雜散光(Straylight)對吸光度的影響
一、雜散光的重要性雜散光是紫外可見分光光度計非常重要的關鍵技術指標。它是紫外可見分光光度計分析誤差的主要來源, 它直接限制被分析測試樣品濃度的上限。當一臺紫外可見分光光度計的雜散光一定時, 被分析的試樣濃度越大, 其分析誤差就越大。ASTM 認為: “雜散光可能是光譜測量中主要誤差的來源。尤其對高濃度的分析測試時, 雜散光更加重要”。有文獻報道, 在紫外可見光區的吸收光譜分析中, 若儀器有1%的雜散光, 則對2. 0A 的樣品測試時, 會引起2%的分析誤差。雜散光對高濃度試樣的影響如下圖 所示。二、雜散光的定義及理論推導(一) 雜散光的定義目前, 國際上對雜散光的定義各異。下面介紹幾種比較簡潔的雜散光的定義。1. ASTM 的定義美國的ASTM 對雜散光定義是: 雜散光既難給出確切的定義, 又難進行準確的測量。人們常將雜散光定義為在單色器額定通帶之外的透射輻射能量與總的透射能量之比。2. Richard 的定義日本的......閱讀全文
雜散光(Stray－light－)對吸光度的影響
一、雜散光的重要性雜散光是紫外可見分光光度計非常重要的關鍵技術指標。它是紫外可見分光光度計分析誤差的主要來源, 它直接限制被分析測試樣品濃度的上限。當一臺紫外可見分光光度計的雜散光一定時, 被分析的試樣濃度越大, 其分析誤差就越大。ASTM 認為: “雜散光可能是光譜測量中主要誤差的來源。尤
雜散光的五種定義
目前，國際上很多學者都很重視雜散光，他們對雜散光的定義各異。下面介紹國內外學者對雜散光的幾種定義。(1) ASTM的定義美國的ASTM認為：雜散光既難給出確切的定義，又難進行準確的測量。人們常將雜散光定義為在單色器額定通帶之外的透射輻射能量與總的透射能量之比。(2) Richard的定義日本學者Ri
紫外分光光度計雜散光如何測定
將參比液注入配對石英石吸收池，分別放置在參比池座和試樣池座內。再測定波段掃描基線并使之平滑。將減光片插入試樣光路的濾光片槽內，其讀數即為減光片的衰減值K.然后將減光片插入參比光路的濾光片座內，將石英吸收池中的蒸餾水依次換成上述截止濾光液，插入試樣試樣池座中，在相應的波段內掃描、打印；在記錄紙的作標上
紫外可見分光光度計雜散光
一、雜散光的重要性??? 雜散光是紫外可見分光光度計非常重要的關鍵技術指標。它是紫外可見分光光度計分析誤差的主要來源, 它直接限制被分析測試樣品濃度的上限。當一臺紫外可見分光光度計的雜散光一定時, 被分析的試樣濃度越大, 其分析誤差就越大。ASTM 認為: “雜散光可能是光譜測量中主要誤差的
如何降低分光光度計的雜散光？
可以通過以下方法降低分光光度計的雜散光：一、儀器設計與制造方面優化光學系統：采用高質量的光學元件，如光柵、棱鏡等，具有高的光學純度和低的散射特性。精確的光學加工和鍍膜技術可以減少表面反射和散射，從而降低雜散光。設計合理的光路結構，避免不必要的反射和散射路徑。例如，采用雙光束或多光束設計，可以減少雜散
降低分光光度計的雜散光的方法
可以通過以下方法降低分光光度計的雜散光：一、儀器設計與制造方面優化光學系統：采用高質量的光學元件，如低散射的光柵、棱鏡和透鏡等。這些元件能夠減少光在傳播過程中的散射，從而降低雜散光的產生。設計合理的光路結構，避免光線在儀器內部的多次反射和散射。例如，采用直角入射和出射的光路設計，可以減少反射光的干擾
紫外雜散光標準品
可溯源標準品用于驗證分光光度計雜散光規格。 描述 每種雜散光標準品都會在特定波長以下停止透光。在該截止點以下，任何測量值都可歸于儀器雜散光。不滿足儀器規格的雜散光測量值可能表示儀器燈源出現問題，會導致分析錯誤。提供下列標準品用于測定雜散光：氯化鉀，截止點在 200
紫外可見分光光度計測試雜散光
根據量子光學理論，波長是能量的倒數，波長短能量大，容易產生雜散光，而220nm處屬于短波部分；根據儀器學理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號很小，容易顯現雜散光。?因此，紫外可見分光光度計只測試220nm處的雜散光，不測試340nm處的雜散光，這樣是不正確的，需測試220nm處雜散
紫外可見分光光度計雜散光小議
紫外可見分光光度計雜散光小議所謂的雜散光嚴格意義上來講是所要單色光以外的光，都為雜散光，但是目前國內外的定義不完全相同，有的是從輻射的角度，有的是從能量的角度，有的是從需不需要的角度來考慮。總體上來講應該是不該有的光出現了，這就是雜散光。雜散光是分光光度計的關鍵性技術指標，它是分析誤差的主要來源，它
