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X射線熒光衍射：利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位，原子內層電子重新配位，較外層的電子躍遷到內層電子空位，并同時放射出次級X射線光子，此即X射線熒光。較外層電子躍遷到內層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差，因此，X射線熒光的波長對不同元素是特征的。根據色散方式不同，X射線熒光分析儀相應分為X射線熒光光譜儀(波長色散)和X射線熒光能譜儀(能量色散)。X射線熒光光譜儀主要由激發、色散、探測、記錄及數據處理等單元組成。激發單元的作用是產生初級X射線。它由高壓發生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體......閱讀全文
馬爾文儀器有限公司是激光粒度分析儀的發明人，世界最著名的激光粒度儀專業生產廠家，其產品分布于石化、石油、陶瓷、粉體、涂料、制藥、水泥、軍工等各個領域，占有世界絕大部分激光粒度儀市場。許多領域指定要用該儀器進行質量檢測和控制。 馬爾文儀器有限公司射線衍射（XRD）技術可廣泛應用于鋰離子電池
馬爾文儀器有限公司是激光粒度分析儀的發明人，世界最著名的激光粒度儀專業生產廠家，其產品分布于石化、石油、陶瓷、粉體、涂料、制藥、水泥、軍工等各個領域，占有世界絕大部分激光粒度儀市場。許多領域指定要用該儀器進行質量檢測和控制。 馬爾文儀器有限公司射線衍射（XRD）技術可廣泛應用于鋰離子電池
XRD全稱X射線衍射（X-RayDiffraction）,利用X射線在晶體中的衍射現象來獲得衍射后X射線信號特征，經過處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實現常規顯微鏡的確定物相，并擁有“透視眼”來看晶體內部是否存在缺陷（位錯）和晶格缺陷等，下面就讓咱們來簡要的了解下XRD的原理
XRD全稱X射線衍射（X-RayDiffraction）,利用X射線在晶體中的衍射現象來獲得衍射后X射線信號特征，經過處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實現常規顯微鏡的確定物相，并擁有“透視眼”來看晶體內部是否存在缺陷（位錯）和晶格缺陷等，下面就讓咱們來簡要的了解下XRD的原理及應用和分析方
[一般問題] 做 XRD 有什么用途啊，能看出其純度?還是能看出其中含有某種官能團？ X 射線照射到物質上將產生散射。晶態物質對 X 射線產生的相干散射表現為衍射現象，即入射光束出射時光束沒有被發散但方向被改變了而其波長保持不變的現象，這是晶態物質特有的現象。 絕大多數固態物質都是晶態或微
X射線衍射技術(XRD)的發現距今以及有一百年，歷史上有三次的諾貝爾獎（1914,1915,1936）都與它有關。如今，它已經是材料科學中最基本的表征手段。通過XRD測試，我們可以知道材料的結構、晶胞參數和缺陷情況等。下面，我們就一起來深入了解一下XRD的原理以及應用吧！ XRD工作原
[一般問題] 做 XRD 有什么用途啊，能看出其純度?還是能看出其中含有某種官能團？ X 射線照射到物質上將產生散射。晶態物質對 X 射線產生的相干散射表現為衍射現象，即入射光束出射時光束沒有被發散但方向被改變了而其波長保持不變的現象，這是晶態物質特有的現象。
俗話說：“磨刀不誤砍柴工”了解XRD樣本的要求、制備過程并細心的制作XRD樣品，可以起到事半功倍的效果，而不是本末倒置，急于得到衍射圖譜而粗心準備樣品，這樣往往引起實驗數據誤差，從而給結果分析帶來困難，浪費大量的分析時間。 1. XRD運用對象 X射線衍射儀技術可以獲得材料的晶體結構、結晶狀
作為一種一種晶態共價有機框架化合物，COF自問世以來就備受關注。由于其精確結構、多孔特征以及限域空間等特點，COFs在氣體吸附、催化、傳感、儲能等領域表現出廣泛的應用前景。 2018年7月6日凌晨，最新一期Science背靠背在線發表了2篇COF相關研究。一篇是由美國西北大學WilliamR.
