FT160XRF橫空出世應對晶片級材料分析極限挑戰
分析測試百科網訊 芯片已經超過原油，成為我國第一進口商品大類，年進口超3000億美元，芯片對于我國的重要性不言而喻。芯片數量如此之多，面積越做越小，如何快速、精確測定芯片表面納米級厚度的鍍層？難度可想而知。今年2月，日立推出FT160 XRF分析儀，專門針對晶片級封裝檢測。近日，分析測試百科網小編采訪了日立分析儀器公司鍍層分析產品經理馬特?克林納（Matt Kreiner），他將帶我們一覽FT 160的幾大亮點，分享應用實例；并通過該產品，帶我們更深入地認識日立分析儀器，這個材料和鍍層領域測試的高手。日立分析儀器公司鍍層分析產品經理馬特?克林納(Matt Kreiner)日立分析的光輝歷程 馬特(Matt Kreiner) 首先介紹了日立分析儀器公司，他說：“日立分析儀器公司是日立高新技術會社下屬的分支機構，主要從事分析和測量儀器的制造和銷售。全球集團的使命是幫助我們的客戶成為快速、成功、尖端的企業。在中國，我們在上海、北......閱讀全文
FT160－XRF橫空出世應對晶片級材料分析極限挑戰
分析測試百科網訊 芯片已經超過原油，成為我國第一進口商品大類，年進口超3000億美元，芯片對于我國的重要性不言而喻。芯片數量如此之多，面積越做越小，如何快速、精確測定芯片表面納米級厚度的鍍層？難度可想而知。今年2月，日立推出FT160 XRF分析儀，專門針對晶片級封裝檢測。近日，分析測試百科網小
日立分析儀器推出新型FT160－XRF鍍層分析儀
日立高新技術公司（TSE：8036）的全資子公司日立分析儀器（HitachiHigh-Tech Analytical Science）致力于分析和測量儀器的制造和銷售，現推出新型FT160XRF光譜儀，該分析儀提供三種基座配置選擇方案用于納米級鍍層分析。 隨著新型FT160系列在日本的推出，日
日立發布新款高分辨率探測器SDD款XRF鍍層測厚儀－XStrata920
英國牛津：日立分析儀器公司（日立分析儀器），是日立高新技術公司（TSE：8036）旗下一家從事分析和測量儀器的制造與銷售業務的全資子公司。今日，日立分析儀器拓展了XRF鍍層測厚儀 X-Strata920 的功能，添置了新型高分辨率探測器和新型樣品臺配置。 日立分析儀器XRF鍍層測厚儀系列在電子
日立憑借新型XRF儀器FT230掀起鍍層分析改革浪潮
2022年4月28日，日立高新技術集團旗下的全球性公司日立分析儀器推出了革命性的XRF儀器FT230，擴大了電鍍和鍍層分析范圍。FT230的設計大幅簡化和加快了部件和組件的測試流程，助力電子產品和組件制造商、一般金屬表面處理廠和塑料電鍍廠實現全方位鍍層檢測并符合嚴格的規范要求。FT230 消除了
日立分析發布新款高分辨率探測器SDD款XRF鍍層測厚儀
2018年6月19日，英國牛津：日立分析儀器公司（日立分析儀器），是日立高新技術公司（TSE：8036）旗下一家從事分析和測量儀器的制造與銷售業務的全資子公司。今日，日立分析儀器拓展了XRF鍍層測厚儀 X-Strata920 的功能，添置了新型高分辨率探測器和新型樣品臺配置。 日立分析儀器XR
日立分析儀器推出FT210型X射線熒光測厚儀和最新版FT－Connect軟件
2023年12月，中國 — 日立分析儀器是日立高新技術公司旗下的全資子公司，主要從事分析和測量儀器的制造與銷售，通過推出 FT210 新型XRF鍍層測厚儀，日立分析儀器擴大了其鍍層和材料分析儀器產品系列。 FT210 包括用于常規測量普通電鍍的正比計數探測器，并集成先進且易于使用的功能，旨在增
XRF鍍層測厚儀的原理
1、原理：X射線照射樣品，經過鍍層界面，射線返回的信號發生突變，根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。2、XRF鍍層測厚儀：俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。功能：精密測量金屬電鍍層
XRF鍍層測厚儀的原理
1、原理：X射線照射樣品，經過鍍層界面，射線返回的信號發生突變，根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。2、XRF鍍層測厚儀：俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。功能：精密測量金屬電鍍層
日立分析儀器在上海遷址新生產基地
