1984年本文作者在參加了匹茲堡會議以后,曾在本刊發表的文章中預測X射線能譜儀已經進入了一個新的發展階段。除了元素分析以外,能譜儀將不斷地開發新的綜合的顯微分析功能,而圖象處理和圖象分析是其一個主要方面。自此以后,在中國于1985、1987和1989年召開了三屆北京分析測試學術報告和展覽會(BCEIA),會上所展示的能譜儀充分證實了上述預測。在這5年內各公司生產的能譜儀無不在圖象處理和圖象分析方面大下功夫,并不斷于以擴展和提高
