高速微型光譜儀

關鍵技術

全譜段技術  采用專利的EX可變閃耀光柵和漸變消高階濾光片技術，解決了寬譜段效率均衡與高階干擾的問題，zei寬譜段覆蓋范圍達200~1100nm。

高速光譜傳輸技術  使用高速CCD和高速處理芯片及算法，實現微妙量級光譜檢測。

低雜散光技術  低雜散光技術能夠有效地降低光譜儀內部的雜散光，內部噴涂航天級高吸光材料,有效抑制雜散光形成。

紫外敏化技術  選擇特殊高穩定熒光物質進行CCD紫外敏化鍍膜,在較低成本下實現了深紫外光譜探測。

超輕便技術  獨特的光路設計和內部空間布局,為同類產品厚度之zei薄,同時,也保持了優異的光學性能。

　　1、具有高速控制技術，能在1 ms 內設定新的積分時間

　　2、具有標志位技術，上位機可隨時查詢采譜完成狀態

　　3、探測范圍覆蓋200~1100 nm 全譜段，即全譜段技術

　　4、提供zei高 0.19 nm 光學分辨率

　　5、擁有1300:1 的動態范圍和260:1 的信噪比

　　6、支持3種外觸發模式

　　7、尺寸小，重量輕，即超輕便設計

　　8、擁有 72.5 mm 焦距，即長焦光學設計

　　9、提供2種完備的底層調用技術，包括USB指令集和Morpho-Driver 二次開發包(SDK)

探測器（典型值）

項目 值 名稱 Sony ILX554B linear Si CCD array 探測范圍 200~1100 nm 像素數量 2048 pixels 像素大小 14 x 56 μm2

光譜儀

項目 值 尺寸（mm） 128 x 90 x 27 重量（g） 410 光學分辨率 0.25~10.00 nm, FWHM 信噪比 260:1 A/D位數 16 bits 暗噪聲 50 RMS 動態范圍 1300:1 積分時間 1 ms~60 s 雜散光 26 @ 600 nm 矯正線性度 ＞ 99%

電學特性