布魯克推出全新AFM系統可實現原子級生命科學成像功能
分析測試百科網訊 近日，布魯克宣布推出JPK NanoWizard? ULTRA Speed 2先進AFM系統，據悉，該系統將AFM的高速和高分辨率成像系統與先進生物成像功能相結合，并且該系統是布魯克JPK BioAFM業務的第一個新產品。憑借AFM每秒10幀的掃描速度，這套系統可以實現真正的原子級分辨率和先進的生命科學功能，JPK NanoWizard ULTRA Speed 2系統的推出提高了先進顯微鏡應用的技術性能標準。 JPK在AFM領域與先進光學技術相結合領域處于市場領先地位，其研制并生產的相位，DIC，共聚焦或旋轉盤，單分子方法（FRET，FCS，TIRF，FLIM，FRAP），超分辨率方法（STED，PALM / STORM） ，SIM）以及諸如拉曼或多光子顯微鏡等技術，使新系統能夠提供前所未有的水平。新款JPK NanoWizard ULTRA Speed 2還配備了布魯克獨有的PeakForceTappi......閱讀全文
布魯克收購日本拉曼顯微研究技術領導者Nanophoton－Corporation
根據美國商業資訊，布魯克公司（Bruker Corporation， Nasdaq： BRKR）日前宣布收購Nanophoton Corporation，后者是一家專注于先進研究拉曼顯微鏡系統的先驅。Nanophoton 總部位于大阪，提供廣泛的先進產品組合顯微拉曼光譜儀，主要服務于日本的學術和
JPK－NanoWizard－4－BioScience生物型原子力顯微鏡
JPK NanoWizard 4 BioScience生物型原子力顯微鏡 產品技術特點——JPK公司的AFM產品，現在最新的型號為分別為：NanoWizard ?4 和NanoWizard ? ?Ultraspeed。產品的技術特點歸納起來有以下幾點： 1. 掃描器全部采用目前業界最好的平半閉環
生命科學研究領域常用的小動物成像設備
生命科學研究領域常用的小動物成像設備如：核磁共振成像MRI、計算機斷層成像CT、計算機X線成像PET、單光子發射斷層掃描SPET和光學成像儀器設備等，為該領域研究提供了各種成像方式。 1999年，美國哈佛大學Weissleder等人提出了分子影像學(molecular imaging)的概
雷尼紹在MRS－Fall會上發布最新聯用成果
雷尼紹公司在波士頓MRS Fall會議上正式介紹了公司與布魯克（Bruker Nano）合作成功研發的最新拉曼光譜儀與原子力顯微鏡聯用系統，受到與會代表們的稱贊。這一消息的公布再次證明雷尼紹公司技術創新的企業宗旨。 此款Raman-AFM聯用系統是由雷尼紹最高自動化程度的inVia-R
布魯克發布多重空間蛋白組學和microGRID成像創新技術
● 靶蛋白快速、大視野的 MALDI HiPLEX-IHC 成像，并把新鮮冷凍或 FFPE 組織切片小分子 MALDI 成像數據疊加，為空間生物學和癌癥研究提供了具有說服力的創新性證據； ● 基于 MALDI 定位的 timsTOF fleX 平臺，全新 microGRID 技術可在低至 5
布魯克發布多重空間蛋白組學和microGRID成像創新技術
靶蛋白快速、大視野的 MALDI HiPLEX-IHC 成像，并把新鮮冷凍或 FFPE 組織切片小分子 MALDI 成像數據疊加，為空間生物學和癌癥研究提供了具有說服力的創新性證據； 基于 MALDI 定位的 timsTOF fleX 平臺，全新 microGRID 技術可在低至 5 μm
布魯克推出多重蛋白MALDI成像和空間蛋白組學新產品
摘要 * 布魯克使用 AmberGen 的 HiPLEX-IHC 肽編碼抗體探針，結合全覆蓋脂質組學、糖組學和代謝組學成像技術，為 timsTOF fleX 推出新型 MALDI HiPLEX-IHC 組織成像解決方案。 * 新的 Canopy CellScape? 單細胞、高度定量的空間蛋
布魯克發布世界最快的原子力顯微鏡新品
美國加利福尼亞州當地時間2011年5月2日，布魯克（Bruker）發布了一款具有創新性和獨特外形的原子力顯微鏡新品――Dimension FastScanTM，該產品在不犧牲納米級分辨率的前提下提高顯微鏡成像速度方面取得了重大突破。Dimension FastScanTM比其他AFM掃
