簡介X射線機的分類
便攜式X射線機可分為醫用便攜式X射線機，工業X射線機檢查，皮帶X射線機檢查 X射線檢測設備檢測的大多是電子元器件，而電子元器件生產制造方面自然X射線檢測設備也就屬于X光機工業測試屬于此類。 購買X射線檢測設備主要考慮的就是其價格、用途、解析度、售后服務等綜合因素。進口品牌比國內品牌貴，但是國內品牌的性價比絕對不差，很多國內品牌品質高，價格也便宜，所以是大多數企業的首選日聯科技X射線檢測設備。......閱讀全文
X射線管原理簡介
X 射線管包含有陽極和陰極兩個電極，分別用于用于接受電子轟擊的靶材和發射電子的燈絲。兩級均被密封在高真空的玻璃或陶瓷外殼內。X 射線管供電部分至少包含有一個使燈絲加熱的低壓電源和一個給兩極施加高電壓的高壓發生器。當鎢絲通過足夠的電流使其產生電子云，且有足夠的電壓（千伏等級）加在陽極和陰極間，使得
X射線繞射法的簡介
物質結構的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法，但是X射線繞射是最有效的、應用最廣泛的手段，而且X射線繞射是人類用來研究物質微觀結構的第一種方法。X射線繞射的應用范圍非常廣泛，現已滲透到物理、化學、地球科學、材料科學以及各種工程技術科學中，成為一種重要的實驗方法和結構分
多晶x射線衍射的簡介
用 X射線衍射法研究多晶樣品的成分和結構的一種實驗方法，也稱粉末法。多晶是指由無數微細晶粒組成的細粉狀樣品或塊狀樣品。
X射線衍射分析的簡介
X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。每一種結晶物質，都有其特定的晶體結構，包括點陣類型、晶面間距等參數，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質受激發，會產生二次熒光X射線（標識X射線
X射線單色器的簡介
中文名稱X射線單色器英文名稱X-ray monochrometer定 義利用單晶體衍射作用以取得單色X射線束的裝置。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
X射線攝影裝置的簡介
一種X射線攝影裝置，具有使其徑向相對地面垂直地配置的圓環狀的保持體、可沿保持體的周面回轉地受到保持的圓環狀的回轉體、及分別配置在回轉體的內周面的徑向相向位置的X射線源和平板型2維X射線檢測器，使上述回轉體回轉，可獲得位于該回轉體內的空間內的被檢查體全周方向的X射線圖像數據。這樣，可獲得X射線管和
小角X射線散射的簡介
小角X射線散射（SAXS）是指當X射線透過試樣時，在靠近原光束2°～5°的小角度范圍內發生的散射現象。早在1930年，Krishnamurti就觀察到炭粉、炭黑和各種亞微觀大小的微粒在X射線透射光附近出現連續散射現象。 小角X射線散射被越來越多地應用于材料微觀結構研究，其研究趨勢逐年增長。小角
X射線衍射分析的簡介
定義： X射線衍射分析（X-ray diffraction，簡稱XRD），是利用晶體形成的X射線衍射，對物質進行內部原子在空間分布狀況的結構分析方法。 分析原理 當一束X射線入射到晶體時，首先被原子（電子）所散射，每個原子都是一個新的輻射源，向空間輻射出與入射波同頻率的電磁波。由于晶體是由
簡介X射線管的結構
固定陽極X射線管是常用X射線管中最簡單的一種，其結構由陽極、陰極和固定兩極并保持玻璃管內高真空的玻璃殼等三部分組成。 陽極由陽極頭、陽極帽、玻璃圈和陽極柄構成。陽極的主要作用使由陽極頭的靶面（一般選用鎢靶）阻擋高速運動的電子流而產生X射線，并將由此產生的熱量輻射或者通過陽極柄傳導出去，同時也吸
X射線單晶衍射的簡介
X射線單晶衍射（X-ray diffraction of single crystal）是2014年全國科學技術名詞審定委員會公布的藥學名詞，出自《藥學名詞》第二版。 當晶體被X射線照射時，晶體中各原子的散射X射線會疊加起來。當X射線為單色時，各原子的散射X射線發生干涉，在特定的方向上產生強的
X射線熒光分析技術分類
X射線熒光分析技術可以分為兩大類型：波長色散X射線熒光分析(WDXRF)和能量色散X射線熒光分析(EDXRF)；而能量色散型又根據探測器的類型分為(Si-PIN)型和SDD型。在不同的應用條件下，這幾種類型的技術各有其突出的特點。目前，X射線熒光分析不僅材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一
X射線熒光儀器的分類介紹
X射線熒光儀器根據能量分辨的原理不同，可分為波長色散型、能量色散X射線型和非色散型。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管作為激發源，產生入射X射線（一次X射線）用于激發被測樣品，受激發的樣品中的每一種元素都會放射出二次X射線。由于不同的元素所放射出的二次
X射線管的原理及分類
原理 X 射線管包含有陽極和陰極兩個電極，分別用于用于接受電子轟擊的靶材和發射電子的燈絲。兩級均被密封在高真空的玻璃或陶瓷外殼內。X 射線管供電部分至少包含有一個使燈絲加熱的低壓電源和一個給兩極施加高電壓的高壓發生器。當鎢絲通過足夠的電流使其產生電子云，且有足夠的電壓（千伏等級）加在陽極和陰極
X射線管的分類及結構
分類 按照產生電子的方式 ,X 射線管可分為充氣管和真空管兩類。 根據密封材質不同，可分為玻璃管、陶瓷管和金屬陶瓷管。 根據用途不同，可分為醫療 X 射線管和工業 X 射線管。 根據密封方式不同，可分為開放式 X 射線管和密閉式 X 射線管。開放式 X 射線管在使用過程中需要不斷抽真空。
