儀器名稱: | 高分辨場發射掃描電鏡 |
儀器編號: | 20009957 |
產地: | 英國 |
生產廠家: | ZEISS |
型號: | GeminiSEM 300 |
出廠日期: | |
購置日期: | 2020-08-26 |
所屬單位: | 集成電路學院>微納加工平臺>測試與分析 |
放置地點: | 微電子與納電子學系一層微納加工平臺 |
固定電話: | 01062784044-216 |
固定手機: | 13552207495 |
固定email: | chenyalu@mail.tsinghua.edu.cn |
聯系人: | 陳雅璐(010-62782076,13552207495,chenyalu@mail.tsinghua.edu.cn) 竇維治(010-62781090,13366273985,douwz@tsinghua.edu.cn) |
分類標簽: | 能譜儀 高分辨 掃描電鏡 |
技術指標: | 配備高分辨二次電子探頭(Inlen SE),二次電子探測器(ETSE),背散射探頭,以及能譜儀和導航定位。 分辨率:0.7nm 15kV(二次電子),1.2nm 1kV(二次電子)。 放大倍數12-2000000倍。 加速電壓和著陸電壓可調范圍:0.02-30kV,10V步進。 工作距離:0.1mm-50mm,連續可調。 樣品臺最大移動行程:X/Y=130mm,Z=50mm,T=-4°~70°,R=360°。 樣品倉尺寸:內部直徑330mm,高度270mm,最大樣品尺寸200mm。 真空度:電子槍優于10-7Pa,樣品倉優于10-4Pa。 |
知名用戶: | 尤政:精儀系 陳兢:北京大學信息學院朱榮:精儀系 嚴清峰:化學系 任大海:精儀系 梁桂強:機械系 錢鶴:微電子所 吳華強:微電子所 蔡堅:微電子所 王喆垚:微電子所 伍曉明:微電子所 王敬:微電子所 鄧寧:微電子所 劉澤文:微電子所 |
技術團隊: | 測試工程師:陳雅璐 設備工程師:魯勇 |
功能特色: | 配備高分辨二次電子探頭(In-lens探頭),能譜儀。 具備大尺寸樣品測試條件。 具備導航定位功能。 |
樣品要求:
樣品直徑小于200mm。
導電性較高。
預約說明:
該設備需預約使用,按預約時間計費,如有特殊情況請在預約時間開始之前與設備管理員聯系取消預約。單次預約時間開始30min后未使用該設備的默認放棄本次預約時間,其他用戶可以在該時間段使用本設備。需要管理員輔助的請選擇”需要管理員輔助“。
項目名稱 | 計價單位 | 費用類別 | 價格 | 備注 |
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SEM自主上機 | 元/小時 | 自主上機機時費 | 700.0 |
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