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  • 發布時間:2024-05-30 16:59 原文鏈接: ZEISS高分辨場發射掃描電鏡共享

    儀器名稱:高分辨場發射掃描電鏡
    儀器編號:20009957
    產地:英國
    生產廠家:ZEISS
    型號:GeminiSEM 300
    出廠日期:
    購置日期:2020-08-26

    image.png

    所屬單位:集成電路學院>微納加工平臺>測試與分析
    放置地點:微電子與納電子學系一層微納加工平臺
    固定電話:01062784044-216
    固定手機:13552207495
    固定email:chenyalu@mail.tsinghua.edu.cn
    聯系人:陳雅璐(010-62782076,13552207495,chenyalu@mail.tsinghua.edu.cn)
    竇維治(010-62781090,13366273985,douwz@tsinghua.edu.cn)
    分類標簽:能譜儀 高分辨 掃描電鏡
    技術指標:

    配備高分辨二次電子探頭(Inlen SE),二次電子探測器(ETSE),背散射探頭,以及能譜儀和導航定位。

    分辨率:0.7nm 15kV(二次電子),1.2nm 1kV(二次電子)。

    放大倍數12-2000000倍。

    加速電壓和著陸電壓可調范圍:0.02-30kV,10V步進。

    工作距離:0.1mm-50mm,連續可調。

    樣品臺最大移動行程:X/Y=130mm,Z=50mm,T=-4°~70°,R=360°。

    樣品倉尺寸:內部直徑330mm,高度270mm,最大樣品尺寸200mm。

    真空度:電子槍優于10-7Pa,樣品倉優于10-4Pa。

    知名用戶:尤政:精儀系 陳兢:北京大學信息學院朱榮:精儀系 嚴清峰:化學系 任大海:精儀系 梁桂強:機械系 錢鶴:微電子所 吳華強:微電子所 蔡堅:微電子所 王喆垚:微電子所 伍曉明:微電子所 王敬:微電子所 鄧寧:微電子所 劉澤文:微電子所
    技術團隊:

    測試工程師:陳雅璐

    設備工程師:魯勇

    功能特色:

    配備高分辨二次電子探頭(In-lens探頭),能譜儀。

    具備大尺寸樣品測試條件。

    具備導航定位功能。

    樣品要求:

    樣品直徑小于200mm。

    導電性較高。


    預約說明:

    該設備需預約使用,按預約時間計費,如有特殊情況請在預約時間開始之前與設備管理員聯系取消預約。單次預約時間開始30min后未使用該設備的默認放棄本次預約時間,其他用戶可以在該時間段使用本設備。需要管理員輔助的請選擇”需要管理員輔助“。

    項目名稱計價單位費用類別價格備注
    SEM自主上機元/小時自主上機機時費700.0


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