關于x光機的X射線發現的介紹
X射線發現 1895年德國物理學家倫琴(W．C．R?ntgen)在研究陰極射線管中氣體放電現象時，用一只嵌有兩個金屬電極(一個叫做陽極，一個叫做陰極)的密封玻璃管，在電極兩端加上幾萬伏的高壓電，用抽氣機從玻璃管內抽出空氣。為了遮住高壓放電時的光線(一種弧光)外泄，在玻璃管外面套上一層黑色紙板。
XFR的X射線管的分類介紹
按照產生電子的方式 ,X 射線管可分為充氣管和真空管兩類。 根據密封材質不同，可分為玻璃管、陶瓷管和金屬陶瓷管。 根據用途不同，可分為醫療 X 射線管和工業 X 射線管。 根據密封方式不同，可分為開放式 X 射線管和密閉式 X 射線管。開放式 X 射線管在使用過程中需要不斷抽真空。密閉式
X射線機原理及構造
X射線機原理及構造、X射線的發現1895年德國物理學家倫琴(W．C．R?ntgen)在研究陰極射線管中氣體放電現象時，用一只嵌有兩個金屬電極(一個叫做陽極，一個叫做陰極)的密封玻璃管，在電極兩端加上幾萬伏的高壓電，用抽氣機從玻璃管內抽出空氣。為了遮住高壓放電時的光線(一種弧光)外泄，在玻璃管外面
X射線探傷機的選擇
怎樣根據需要去購置合適的，既經濟又實用的X射線探傷機，就必須正確地選擇X射線探傷機。一般選擇X射線探傷機都要考慮穿透能力、X射線管焦點大小、被檢工件形狀等。 X射線探傷機的穿透能力取決于X射線探傷機的容量，既X射線探傷機的管電壓，管電壓愈高，X射線愈硬，能量愈大，穿透能力就愈強，穿透能力與管電
X射線探傷機的應用
? ?X射線的發現在人類歷*具有極其重要的意義，它為自然科學和醫學開辟了一條嶄新的道路，為此1901年倫琴榮獲物理學個諾貝爾獎金。它的波長比可見光的波長更短(約在0.001～100nm，醫學上應用的X射線波長約在0.001。～0.1nm之間)，它的光子能量比可見光的光子能量大幾萬至幾十萬倍。因此，X
X射線探傷機的選擇
X射線探傷機造船、石油、化工、機械、航天、交通和建筑等工業部門檢查船體、管道、高壓容器、鍋爐、飛機、車輛和橋梁等材料、零部件加工焊接質量，以及各種輕金屬、橡膠、陶瓷等加工件的質量。利用X射線透照攝影的方法，從X射線膠片上顯示出材料加工成的零件和焊接的內部缺陷，以評定制品的質量。怎樣根據需要去購置合適
X射線探傷機的應用
X射線的發現在人類歷史上具有極其重要的意義，它為自然科學和醫學開辟了一條嶄新的道路，為此1901年倫琴榮獲物理學第一個諾貝爾獎金。它的波長比可見光的波長更短(約在0.001～100nm，醫學上應用的X射線波長約在0.001。～0.1nm之間)，它的光子能量比可見光的光子能量大幾萬至幾十萬倍。因
X射線分析器的簡介
中文名稱X射線分析器英文名稱X-ray analyzer定 義對X射線波長進行分析的儀器。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
關于X射線熒光分析的簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級x射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級x射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。
吸收X射線譜法的簡介
中文名稱吸收X射線譜法英文名稱absorption X-ray spectrum定 義利用試樣對X射線的特征吸收進行試樣元素定性定量分析的方法。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理（三級學科）
X射線檢查的簡介以及來源
X射線檢查 X-ray examination X 射線攝影需要用特制的感光膠片，由于X射線穿過人體時，人體內密度高的部位吸收X射線多，在膠片上乳劑感光少，沖洗后呈白色。反之，密度低部位呈灰或黑色，從而形成人體影像。膠片可以長期保存 。射線劑量少，但價格比透視貴。體層攝影為臨床上常用的一種特
發射X射線譜法的簡介
中文名稱發射X射線譜法英文名稱emission X-ray spectrum定 義利用X射線或電子束激發試樣產生的X射線，對試樣所包含的某種元素進行定量定性分析的方法。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理（三級學科）
X射線分析法的簡介
中文名稱X射線分析法英文名稱X-ray analysis定 義測量試樣在各種條件下所發射的特征X射線，或者是測定試樣的X射線衍射圖形，包括X射線衍射分析法、發射X射線譜法和吸收X射線譜法三類。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理（三級學
x射線衍射儀的原理簡介
x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是1912年德
X射線光譜儀的簡介
中文名稱X射線光譜儀英文名稱X-ray spectrometer定 義X射線波譜儀和X射線能譜儀的總稱。用于獲得試樣X射線光譜，并測量譜線的位置和強度。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
X射線熒光分析的技術簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。 X射線是一種電磁輻射，按傳統的說法，其波長介于紫外線和γ射線之間，但隨著高能電子加速器的發展，電子軔致輻射所產生的X射線的