AFM盤點：主流產品技術特點
自首臺AFM問世以來，由于其區別于電子顯微鏡，可提供真正三維表面圖像;樣品無需特殊處理，減免樣品不可逆轉傷害;常壓、液體工作環境的允許，可用來研究生物宏觀分子，甚至活的生物組織;不受樣品導電性質的限制，擁有比STM更廣泛的應用等優點。在短短31年的時間里，AFM表征技術得到了迅速的發展。AFM系統主
總裁專訪：構建后基因組學生態－布魯克引領質譜技術前沿
——布魯克生命科學質譜事業部總裁Rohan Thakur博士專訪隨著第1000套timsTOF的安裝，再次彰顯布魯克在高端前沿質譜領域獲得的巨大成功。近年來，布魯克在單細胞組學、4D多組學、空間定位組學、質譜成像等領域不斷實現技術突破，2024年ASMS，布魯克不僅推出更高靈敏度的timsTOF U
布魯克2011年收入預計可達15.7億美元
2011年8月3日消息 布魯克(納斯達克股票代碼：BRKR)今天對外公布，公司在截至2011年6月30日前三個月及六個月的財務業績。 2011年第二季度業績亮點： 與去年同期相比，布魯克第二季度的收入上升33%，增加至4.012億美元，不考慮外幣換算的影響，收入則上升了21%
ASMS－新品速遞－|－neofleX－MALDITOF/TOF－引領多分子維度空間成像革命
· neofleX?是一款高配置、多功能且易于操作的空間多組學成像系統，專為生物制藥、轉化醫學和臨床科研而設計； ·?neofleX? Imaging Profiler配備了布魯克專利的smartbeam 3D激光器； ·?neofleX?結合MALDI HiPLEX-IHC工作流程可實現靶
原子力顯微鏡探針針尖形貌盲重構
隨著微電子學、材料學、精密機械學、生命科學和生物學等的研究深入到原子尺度,納米加工工藝要求逐步提高,納米尺度精密測量和量值傳遞標準需求越來越大。為此,迫切需要具有計量功能的納米、亞納米精度測量系統(包括測量儀器和標定樣品等)。原子力顯微鏡(AFM)是目前最重要、應用最廣泛的納米測量儀器之一,是真正意
2016北京市電子顯微學年會召開－探討電鏡技術應用新進展
分析測試百科網訊 2016年12月20日，2016年度北京市電子顯微學年會在北京天文館召開，會議旨在推動北京及周邊省市廣大電子顯微學學術及技術水平，促進電子顯微學工作者在材料科學、生命科學等領域的應用、發展和交流。來自電子顯微學領域相關單位的200余人參加了此次會議。2016年度北京市電子顯微學
Park原子力顯微鏡完成其對Molecular－Vista的股權投資
2020年4月29日，Park原子力顯微鏡宣布最終完成對美國加州圣何塞的Molecular Vista進行的股權投資。Molecular Vista作為一家AFM的生產商，該公司主要聚焦于基于光誘導力顯微鏡的納米紅外技術（IR PiFM）進行AFM紅外聯用的定量可視化研究工作，從而實現分子水平上
AFM形態結構
形態結構 作為新興的形態結構成像技術，AFM實現了對接近自然生理條件下生物樣品的觀察。這主要由于它具備以下幾個特點: 1).與掃描電鏡和透射電鏡這些高分辨的觀測技術相比，樣品制備過程簡便，可以不需染色、包埋、電鍍、電子束的照射等處理過程; 2).除對大氣中干燥固定后樣品的觀察外，還能對液體中樣
AFM應用實例
應用實例?? 1．應用于紙張質量檢驗。 2．應用于陶瓷膜表面形貌分析。 3．評定材料納米尺度表面形貌特征? 原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而
AFM工作原理
AFM工作原理?????????將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一個微小的針尖，其尖端原子與樣品表面原子間存在及極微弱的排斥力，利用光學檢測法或隧道電流檢測法，通過測量針尖與樣品表面原子間的作用力獲得樣品表面形貌的三維信息。圖1 AFM?工作原理示意圖?下面，我們以激光檢測原子力顯微鏡
AFM應用實例
應用實例1．應用于紙張質量檢驗。 2．應用于陶瓷膜表面形貌分析。 3．評定材料納米尺度表面形貌特征陶瓷膜表面形貌的三維圖象