中國上海，2021年5月18日—日立分析儀器（日立高新技術集團全資子公司）致力于從事分析和測量儀器的制造和銷售，如今其在中國上海遷址新生產基地。 這家先進的制造廠位于上海市閔行區淶港芯灣科創園，占地4118平方米，旨在支持高科技分析設備開發和生產的快速升級，以滿足全球不斷增長的需求。 新工廠
XRF鍍層測厚儀的組成介紹
XRF光譜儀的主要部件組成為X射線管、光圈、探測器、對焦系統、相機以及樣品臺。如上圖所示。X射線管是儀器的一部分，產生照射樣品的X射線。光圈是引導X射線指向樣品的裝置的第一部分。XRF儀器中的光圈將決光斑尺寸，正確的光圈選擇對精密度和測量效率至關重要。探測器與相關電子設備一并處理從樣品中激發出的
XRF鍍層測厚儀的相關介紹
XRF鍍層測厚儀對焦系統確保每次測量中X射線管、零部件和探測器間的X射線可測量且幾何光路連續一致；否則會導致結果不準確。XRF鍍層測厚儀相機幫助用戶精確定位測量區域。某些情形下相機用于向自動操作模塊提供圖像信息，或包括放大圖像以精確定位需要測量的區域。樣品可放置于固定或可移動的XRF鍍層測厚儀樣
XRF2000鍍層測厚儀規格
儀器功能?:?測量電鍍層厚度（單鍍層?雙鍍層?合金鍍層?電鍍液分析?元素定性分析）系統結構?:主機箱,專用分析電腦,,彩色打印機主機尺寸610?x?670?x?490?mm主機箱重量?:?75?公斤配件重量?:?約?35?公斤以電腦鼠標移動方式,驅動?XYZ?三軸移動,步進馬達XYZ?樣片臺移動尺寸
XRF鍍層測厚儀的技術介紹
XRF技術的最小檢測厚度為大約1nm。如果低于這個水平，則相應的特征X射線會淹沒于噪聲信號中，無法對其進行識別。最大范圍約為50μm左右。如果在該水平之上，則鍍層厚度將導致內層發射的X射線無法穿透鍍層而到達探測器。即厚度的任何進一步增加都不會導致更多的X射線到達探測器，因此厚度達到飽和無法測出變
XRF鍍層測厚儀的原理是什么
1、原理：X射線照射樣品，經過鍍層界面，射線返回的信號發生突變，根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。2、XRF鍍層測厚儀：俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。功能：精密測量金屬電鍍層
XRF鍍層測厚儀的基本原理
XRF指X射線熒光，是一種識別樣品中元素類型和數量的技術。用于在整個電鍍行業范圍內驗證鍍層的厚度和成分。其基本的無損性質，加上快速測量和結構緊湊的臺式儀器等優點，能實現現場分析并立即得到結果。 對于鍍層分析，XRF鍍層測厚儀將此信息轉換為厚度測量值。在進行測量時，X射線管產生的高能量x射線通過
美國博曼高性能XRF鍍層測厚儀
膜厚測試儀也可稱為膜厚測量儀，又稱金屬涂鍍層厚度測量儀，其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應全球環保工藝準則，故市場上最普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。鼎極天代理的美國博曼高性能XRF鍍層測厚儀,多年深耕鍍層測厚事業經歷不斷創新、追求卓越、獲得廣泛好評最廣
如何使用自動對焦節省XRF鍍層分析時間？
利用鍍層XRF（X射線熒光）進行測量涉及多項步驟，但是對焦（即正確設置X射線管、零件和檢測器之間的幾何位置）是最關鍵的步驟，因為它直接影響結果的準確性。在操作員找到測量位置后，需要對焦零件。傳統儀器通過激光對焦或視頻對焦完成上述對焦。日立的XRF鍍層分析儀FT230可以使用激光對焦，但也提供兩種自動
韓國_XRF2000L_熒光金屬鍍層測厚儀
產品介紹? XRF-2000L熒光金屬鍍層測厚儀產品描述：?應用?: 測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可偵測元素的范圍：?Ti(22)~U(92?)。?行業?: 五金類、螺絲類、?PCB?類、連接器端子類行業、電鍍類等。?特色?: 非破壞，非接觸式檢測分析，快速精準。 可測量高達六層的
日立分析儀器:擴大在中國的業務,以支持材料分析的未來
日立分析儀器在徐匯開設新的應用中心，以更好地滿足客戶的需求，并通過改善協作來提供更具創新性的定制服務。分析測試百科網采訪了日立分析儀器銷售服務總經理鄭藝花女士，討論業務擴展、對互聯材料分析儀未來發展和未來趨勢的展望，這對每個人都很有啟發性。日立分析儀器銷售服務總經理鄭藝花開設徐匯分公司 貼近客戶
