反射電子顯微鏡的功能介紹
中文名稱反射電子顯微鏡英文名稱reflection electron microscope定 義由樣品反射的電子束使其成像的電子顯微鏡。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子顯微鏡（三級學科）......閱讀全文
反射電子顯微鏡的功能介紹
中文名稱反射電子顯微鏡英文名稱reflection electron microscope定 義由樣品反射的電子束使其成像的電子顯微鏡。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子顯微鏡（三級學科）
反射電子顯微鏡的功能介紹
中文名稱反射電子顯微鏡英文名稱reflection electron microscope定 義由樣品反射的電子束使其成像的電子顯微鏡。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子顯微鏡（三級學科）
反射系統的功能介紹
中文名稱反射系統英文名稱catoptric system定 義利用光的反射作用的光學系統。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），光學儀器一般名詞（三級學科）
折反射系統的功能介紹
中文名稱折反射系統英文名稱catadioptric system定 義利用光的折射作用和反射作用的光學系統。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），光學儀器一般名詞（三級學科）
反射電子顯微鏡的功－能介紹
?中文名稱反射電子顯微鏡英文名稱reflection electron microscope定 義由樣品反射的電子束使其成像的電子顯微鏡。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子顯微鏡（三級學科）
反射比測定儀的功能介紹
中文名稱反射比測定儀英文名稱reflectometer定 義測定反射比的儀器。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），光學測試儀器（三級學科）
反射比測定儀的功能介紹
中文名稱反射比測定儀英文名稱reflectometer定 義測定反射比的儀器。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），光學測試儀器（三級學科）
拋物面[反射]鏡的功能介紹
中文名稱拋物面[反射]鏡英文名稱parabolical mirror定 義反射面為拋物面的反射鏡。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），光學儀器一般名詞（三級學科）
關于神經核的反射功能的介紹
1、紅核red nucleus：位于中腦上丘平面的被蓋部，呈圓柱狀。主要接受來自小腦和大腦皮質的傳入纖維，并發出紅核脊髓束，相互交叉后到對側，下行至脊髓。 2、黑質substantia nigra：位于中腦被蓋和大腦腳底之間的板狀灰質，延伸于中腦全長，可分為背側的致密部和腹側的網狀部。黑質的細
雙圈反射測角儀的功能介紹
雙圈反射測角儀（two circle reflection goniometer）比單圈反射測角儀多一個直立圈，使晶體可繞互相垂直的兩個軸任意轉動，大大簡化了測量手續，是晶體測量的主要儀器。用接觸測角儀或單圈反射測角儀測得的是每兩個晶面法線間的夾角值，即面角值。而由雙圈反射測角儀測得的則是每一個晶面
單圈反射測角儀的功能介紹
單圈反射測角儀（one circle reflection goniometer）主要由水平圈、光管、視物管（望遠鏡）和掣晶臺四部分組成。根據晶面對光線反射的性質，利用光學系統進行測量，精度較高，可達1′，適用于測量粒徑約數毫米而且晶面平整光滑的小晶體。
單圈反射測角儀的功能介紹
單圈反射測角儀（one circle reflection goniometer）主要由水平圈、光管、視物管（望遠鏡）和掣晶臺四部分組成。根據晶面對光線反射的性質，利用光學系統進行測量，精度較高，可達1′，適用于測量粒徑約數毫米而且晶面平整光滑的小晶體。
雙圈反射測角儀的功能介紹
雙圈反射測角儀（two circle reflection goniometer）比單圈反射測角儀多一個直立圈，使晶體可繞互相垂直的兩個軸任意轉動，大大簡化了測量手續，是晶體測量的主要儀器。用接觸測角儀或單圈反射測角儀測得的是每兩個晶面法線間的夾角值，即面角值。而由雙圈反射測角儀測得的則是每一個晶面
內反射元件的功能特點
中文名稱內反射元件英文名稱internal reflection element定 義在反射光譜中，為得到物質的內反射光譜，建立必要條件所使用的透明光學元件。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），顯微鏡-顯微鏡基本附件（三級學科）
靜電電子顯微鏡的功能介紹
中文名稱靜電電子顯微鏡英文名稱electrostatic electron microscope定 義采用靜電式電子透射的電子顯微鏡。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子顯微鏡（三級學科）
