TESCANTESNOR–關于傳承，追求和期待的故事

發布時間：2022-11-30 16:07 原文鏈接： TESCANTESNOR–關于傳承，追求和期待的故事

2022年11月25-28日，由電鏡學會電子顯微學報編輯部主辦、南方科技大學承辦的“2022年全國電子顯微學學術年會”在東莞市會展國際大酒店龍泉廳順利召開。受全球持續的新冠疫情影響，大會主會場和12個專題分會場采用線下交流+線上直播方式進行，吸引來自高校院所、企事業單位等電子顯微學領域專家學者三千余人次線上、線下參會。TESCAN公司馮駿總經理在大會上以《傳承創新跨越 | TESCAN 4D STEM -- TENSOR》為主題，介紹了 TESCAN 剛剛發布的第一臺掃描透射電鏡 TESCAN TENSOR。

TESCAN中國區總經理馮駿，《傳承創新跨越 | TESCAN 4D STEM -- TENSOR》

TESCAN的電子光學技術可追溯到其前身捷克Tesla公司，早在上世紀50年代，Tesla就已經推出了非常優異的臺式TEM。而這次 TESCAN 既傳承了傳統的電子光學技術，又獨具創新地加入了很多非常有特色的功能。TESCAN TENSOR是首個高度集成的4D STEM，采用100kV的肖特基場發射電子槍，并集成了旋進電子衍射和直讀電子探測器，具有超快的采集和實時分析速度。而且創新的操作軟件使得 4D STEM 的操作變得像SEM一樣容易使用，即使是新手也能快速上手。

TESCAN 資深應用工程師余妍在第八分會場做了關于《TESCAN Xe PFIB在材料加工中的最新進展》的報告，TESCAN是全球首家將等離子FIB 集成到掃描電子顯微鏡（SEM）中的制造商， TESCAN Xe PFIB 解決很多 Ga FIB在材料加工中遇到的問題，例如加工尺寸限制、鎵注入污染、非晶化損傷等。Xe PFIB具有優勢包括實現特殊結構高質量大尺度截面制備（引入silicon mask作為保護層）、高效高質量大尺度截面加工（引入搖擺樣品臺）、避免鎵離子注入對材料性能的影響、實現大體積三維重構。通過搖擺樣品臺和silicon maskZL技術可以有效去除窗簾效應和臺階效應，不僅可以高效高質量地完成大面積截面加工和大體積三維重構，也能做無Ga注入的TEM、APT樣品制備等精細加工。

TESCAN 資深應用工程師余妍，《TESCAN Xe PFIB在材料加工中的最新進展》

TESCAN 應用專家李景在第七分會場以《TESCAN 電鏡在顯微表征上應用》為主題介紹了TESCAN電鏡在金屬材料顯微表征上的應用，從常規的形貌觀察，獨特的超大視野模式和景深模式能夠幫助金屬材料失效分析實現從低倍整體到高倍局部的連續觀察，到使用常規BSE探測器實現成分襯度和ECCI襯度的觀察，能夠在掃描下實現位錯等缺陷的觀察。同時，FIB-SEM 雙束產品能夠在各種金屬材料上實現定點加工，包括垂直和水平截面制備、TEM樣品制備、三維重構以及各種用于原位力學分析的微米或者納米級樣品的加工，為了提高整個電鏡平臺的分析性能，TESCAN也將TOF-SMIS 和拉曼集成在電鏡平臺上，TOF-SMIS能夠從H元素開始分析，檢出限可以達到PPM級，所以對于金屬材料中關心的H或者一些痕量元素都可以很好的表征，拉曼能夠對金屬基復合材料中添加的石墨烯等材料的分布或者質量做很好的分析。