日立推出XMET8000－Geo－Optimum手持XRF－－用于地礦分析
2019年3月6日，日立分析儀器，系日立高新技術公司(TSE：8036)旗下的一家全資子公司推出了一款全新X-MET8000 Geo手持式XRF分析儀，這種分析儀針對土壤和采礦品級控制應用進行了優化。其提供無與倫比的性價比，且投資回報(ROI)快，允許立即進行現場決策，而不必發送樣品進行實驗室分析。
XRF分析在鋰電池回收利用行業的應用
廢舊鋰離子電池回收是緩解資源短缺的重要手段。X射線熒光（XRF）分析為有價值材料的評估和回收帶來了一種經濟有效的方法。 在鋰離子電池回收利用過程中，準確分析各種各樣的黑粉樣品具有很大的挑戰性。日立的X-MET8000手持式XRF分析儀，如果用于快速篩選和測定Mn、Ni和Co的百分比含量，10-
日立收購牛津儀器工業分析部后首次亮相BCEIA
?? 分析測試百科網訊 2017年7月日立高新技術（HHT）成功收購牛津儀器工業分析部，成立日立分析儀器（HHA）（相關報道：牛津儀器工業分析部成為日立新技術分析科學）。2017 BCEIA展會上，兩家公司以全新的形象首次亮相。來自日立分析儀器亞太區銷售與服務副總裁 Adrian Smith先生，日
XRF鍍層測厚儀中的毛細聚焦管光學元件的技術優勢
更小的點位測量 更薄的鍍層測量 更高的測試量和更高的置信度 更符合測試方法標準 無疑這些優勢將為鍍層測試的能力帶大的提升。
首飾鍍層檢測的解決方案——淺談XRF儀器FP算法的優勢
首飾電鍍通常比較復雜，可能有多個鍍層，且鍍層包含合金，要檢測得到準確的厚度和成分，通常來說經驗算法的偏差都較大，而且樣品在未知組成的情況下無法得到正確的結果；而FP(Foundational parameters:基本參數法)就可以很好的解決這類問題，我們從以下兩個案例來展開來描述。 1.
選擇鍍層測厚儀XStrata920的幾大原因
準確、可靠的XRF分析對全球各行各業生產工藝至關重要。無論是確保焊接合金符合質量控制標準還是評估金飾價值，選擇合適的XRF分析儀將對您的生產工藝和盈利率產生深遠影響。日立分析儀器X-Strata920是一種高科技解決方案，能夠應對各種鍍層厚度和材料分析挑戰。它將大面積正比計數探測器和微聚焦X射線管相
韓國XRF2000X射線鍍層測厚儀測量樣品高度達到20cm
國XRF-2000X射線鍍金層測厚儀檢測電鍍層厚度，可檢測鍍金，鍍銀，鍍鎳，鍍錫，鍍鋅，鍍鉻，鍍鈀等可測量單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層單鍍層：如銅上鍍鎳，銅上鍍銀，銅上鍍錫，鐵上鍍鎳等，不限底材雙鍍層：銅上鍍鎳鍍金，鐵上鍍銅鍍鎳等多鍍層：鐵上鍍銅鍍鎳鍍銀，銅上鍍鎳鍍鈀鍍金等合金鍍層：銅上鍍鋅鎳等
XRF用于氫燃料電池的質量控制
XRF用于氫燃料電池的質量控制 在減少碳排放的競賽中，燃料電池技術發展迅速。鋰離子電池技術和氫燃料電池系統都能助力有關減少世界二氧化碳排放的解決方案。 所有類型的燃料電池均包括三個基本組成部分：兩個電極（負極和正極）以及夾在兩個電極之間的電解質。為電動車提供動力的氫燃料電池由于使用質子導電聚
復合鍍層
復合鍍層:當化學復合鍍工藝合理時，在復合鍍層的金相組織中，顆粒彌散分布均勻，鍍層與基體結合良好，由于SiC鑲嵌在鍍層中，起到了彌散強化的作用，因此，復合鍍層的硬度和耐磨性增加。鍍層中SiC顆粒的復合量隨鍍液中SiC顆粒含量的增大而增加，通過控制鍍液中SiC顆粒的含量，可獲取不同微粒復合量的Ni-P-
X射線鍍層測厚儀對電鍍層厚度檢測
電鍍鍍層行業中，電鍍鍍層厚度是產品的zui重要質量指標，?X射線鍍層測厚儀是檢測電鍍層厚度必備儀器。X射線鍍層測厚儀作為一種測量鍍層厚度的精密儀器，在整個電鍍層厚度品質檢測中占非常重要的地位。它在電鍍層厚度控制,品質是否達到要求,鍍層是否符合客戶要求及成本控制方面,X射線鍍層測厚儀均可完成。對于現代
電鍍膜厚儀
XRF2000鍍層測厚儀檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...可測單層,雙層,多層,合金鍍層,測量范圍:0.04-35um測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度全自動臺面,操作非常方便簡單XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量，同時可
