半導體電學測量
對于半導體材料的電阻率，一般采用四探針、三探針和擴展電阻。 四探針法是經常采用的一種，原理簡單，數據處理簡便。測量范圍為10-3-104 防 米， 能分辨毫米級材料的均勻性，適用于測量半導體材料、異型層、外延材料及擴散層、離 子注入層的電阻率，并能夠提供一個迅速的、不破壞的、較準確的測量。 采用四探針法測量相同導電類型、低阻襯底的外延層材料的電阻率時，由于流經材料的 電流會在低阻襯底中短路，因此得到的是襯底與外延層電阻率并聯的綜合結果。這時， 需要采用三探針法、擴展電阻法等。 三探針法是利用金屬探針與半導體材料接觸處的反向電流-電壓特性、測定擊穿時的電壓 來獲得材料電阻率的知識的。 C-V法利用PN結或肖特基勢壘在反向偏壓時的電容特性，可以獲......閱讀全文
半導體變流器
導體變流器是使用半導體閥器件的一種電力電子變流器，使電源系統的電壓、頻率、相數和其他電量或特性發生變化的電器設備。 定義 使用半導體閥器件的一種電力電子變流器。 術語 ①類似術語也適用于由具體類型的半導體或其他電子閥件組成的變流器或具體類型的變流器。例如晶閘管變流器，汞弧整流器，晶體管
半導體所揭示半導體界面電荷轉移機理
與傳統的太陽能電池相比，染料敏化太陽能電池具有原材料豐富、生產過程中無毒無污染、生產成本較低、結構簡單、易于制造、生產工藝簡單、易于大規模工業化生產等優勢，在清潔能源領域具有重要的應用價值。在過去二十多年里，染料敏化太陽能電池吸引了世界各國眾多科學家的研究，在染料、電極、電解質等各方面取得了很大
什么是半導體材料？常見半導體材料有哪些？
半導體材料是什么？半導體材料（semiconductor material）是一類具有半導體性能（導電能力介于導體與絕緣體之間，電阻率約在1mΩ·cm～1GΩ·cm范圍內）、可用來制作半導體器件和集成電路的電子材料。自然界的物質、材料按導電能力大小可分為導體、半導體和絕緣體三大類。半導體的電阻率在1
什么是半導體？
半導體（semiconductor）指常溫下導電性能介于導體與絕緣體之間的材料。
半導體參數儀
半導體參數儀是一種用于物理學領域的科學儀器，于2015年9月17日啟用。 4200-SCS/F半導體特性分析系統主機，2個高分辨率中功率SMU 最大電流100mA，最大電壓200V，最大功率2W 4200-SMU高分辨率中功率SMU（源測量單元） 最大電流100mA；最大電壓200V；最大功能
半導體電學測量
? 對于半導體材料的電阻率，一般采用四探針、三探針和擴展電阻。?????四探針法是經常采用的一種，原理簡單，數據處理簡便。測量范圍為10-3-104 防 米， 能分辨毫米級材料的均勻性，適用于測量半導體材料、異型層、外延材料及擴散層、離 子注入層的電阻率，并能夠提供一個迅速的、不破壞的、較準確的測量
半導體的特性
半導體的導電性能比導體差而比絕緣體強。實際上，半導體與導體、絕緣體的區別在不僅在于導電能力的不同，更重要的是半導體具有獨特的性能（特性）。?1． 在純凈的半導體中適當地摻入一定種類的極微量的雜質，半導體的導電性能就會成百萬倍的增加—-這是半導體zui顯著、zui突出的特性。例如，晶體管就是利用這種特
AFM測半導體
半導體加工通常需要測量高縱橫比結構,像溝槽和孔洞,確定刻蝕深度。然而如此信息用SEM 技術是無法直接得到的,除非將樣品沿截面切開。AFM 技術則恰恰彌補了SEM 的這一不足,它只掃描試樣的表面即可得到高度信息,且測量是無損的,半導體材料在測量后即可返回到生產線。AFM 不僅可以直觀地看到光柵的形貌,
解析半導體晶閘管
認識半導體晶閘管晶閘管又被稱做可控硅整流器，以前被簡稱為可控硅。1957年美國通用電氣公司開發出世界上第一款晶閘管產品，并于1958年將其商業化。晶閘管是PNPN四層半導體結構，形成三個PN結，分別稱：陽極，陰極和控制極。圖 晶閘管的結構晶閘管在工作過程中，它的陽極（A）和陰極（K）與電源和負載連接
聚焦半導體 韓國啟動半導體產業人才培養工程
韓國《中央日報》發布消息稱，韓國產業通商資源部近日舉辦了“半導體原材料、零件、技術裝備人才培養工程”啟動儀式。產業部表示，將開展培養半導體原材料、零件、技術裝備等相關人才培養的教育課程，并計劃通過該工程在5年間培養300名（每年60人）高級研發人員。 據了解，該人才培養工程由韓國半導體產業協會