AFM，是指原子力顯微鏡。它是繼掃描隧道顯微鏡之后發明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環境下對各種材料和樣品進行納米區域的物理性質包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱，現已廣泛應用于半導體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫藥研究和科研院所各種納米相關學科的研究實驗等領域中，成為納米科學研究的基本工具。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。
隨著5G技術的發展，依靠電磁波作為信息載體的電子設備被廣泛應用于民用及軍事領域。然而，電磁波在促進人類社會發展的同時，也帶來了不容忽視的輻射污染。電磁波吸收材料（簡稱吸波材料）可以吸收投射到它表面的電......
株式會社日立高新技術（社長：飯泉孝／以下稱：日立高新技術）將于近期開始銷售小型探針顯微鏡AFM100系列，該系列追求操作性并提高了處理量，可用于科學研究開發以及質量管理，包括原子力顯微鏡（AFM：At......
中國科學技術大學單分子科學團隊侯建國院士、王兵教授、譚世倞教授等發展了多種掃描探針顯微成像聯用技術，實現對單分子在電、力、光等外場作用下不同內稟參量響應的精密測量，在單化學鍵精度上實現單分子多重特異性......
中國科學技術大學單分子科學團隊侯建國院士、王兵教授、譚世倞教授等發展了多種掃描探針顯微成像聯用技術，實現對單分子在電、力、光等外場作用下不同內稟參量響應的精密測量，在單化學鍵精度上實現單分子多重特異性......
原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣......
原子力顯微鏡（atomicforcemicroscope，簡稱AFM），也稱掃描力顯微鏡（scanningforcemicroscopy，SFM)）是一種納米級高分辨的掃描探針顯微鏡，是由IBM蘇黎士......
分析測試百科網訊布魯克今天宣布發布NanoRacer高速AFM系統。憑借每秒50幀的前所未有的成像速度，這為高速掃描功能樹立了新的里程碑，從而可以使用原子力顯微鏡（AFM）實時實時顯示動態生物過程。與......
掃描隧道顯微鏡的基本原理是將原子線度的極細探針和被研究物質的表面作為兩個電極，當樣品與針尖的距離非常接近(通常小于1nm)時，在外加電場的作用下，電子會穿過兩個電極之間的勢壘流向另一電極。利用掃描隧道......
AFM全稱AtomicForceMicroscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（ScanningTunnelingMicroscope）之后發明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣......
中國科學院物理研究所/北京凝聚態物理國家研究中心王恩哥院士與北京大學物理學院量子材料中心江穎、徐莉梅以及美國內布拉斯加大學林肯分校曽曉成合作，利用高分辨qPlus型原子力顯微鏡技術，首次在實驗上證實了......