要對多種測試方法的結果進行綜合分析后才能作出正確的判斷。 深度剖面分析 利用AES可以得到元素在原子尺度上的深度方向的分布。為此通常采用惰性氣體離子濺射的深度剖面法。由于濺射速率取決于被分析的元素，離子束的種類、入射角、能量和束流密度等多種因素，濺射速率數值很難確定，一般經常用濺射時間表示深度變化。 界面分析 用AES研究元素的界面偏聚時，首先必須暴露 界面（如晶界面， 相界面，顆粒和基體界面等等。一般是利用樣品沖斷裝置，在超高真空中使試樣沿界面斷裂，得到新鮮的清潔斷口，然后以盡量短的時間......閱讀全文
成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量分析，鑒別、橡膠等高分子材料的材質、原材料、助劑、特定成分及含量、異物等。 【成分分析分類】 按照對象和要求：微量樣品分析 和 痕
【成分分析簡介】 成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量分析，鑒別、橡膠等高分子材料的材質、原材料、助劑、特定成分及含量、異物等。 【成分分析分類】 按照對象和要求：微量樣品分析 和 痕量成分分
一種金屬或合金的性能取決于其本身的兩個屬性：一個是它的化學成分，另一個是它內部的組織結構。所以，對金屬材料的成分和組織結構進行精確表征是金屬材料研究的基本要求，也是實現性能控制的前提。材料分析的內容主要包括形貌分析、物相分析、成分分析、熱性能分析、電性能分析等。本文就金屬材料的形貌分析、物相分析
1.電子探針譜儀分為能譜儀和波譜儀原理：利用聚焦電子束（電子探測針）照射試樣表面待測的微小區域，從而激發試樣中元素產生不同波長（或能量）的特征X射線。用X射線譜儀探測這些X射線，得到X射線譜。根據特征X射線的波長（或能量）進行元素定性分析；根據特征X射線的強度進行元素的定量分析。適合分析材料:金屬及
當DLC（類金剛石）薄膜的厚度低于2nm時,傳統的DLC/Si磁頭保護膜已經起不到保護作用,而降低磁頭保護膜的厚度可以提高硬盤存儲密度,所以探索開發新的、性能更加優異的磁頭保護膜成為了該領域的熱點。DLC/SixNy磁頭保護膜（以SixNy為基底的DLC磁頭保護膜）是對傳統DLC/Si磁頭保護膜的拓
分析測試百科網訊 2017年8月18-21日，2017年中國質譜學會無機及同位素質譜學術會議在四川成都召開。會議期間，邀請多位專家學者進行大會報告，分享無機及同位素質譜的相關研究和技術的最新進展。 相關報道：開幕式，大會報告（一），大會報告（二） 20日的大會報告中，清華大學教授張新榮、中國