紫外可見分光光度計雜散光的來源
紫外可見分光光度計雜散光的來源紫外可見分光光度計產生雜散光的因很多，其最主要的原因大致有以下9個方面：①灰塵沾污光學元件（如光柵、棱鏡、透鏡、反射鏡、濾光片等）；②光學元件被損傷，或光學元件產生的其他缺陷（如光柵、透鏡和反射鏡、棱鏡材料中的氣泡等）；③準直系約部或有關隔板邊緣的反射；④光學系統或檢測
分光光度計的雜散光來源有哪些？
可以通過以下方法減少分光光度計的漏光現象：一、儀器設計與制造方面優化光學系統設計：在分光光度計的設計階段，應采用合理的光學布局，盡量減少光在傳輸過程中的散射和反射。例如，使用高質量的反射鏡和透鏡，確保光的傳輸路徑清晰明確，減少不必要的反射和散射。對于關鍵的光學部件，如光柵、狹縫等，應進行精確的加工和
紫外可見分光光度計雜散光的定義
摘要：目前，國際上有很多制造和使用紫外可見分光光度計的科技工作者，都很重視雜散光，他們對雜散光的定義各異。下面介紹幾種比較簡潔的雜散光的定義。 紫外可見分光光度計雜散光的定義?目前，國際上有很多制造和使用紫外可見分光光度計的科技工作者，都很重視雜散光，他們對雜散光的定義各異。下面介紹幾種比較簡潔
紫外光度計雜散光與分析測試誤差的關系
雜散光對紫外可見分光光度計分析測試誤差的影響可分成兩種類型。第一種是雜散光的波長與測試波長相同；它是由于測試波長因為某些原因而偏離正常光路，在不通過試樣的情況下，直接照射到光電轉換器上。引起這種雜散光的原因，大多是由于光學元件、機械零件的反射和漫反射所引起。這種雜散光可以通過一個對測試波長不透明的樣
紫外分光光度計雜散光的校正方法
雜散光的校正方法：小量的雜散光往往會引起較大的測量誤差，它的校正可用一個能完全吸收某一波長單色光，且在其他波長吸收很弱的溶液。從這個溶液所表現的透光情況可推測雜散光的近似值。由雜散光帶來的偽吸收帶，亦可用Beer-Lambert定律來檢查，但用此定律檢查偽吸收帶誤差較大。由切斷范圍之外所表現的透
分光光度計的雜散光來源有哪些？
分光光度計的雜散光來源主要有以下幾個方面：一、光學系統光學元件表面的散射：分光光度計中的透鏡、反射鏡、光柵等光學元件的表面可能存在微小的瑕疵、劃痕或灰塵，這些都會導致光的散射，產生雜散光。例如，透鏡表面的劃痕會使部分光線偏離正常的光路，散射到其他方向，進入檢測器，從而增加雜散光的強度。光學元件的內部
破解日冕儀鏡面塵埃雜散光影響有新招
原文地址：http://news.sciencenet.cn/htmlnews/2023/8/506477.shtm記者13日從中國科學院云南天文臺獲悉，該臺高級工程師張雪飛等人利用麗江觀測站100毫米日冕儀，研究了鏡面塵埃引起的雜散光對日冕像的影響及修正方法。該研究有助于更精確的分析日冕強度、結構
紫外可見分光光度計雜散光測試步驟
據了解，有的紫外可見分光光度計只測試220nm處的雜散光，不測試340nm處的雜散光，這樣是不正確的，需測試220nm處雜散光是因為：①根據量子光學理論，波長是能量的倒數，波長短能量大，容易產生雜散光，而220nm處屬于短波部分；②根據儀器學理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號很小
紫外可見分光光度計雜散光測試步驟
據了解，有的紫外可見分光光度計只測試220nm處的雜散光，不測試340nm處的雜散光，這樣是不正確的，需測試220nm處雜散光是因為：①根據量子光學理論，波長是能量的倒數，波長短能量大，容易產生雜散光，而220nm處屬于短波部分；②根據儀器學理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號
紫外可見分光光度計雜散光測試步驟
據了解，有的紫外可見分光光度計只測試220nm處的雜散光，不測試340nm處的雜散光，這樣是不正確的，需測試220nm處雜散光是因為：①根據量子光學理論，波長是能量的倒數，波長短能量大，容易產生雜散光，而220nm處屬于短波部分；②根據儀器學理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號
如何測試紫外可見分光光度計雜散光
