顯微鏡照相室的功能介紹
中文名稱照相室英文名稱camera chamber定 義電子顯微鏡的記錄部分，用于拍攝樣品電子放大像的圖片。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），電子光學儀器-電子光學部件（三級學科）......閱讀全文
落射光顯微鏡的功能介紹
中文名稱落射光顯微鏡英文名稱epi-illumination microscope定 義照明光從物鏡方射入的顯微鏡。應用學科細胞生物學（一級學科），細胞生物學技術（二級學科）
偏光顯微鏡的功能介紹
偏光顯微鏡（Polarizing microscope）是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡，在地質學等理工科專業中有重要應用。凡具有雙折射的物質，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當然這些物質也可用染色法來進行觀察，但有些則不可用，而必須利用偏光顯微鏡。反射偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對
激光顯微鏡的功能介紹
激光顯微鏡(CLSM)由共聚焦顯微鏡和飛秒紅外激光器Verdi/Mira兩部分組成，是光學顯微鏡與現代激光技術，高靈敏探測技術，掃描控制技術以及微機圖象處理技術，熒光及標記技術的結合。CLSM為生命科學開拓了一條觀察生命活細胞的結構及特定分子、離子生物學變化的新途徑，成為分子細胞生物學，神經科學，藥
手術顯微鏡的功能介紹
手術顯微鏡主要適用于教學實驗中的解剖，微細血管和神經的縫合，以及其它需要借助于顯微鏡進行的精細手術或檢查。
比較顯微鏡的功能介紹
中文名稱比較顯微鏡英文名稱comparison microscope定 義將兩個標本成像在同一視場中進行比較觀察的顯微鏡。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），顯微鏡-顯微鏡名稱（三級學科）
讀數顯微鏡的功能介紹
讀數顯微鏡(reading microscope) 讀數顯微鏡是光學精密機械儀器中的一種讀數裝置，適用于有關計量單位，工廠的計量室或精密刻度車間對分劃尺或度盤的刻線進行對準檢查和測定工作。
工具顯微鏡的功能介紹
工具顯微鏡又稱工具制造用顯鏡，是一種工具制造時所用高精度的二次元坐標測量儀。它是利用光學原理將工件成像經物鏡投射至目鏡，即借著光線將工件放大成虛像，再利用裝物臺與目鏡網線 (eyepiece reticle) 等輔助， 以作為尺寸、角度和形狀等測量工作，可作為檢驗非金屬光澤的工件表面。
顯微鏡系統的功能介紹
中文名稱顯微鏡系統英文名稱microscopic system定 義能將近處微小物體進行放大的光學系統。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），光學儀器一般名詞（三級學科）
熒光顯微鏡紫外線透射光下照相用
熒光顯微鏡儀器的物鏡及目鏡鏡頭具有一套顯微目鏡和顯微物鏡系統它是在可見光通過與發熒光物體的光程范圍內的條件下進行肉眼觀察和在紫外線透射光下照相用的，常配有石英螢石物鏡、玻璃透鏡、消色差物鏡等。熒光顯微鏡抑制濾光片為了保護觀察者的眼睛，在進入目鏡的光路前安上波長在436nm以上的濾光片，它幾乎完全吸收
示教顯微鏡的功能介紹
中文名稱示教顯微鏡英文名稱multi-teaching head microscope定 義為教育示范專門設計或附加配備裝置的顯微鏡。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），顯微鏡-顯微鏡名稱（三級學科）
相差顯微鏡的功能介紹
相差顯微鏡是荷蘭科學家Zernike于1935年發明的，用于觀察未染色標本的顯微鏡。
紫外顯微鏡的功能介紹
紫外顯微鏡，是一種利用紫外線作光源觀察細小物體的顯微鏡，其分辨率比普通光學顯微鏡高一倍。
熒光顯微鏡的功能介紹
熒光顯微鏡(Fluorescence microscope) ： 熒光顯微鏡是以紫外線為光源， 用以照射被檢物體， 使之發出熒光， 然后在顯微鏡下觀察物體的形狀及其所在位置。
干涉顯微鏡的功能介紹
采用通過樣品內和樣品外的相干光束產生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉換為振幅（光強度）變化的顯微鏡，根據干涉圖形可分辨出樣品中的結構，并可測定樣品中一定區域內的相位差或光程差。由于分開光束的方法不同，有不同類型的干涉顯微鏡，以及用于測定非均勻樣品的積分顯微鏡干涉儀。干涉顯微鏡主要用于測定活的或未固
光電顯微鏡的功能介紹
中文名稱光電顯微鏡英文名稱photoelectric microscope定 義應用光電裝置進行精確瞄準、定位或測量的顯微鏡。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），光學計量儀器（三級學科）