AFM相移模式
相移模式(相位移模式)作為輕敲模式的一項重要的擴展技術，相移模式(相位移模式)是通過檢測驅動微懸臂探針振動的信號源的相位角與微懸臂探針實際振動的相位角之差（即兩者的相移）的變化來成像。引起該相移的因素很多，如樣品的組分、硬度、粘彈性質等。因此利用相移模式(相位移模式)，可以在納米尺度上獲得樣品表面局
AFM簡談
原子力顯微鏡（AFM）雖然名字里有“顯微鏡”三個字，但它并不像光學顯微鏡和電子顯微鏡那樣能“看”微觀下的物體，而是通過一根小小的探針來間接地感知物體表面的結構，得到樣品表面的三維形貌圖象，并可對三維形貌圖象進行粗糙度計算、厚AFM主要由帶針尖的微懸臂、微懸臂運動檢測裝置、監控其運動的反饋回路、使樣品
AFM位置檢測
位置檢測部分主要是由激光和激光檢測系統組成。而反饋系統中主要包含一系列的壓電陶瓷管。壓電陶瓷是一種性能奇特的材料，當在壓電陶瓷對稱的兩個端面加上電壓時，壓電陶瓷會按特定的方向伸長或縮短。而伸長或縮短的尺寸與所加的電壓的大小成線性關系。即可以通過改變電壓來控制壓電陶瓷的微小伸縮。通常把三個分別代表X，
AFM力學測量
力學測量在納米材料和器件的諸多性質中，力學性質不僅面廣而且也是評價納米材料和器件的主要指標，是納米材料和器件得以真正應用的關鍵。目前關于AFM的微納米力學研究，已在納米材料力學性質、納米摩擦等領域取得了較大進展。在AFM接觸模式下，研究樣品材料微納尺度內的形貌和力學性質(包括楊氏模量、硬度、粘彈性、
AFM電學測量
電學測量如果微懸臂是用導電材料制成或外層鍍有導電金屬層，則探針可作為一個移動電極來施加電壓和探測電流，從而來研究材料的微區電學性質，該技術通常稱為導電原子力顯微術(conductive-AFM，C-AFM)。利用導電原子力顯微術可以探測樣品的表面電荷、表面電勢、表面電阻、微區導電性、微區介電特性、非
AFM磁學測量
磁學測量磁性納米結構和材料在高密度磁存儲、自旋電子學等領域有著廣泛的應用前景，高空間分辨的磁成像和磁測量技術將有利于推動磁性納米結構和材料的研究。基于掃描探針及其相關技術，發展出一系列納米磁性成像與測量的技術和方法，包括磁力顯微術、磁交換力顯微術、掃描霍爾顯微術、掃描超導量子干涉器件顯微術、掃描磁共
AFM熱學測量
熱學測量目前，微納米尺度下的熱物性研究受到了極大的挑戰：一方面，許多熱物性的基礎概念性問題不清楚，如微觀尺度下非平衡態的溫度如何定義等；另一方面，傳統測試系統由于自身精度限制，很多熱物性參數都無法直接測量，因此，無論是微納尺度下熱傳導等的理論機制研究，還是微納電子學和能源器件中的熱傳導、熱耗散、熱轉
AFM光學測量
光學測量突破光學衍射極限實現納米級的光學成像與探測，一直是光學技術發展的前沿。2014 年諾貝爾化學獎授予了突破光學衍射極限的超分辨光學顯微成像技術，包括受激發射損耗顯微術、光敏定位顯微術、隨機光學重建顯微術、飽和結構照明顯微技術等。將AFM與光學技術結合起來，可以研究微納米尺度下的光學現象和進行光
快速AFM－技術
快速AFM 技術通常的AFM掃描速度較慢，不能滿足許多動態現象的研究需求，快速AFM 技術(high speed?AFM，HS-AFM)的核心限制因素是微懸臂探針的自然帶寬，其在真空、大氣及液體環境下分別是幾赫茲，幾千赫茲和幾萬赫茲。因此，在液體環境下更容易實現HS-AFM，但還需要具有高帶寬(兆赫
AFM應用舉例
?AFM應用舉例由于原子力顯微鏡對所分析樣品的導電性無要求，因此使其在諸多材料領域中得到了廣泛應用。透明導電的ITO薄膜，隨著成膜方法、膜厚、基底溫度等成膜條件變化，而表面形貌不同。將膜厚120nm（左）與450nm（右）的ITO薄膜進行比較時，隨著膜厚的增加，每個結晶顆粒明顯地長大。另外，明顯地觀
AFM檢測技術
? ? ? 原子力顯微鏡(Atomic Forcc Microscopc,AFM),也稱掃描力顯微鏡(scanning FOrccMicroscopc,sFM),是一種納米級高分辨的掃描探針顯微鏡,優于光學衍射極限1000倍。 ADM811原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德?賓寧與斯福