? ? 據了解，有的紫外可見分光光度計只測試220nm處的雜散光，不測試340nm處的雜散光，這樣是不正確的，需測試220nm處雜散光是因為：①根據量子光學理論，波長是能量的倒數，波長短能量大，容易產生雜散光，而220nm處屬于短波部分；②根據儀器學理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即
紫外可見分光光度計雜散光測試步驟
據了解，有的紫外可見分光光度計只測試220nm處的雜散光，不測試340nm處的雜散光，這樣是不正確的，需測試220nm處雜散光是因為：①根據量子光學理論，波長是能量的倒數，波長短能量大，容易產生雜散光，而220nm處屬于短波部分；②根據儀器學理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號很小
紫外可見分光光度計雜散光測試步驟
據了解，有的紫外可見分光光度計只測試220nm處的雜散光，不測試340nm處的雜散光，這樣是不正確的，需測試220nm處雜散光是因為：①根據量子光學理論，波長是能量的倒數，波長短能量大，容易產生雜散光，而220nm處屬于短波部分；②根據儀器學理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號很小
如何測試紫外可見分光光度計雜散光
據了解，有的紫外可見分光光度計只測試220nm處的雜散光，不測試340nm處的雜散光，這樣是不正確的，需測試220nm處雜散光是因為：①根據量子光學理論，波長是能量的倒數，波長短能量大，容易產生雜散光，而220nm處屬于短波部分；②根據儀器學理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號很小
紫外可見分光光度計雜散光的測試材料
摘要：雜散光的測試材料中，可分為濾光片和濾光液兩種。濾光片又分為帶通濾光液和截止濾光片兩種。濾光液則有很多種，如丙酮、Nal、NaBr. KCI (12g/l). NaN02等。 雜散光的測試材料中，可分為濾光片和濾光液兩種。濾光片又分為帶通濾光液和截止濾光片兩種。濾光液則有很多種，如丙酮、Na
紫外可見分光光度計雜散光的測試方法
摘要：國內外的紫外可見分光光度計研制者和使用者們，在雜散光的測試工作中，最常用的測試方法是所謂“截止濾光法” (The CutOff Filter Method)，或稱作“濾光片法” (The Filter Method)。 目前，國內外的紫外可見分光光度計研制者和使用者們，在雜散光的測試工作中
雜散光與儀器學理論
摘要：雜散光是紫外可見分光光度計等光學類分析儀器的重要性能技術指標之一，它是光學類分析儀器分誤差的主要來源之一，它限制儀器對被分析樣品的濃度的上限。 ??????? 雜散光是紫外可見分光光度計等光學類分析儀器的重要性能技術指標之一，它是光學類分析儀器分誤差的主要來源之一，它限制儀器對被分析樣
關于雜散光測試時光源的選擇
摘要：ASTM認為：一般測試紫外可見分光光度計光譜儀器紫外區的雜散光時采用氘燈、氫燈或氙燈作光源；而可見光區則用鎢燈(工作溫度為2850 ---3300K)作光源。 ASTM認為：一般測試紫外可見分光光度計光譜儀器紫外區的雜散光時采用氘燈、氫燈或氙燈作光源；而可見光區則用鎢燈(工作溫度為2850
使用紫外可見光光度計進行雜光散光測試
? 我們該如何使用紫外可見光光度計進行雜光散光測試呢?下面跟我一起來了解一下吧。? 據了解，有的紫外可見光光度計只測試220nm處的雜散光，不測試340nm處的雜散光，這樣是不正確的，需測試220nm處雜散光是因為：? ①根據儀器學理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號很小，容
使用紫外可見光光度計進行雜光散光測試
我們該如何使用紫外可見光光度計進行雜光散光測試呢?下面跟我一起來了解一下吧。 據了解，有的紫外可見光光度計只測試220nm處的雜散光，不測試340nm處的雜散光，這樣是不正確的，需測試220nm處雜散光是因為： ①根據儀器學理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號很小，
雜散光的重要性——紫外可見分光光度計
雜散光是紫外可見分光光度計非常重要的關鍵技術指標。它是紫外可見分光光度計分析誤差的主要來源, 它直接限制被分析測試樣品濃度的上限。當一臺紫外可見分光光度計的雜散光一定時, 被分析的試樣濃度越大, 其分析誤差就越大。“雜散光可能是光譜測量中主要誤差的來源。尤其對高濃度的分析測試時, 雜散光更加重