光電顯微鏡的功能介紹
中文名稱光電顯微鏡英文名稱photoelectric microscope定 義應用光電裝置進行精確瞄準、定位或測量的顯微鏡。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），光學計量儀器（三級學科）
單目顯微鏡的功能介紹
中文名稱單目顯微鏡英文名稱monocular microscope定 義只供單眼觀察物像的顯微鏡。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），顯微鏡-顯微鏡名稱（三級學科）
金相顯微鏡系統的功能介紹
金相顯微鏡系統是將傳統的光學顯微鏡與計算機（數碼相機）通過光電轉換有機的結合在一起，不僅可以在目鏡上作顯微觀察，還能在計算機（數碼相機）顯示屏幕上觀察實時動態圖像，電腦型金相顯微鏡并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
圖像分析顯微鏡的功能介紹
中文名稱圖像分析顯微鏡英文名稱quantitative image analysis microscope定 義利用掃描原理和光度測量法進行圖像分析的顯微鏡。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），顯微鏡-顯微鏡名稱（三級學科）
示教顯微鏡的功能介紹
中文名稱示教顯微鏡英文名稱multi-teaching head microscope定 義為教育示范專門設計或附加配備裝置的顯微鏡。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），顯微鏡-顯微鏡名稱（三級學科）
掃描探針顯微鏡的功能介紹
掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscope，SPM）是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡（原子力顯微鏡，靜電力顯微鏡，磁力顯微鏡，掃描離子電導顯微鏡，掃描電化學顯微鏡等）的統稱，是國際上近年發展起來的表面分析儀器，是綜合運用光電子技術、激光技
倒置顯微鏡的功能介紹
倒置顯微鏡inverted microscope組成和普通顯微鏡一樣，只不過物鏡與照明系統顛倒，前者在載物臺之下，后者在載物臺之上，用于觀察培養的活細胞，具有相差物鏡。
干涉顯微鏡的功能介紹
采用通過樣品內和樣品外的相干光束產生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉換為振幅（光強度）變化的顯微鏡，根據干涉圖形可分辨出樣品中的結構，并可測定樣品中一定區域內的相位差或光程差。由于分開光束的方法不同，有不同類型的干涉顯微鏡，以及用于測定非均勻樣品的積分顯微鏡干涉儀。干涉顯微鏡主要用于測定活的或未固
倒置顯微鏡的功能介紹
倒置顯微鏡inverted microscope組成和普通顯微鏡一樣，只不過物鏡與照明系統顛倒，前者在載物臺之下，后者在載物臺之上，用于觀察培養的活細胞，具有相差物鏡。
倒置顯微鏡的功能介紹
倒置顯微鏡inverted microscope組成和普通顯微鏡一樣，只不過物鏡與照明系統顛倒，前者在載物臺之下，后者在載物臺之上，用于觀察培養的活細胞，具有相差物鏡。
干涉顯微鏡的功能介紹
采用通過樣品內和樣品外的相干光束產生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉換為振幅（光強度）變化的顯微鏡，根據干涉圖形可分辨出樣品中的結構，并可測定樣品中一定區域內的相位差或光程差。由于分開光束的方法不同，有不同類型的干涉顯微鏡，以及用于測定非均勻樣品的積分顯微鏡干涉儀。干涉顯微鏡主要用于測定活的或未固
光切顯微鏡的功能介紹
光切顯微鏡是采用光切法原理測量被測工件表面的微觀平面幅度的顯微鏡。所謂光切法，即以一把“光刀”去切割工件，使之微觀平面度的輪廓顯現出來，從而對其進行測量。測量對象除金屬表面外，還可對紙張、木材、塑料等非金屬材料表面進行測量。
光學顯微鏡的功能原理介紹
光學顯微鏡（簡寫OM）是利用光學原理，把人眼所不能分辨的微小物體放大成像，以供人們提取微細結構信息的光學儀器。
干涉顯微鏡的功能介紹
采用通過樣品內和樣品外的相干光束產生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉換為振幅（光強度）變化的顯微鏡，根據干涉圖形可分辨出樣品中的結構，并可測定樣品中一定區域內的相位差或光程差。由于分開光束的方法不同，有不同類型的干涉顯微鏡，以及用于測定非均勻樣品的積分顯微鏡干涉儀。干涉顯微鏡主要用于測定活的或未固
原子力顯微鏡的功能介紹
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它