產品型號: X'Pert PRO
生產廠家:荷蘭帕納科公司PANalytical B.V.（原飛利浦分析儀器）
儀器介紹:X'Pert PRO X射線衍射儀采用陶瓷χ光管、DOPS直接光學定位傳感器精確定位和最優化的控制臺及新型窗口軟件。采用模塊化設計，可針對不同的要求采用最優的光學系統，從而得到最佳的實驗數據，達到最高的實驗效率。
主要附件：高、低溫附件（室溫至1600°；-193°~450°）；多功能樣品臺（可放直徑100mm，高度100mm尺寸內的最大載重1KG的樣品）；薄膜附件。
技術參數:
χ射線發生器： 最大功率：3KW最大管壓：60KV最大管流：60mA
陶瓷χ光管： 最大功率：2.2KW（Cu靶）最大管壓：60KV最大管流：55mA
測角儀： 掃描方式：θ/θ或2θ/θ模式角度重現性：±0.0001°(空載)
探測器： 正比探測器：99%線性范圍1×106cps，最大背景≤0.2cps ；半導體陣列探測器：最大計數率4×106cps，99%線性范圍1×106cps，最大背景≤0.1cps
技術特點:
預校準光路全模塊化,不同光路系統及各種樣品臺等附件均可以在幾分鐘內實現高精度的更換。X'Celerator超能探測器接收效率、靈敏度、穩定性高。配備相應軟件及PDF-2國際粉末衍射數據庫，可進行物相定性定量分析，點陣參數測定，晶粒大小/微觀應力分析，殘余應力分析及薄膜分析。
應用范圍:廣泛應用于物理、化學、藥物學、冶金學、高分子材料、生命科學及材料科學。可以分析黏土礦物、合金、陶瓷、食品、藥物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半導體材料、超導材料、納米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鑒定，材料可以是單晶體、多晶體、纖維、薄膜等片狀、塊狀、粉末狀固體。