電子顯微鏡的結構功能介紹
電子顯微鏡，簡稱電鏡，英文名Electron Microscope（簡稱EM），經過五十多年的發展已成為現代科學技術中不可缺少的重要工具。電子顯微鏡由鏡筒、真空裝置和電源柜三部分組成。
掃描電子顯微鏡的功能介紹
掃描電子顯微鏡的電子束不穿過樣品，僅以電子束盡量聚焦在樣本的一小塊地方，然后一行一行地掃描樣本。入射的電子導致樣本表面被激發出次級電子。顯微鏡觀察的是這些每個點散射出來的電子，放在樣品旁的閃爍晶體接收這些次級電子，通過放大后調制顯像管的電子束強度，從而改變顯像管熒光屏上的亮度。圖像為立體形象，反映了
掃描電子顯微鏡的功能介紹
掃描電子顯微鏡（SEM）是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質間的相互作用，來激發各種物理信息，對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達到1nm；放大倍數可以達到30萬倍及以
靜電電子顯微鏡的功能介紹
中文名稱靜電電子顯微鏡英文名稱electrostatic electron microscope定 義采用靜電式電子透射的電子顯微鏡。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子顯微鏡（三級學科）
電子顯微鏡的結構功能介紹
電子顯微鏡，簡稱電鏡，英文名Electron Microscope（簡稱EM），經過五十多年的發展已成為現代科學技術中不可缺少的重要工具。電子顯微鏡由鏡筒、真空裝置和電源柜三部分組成。電子顯微鏡技術的應用是建立在光學顯微鏡的基礎之上的，光學顯微鏡的分辨率為0.2μm，透射電子顯微鏡的分辨率為0.2n
掃描電子顯微鏡的功能介紹
掃描電子顯微鏡的電子束不穿過樣品，僅以電子束盡量聚焦在樣本的一小塊地方，然后一行一行地掃描樣本。入射的電子導致樣本表面被激發出次級電子。顯微鏡觀察的是這些每個點散射出來的電子，放在樣品旁的閃爍晶體接收這些次級電子，通過放大后調制顯像管的電子束強度，從而改變顯像管熒光屏上的亮度。圖像為立體形象，反映了
逆反射系數測量儀的功能特性介紹
手持式多角度標志檢測儀是一種用于現場測量逆反射材料光度性能（逆反射系數R'）的儀器。 它是一種使用方便的手提式光電儀器，可用于交通安全管理和公路、鐵路、航空等有關部門對逆反射標志等進行現場實測； 1.jpg 也可用于對貨車類機動車車身反光標識反光性能的測量，用于對生產
腱反射的介紹
腱反射，又稱深反射，其實是指快速牽拉肌腱時發生的不自主的肌肉收縮，其實是肌牽張反射的一種（另一種為肌緊張）。腱反射的傳入纖維直徑較粗（12至20微米），傳導速度較快（90m/s以上）。腱反射是單突觸反射，反射的潛伏期很短（約0.7ms）。例如膝反射，叩擊膝關節下的股四頭肌肌腱，股四頭肌即發生一次
角膜反射的介紹
其反射弧在于腦橋，輸入纖維為三叉神經第一支（眼神經）之分支鼻睫神經，傳出神經為面神經顴支。 角膜處的三叉神經纖維受到機械刺激后，傳至感覺核簇，再傳至面神經核引起閉眼，傳至上泌涎核引起流淚。[1] 刺激—側角膜→對側出現眼瞼閉合反應→間接角膜反射。 反射弧：角膜→三叉神經的眼神經→三叉神經腦
什么是反射電子顯微鏡－REM？
反射電子顯微鏡涉及檢測從被檢查的樣品反射的彈性散射電子束。反射高能電子衍射?(RHEED)?和反射高能損失光譜?(RHELS)?技術通常用于此類顯微鏡。由于電子顯微鏡的原理及用途也各不相同，所以應用領域也不同。比如：TEM透射電鏡廣泛應用于科研實驗室主要用于來研究細菌、組織切片和其他微生物。另外，S
反射光柵的功能特點
在高反射率的金屬上鍍上一層金屬膜，并在鏡面金屬膜上刻劃一系列平行等寬、等距的刻線，這種使白光反射，又能使光色散的光柵，稱為反射光柵。
低壓電子顯微鏡的功能介紹
中文名稱低壓電子顯微鏡英文名稱low voltage electron microscope定 義加速電壓在50kV以下的透射電子顯微鏡和加速電壓在10kV以下的掃描電子顯微鏡。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子顯微鏡（三級學科）
透射電子顯微鏡的功能介紹
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的透射
低壓電子顯微鏡的功能介紹
中文名稱低壓電子顯微鏡英文名稱low voltage electron microscope定 義加速電壓在50kV以下的透射電子顯微鏡和加速電壓在10kV以下的掃描電子顯微鏡。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子顯微鏡（三級學科）
透射電子顯微鏡的功能介紹
因電子束穿透樣品后，再用電子透鏡成像放大而得名。它的光路與光學顯微鏡相仿，可以直接獲得一個樣本的投影。通過改變物鏡的透鏡系統人們可以直接放大物鏡的焦點的像。由此人們可以獲得電子衍射像。使用這個像可以分析樣本的晶體結構。在這種電子顯微鏡中，圖像細節的對比度是由樣品的原子對電子束的散射形成的。由于電子需