分析測試百科網訊 2016年4月22-26日，2016全國表面分析應用技術學術交流會在古都西安召開。交流會由全國微束分析標準化技術委員會表面分析分技術委員會、中國科學院化學研究所、北京師范大學、北京化工大學、廣東省表面分析專業
一、XRD有什么用途？ XRD（X 射線衍射）是目前研究晶體結構(如原子或離子及其基團的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等)最有力的方法。XRD 特別適用于晶態物質的物相分析。晶態物質組成元素或基團如不相同或其結構有差異，它們的衍射譜圖在衍射峰數目、角度位置、相對強度次序以至衍射峰的形狀上就
XRD全稱X射線衍射（X-RayDiffraction）,利用X射線在晶體中的衍射現象來獲得衍射后X射線信號特征，經過處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實現常規顯微鏡的確定物相，并擁有“透視眼”來看晶體內部是否存在缺陷（位錯）和晶格缺陷等，下面就讓咱們來簡要的了解下XRD的原理及應用和分析方
便攜式XRD分析儀在分析石油天然氣供應設備結垢腐蝕的應用 奧林巴斯便攜式X射線衍射（XRD）分析儀可以在現場為化學家和工程師提供有關結垢、腐蝕和淤泥沉積物的定量性物相分析信息。通過快速對結垢和腐蝕產物進行表征，可使維護團隊在幾個小時之內，而不是幾天之內，實施適當的管理策略。
全球首款真正意義上的便攜式XRD分析儀，具有現場、快速、準確的分析優勢， 粉末震蕩技術(專利)及靜止的探測器的使用，使得Terra突破了傳統XRD的構造;XRD及XRF的集成，使得XRD的分析性能有了很大的提高。 水泥熟料的定量測定方法 水泥熟料定量測定主要有三種方法:化學計算法
1、X射線衍射儀技術（XRD）X射線衍射儀技術(X-ray diffraction，XRD)。通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該
晶粒（注意粒子的大小和晶粒的大小不是一個概念，在多數情況下納米粒子是由多個完美排列的晶粒組成的）的晶相和大小，雖然也可通過更強的場發射透鏡（HRTEM）得到，但是機器昂貴、操作復雜，所以實驗室一般使用X射線粉末衍射儀。 XRD、TEM、AFM在表征粒徑大小方面各有優勢，我們將分別從原理和應用來
樣品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三個方面。物相分析一般使用 X－射線粉末衍射儀（XRD）和電子顯微鏡。形貌和粒度可通過掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）直接觀測到粒子的大小和形狀。但由于電鏡只能觀測局部區域，可能產生較大的統計誤差。晶粒（注意粒子的大小和晶粒的大小不是一個概念，在多數情況下
研究X射線波長和一般晶體晶格參數發現，兩者的尺寸是數值相當或比較接近，從而有科學家斷言，晶體晶格是X射線發生衍射現象的天然柵欄！后來果然得到了驗證。晶體是這樣；非晶體的物質沒有這種有規律的格子排列格局，當然就不能獲得X射線衍射現象了。物質有沒有固定的熔點、沸點，并沒有驗證是一個純凈物、包括晶體的獨有
研究X射線波長和一般晶體晶格參數發現，兩者的尺寸是數值相當或比較接近，從而有科學家斷言，晶體晶格是X射線發生衍射現象的天然柵欄！后來果然得到了驗證。晶體是這樣；非晶體的物質沒有這種有規律的格子排列格局，當然就不能獲得X射線衍射現象了。物質有沒有固定的熔點、沸點，并沒有驗證是一個純凈物、包括晶體的獨有
2015年3月30日，理學公司（Rigaku）和安捷倫科技（Agilent）宣布一項協議，總部設在東京的一家私人持有的科學儀器公司——理學收購了安捷倫的X射線衍射（XRD）業務。 X射線衍射業務的前身是瓦里安的牛津衍射，2010年瓦里安被安捷倫收購，該XRD業務是單晶X射線儀器的全球化學晶體市
由江蘇省硅酸鹽學會水泥專業委員會、工業巖石物化測試專業委員會聯合主辦，南京工業大學、賽默飛世爾科技承辦的“水泥質量控制及在線檢測技術應用研討會”于2010年1
X射線衍射儀是利用衍射原理，測定物質的晶體結構，織構及應力，準確的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學、材料生產等領域。 (一)材料科學 研究和發展先進材料，這項工作涉及研究各種物質的特性和使用，如金屬，陶瓷和塑料，應用范
成分分析： 成分分析按照分析對象和要求可以分為 微量樣品分析 和 痕量成分分析 兩種類型。 按照分析的目的不同，又分為體相元素成分分析、表面成分分析和微區成分分析等方法。 體相元素成分分析是指體相元素組成及其雜質成分的分析，其方法包括原子吸收、原子發射ICP、質譜以及X射線熒光與X射線衍射分析方
睡不著覺怪床歪？沒錯，磁性納米顆粒材料在強磁場中的化學合成就是這樣。中科院強磁場科學中心（合肥）的SM2號強磁體中觀測到化學合成會受到反應容器胖瘦程度的影響。 日前，中科院強磁場科學中心陸輕鈾課題組與南京大學陸輕銥課題組合作，設計了一種可直接插入到強超導磁體窄小低溫孔徑液氦中使用的超隔熱高溫反
【導語 新上任的中國區總經理、匯同幾大部門運營總監亮相水泥峰會，展現Thermo Fisher Scientific對2009中國水泥行業的高度關注，與繼續保持兩位數增長的決心……】
近年來，鹵化物鈣鈦礦材料因其出色的光學性質在太陽能電池、LED、激光器等方面得到了廣泛應用。鈣鈦礦量子點具有熒光量子產率高、熒光峰窄、熒光顏色可調等優點，然而鈣鈦礦塊體材料的熒光往往極弱。在0維鈣鈦礦材料Cs4PbBr6中低維結構使材料中具有強烈的量子限域效應，使Cs4PbBr6塊體依然可以具有
成分分析： 成分分析按照分析對象和要求可以分為 微量樣品分析 和 痕量成分分析 兩種類型。 按照分析的目的不同，又分為體相元素成分分析、表面成分分析和微區成分分析等方法。 體相元素成分分析是指體相元素組成及其雜質成分的分析，其方法包括原子吸收、原子發射ICP、質譜
Scherrer公式計算晶粒尺寸（） Scherrer公式計算晶粒尺寸（XRD數據計算晶粒尺寸） 根據X射線衍射理論，在晶粒尺寸小于100nm時，隨晶粒尺寸的變小衍射峰寬化變得顯著，考慮樣品的吸收效應及結構對衍射線型的影響，樣品晶粒尺寸可以用Debye-Scherrer公式計算。
紅外光譜樣品制備 紅外光譜是未知化合物結構鑒定的一種強有力的工具，尤其近幾年來各種取樣技術和聯用技術的迅速發展，使得它成為分析化學應用中最廣泛的儀器之一。 樣品要求： 1、氣體、液體（透明，糊狀）、固體（粉末、粒狀、片狀…）。 氣體樣品：采用氣體吸收池進行測試，吸收峰的強度可以通過調整氣
材料的逆向分析是現行材料研發中的重要的手段，也是實現材料研發中的最經濟、最有效的的研發手段。如何實現材料的逆向分析，從認識材料的分析儀器著手。 成分分析簡介 成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量