X射線衍射儀的應用
每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的衍射圖譜與其他物質成分的存在與否無關，這就是X 射線衍射做相定量分析的基礎。X 射線衍射是晶體的“指紋”，不同的物質具有不同的X 射線衍射特征峰值(點陣類型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的數目、位置等)，結構參數不同則X 射線衍射線位置與強度也就各不相同，所以通過比較X 射線衍射線位置與強度可區分出不同的礦物成分。X 射線衍射儀主要采集的是地層中各種礦物的相對含量，并系統采集各種礦物的標準圖譜，包括石英、鉀長石、斜長石、方解石、白云石、黃鐵礦等近30 種礦物成分，通過礦物成分的相對含量就可以確定巖石巖性，為現場巖性定名提供定量化的參考依據，提高特殊鉆井條件下巖性識別準確度。......閱讀全文
X射線衍射儀應用
Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的衍射圖譜與其他物質成
X射線衍射儀的應用
油田錄井Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的衍射圖譜與其
x射線衍射儀的應用
油田錄井 Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。 每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的
x射線衍射儀的應用
油田錄井 Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。 每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的
X射線衍射儀的應用
每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的衍射圖譜與其他物質成分的存在與否無關，這就是X 射線衍射做相定量分析的基礎。X 射線衍射是晶體的“指紋”，不同的物質具有不同的X 射線衍射特征峰值(點陣類型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的
X射線衍射儀的行業應用
油田錄井Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的衍射圖譜與其
X射線衍射儀的應用介紹
X射線衍射儀是對物質和材料的組成和原子級結構進行研究和鑒定的基本手段。X射線衍射儀對單晶、多晶和非晶樣品進行結構參數分析，如物相鑒定和定量分析、室溫至高溫段的物相分析、晶胞參數測定（晶體結構分析）、多晶X-射線衍射的指標化以及晶粒尺寸和結晶度的測定等。可精確地測定物質的晶體結構，如：物相定性與定量分
X射線衍射的應用
X 射線衍射技術已經成為最基本、最重要的一種結構測試手段，其主要應用主要有以下幾個方面： 物相分析 物相分析是X射線衍射在金屬中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的點陣平面間距及衍射強度與標準物相的衍射數據相比較，確定材料中存在的物相；后者則根據衍射花樣的強度，確定材料中
X射線衍射儀
產品型號:?X'Pert PRO生產廠家:荷蘭帕納科公司PANalytical B.V.（原飛利浦分析儀器）儀器介紹:X'Pert PRO X射線衍射儀采用陶瓷χ光管、DOPS直接光學定位傳感器精確定位和最優化的控制臺及新型窗口軟件。采用模塊化設計，可針對不同的要求采用最優的光學系統
X射線衍射儀
特征X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產生X射線，它具有靶中元素相對應的特定波長，稱為特征X射線。如銅靶對應的X射線波長為0.154056 nm。X射線衍射儀的英文名稱是X-ra
x射線衍射儀的應用相關介紹
油田錄井 Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。 每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的
關于X射線衍射儀的應用介紹
Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。 每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的衍射圖譜與其
X射線衍射及應用
1895年倫琴發現X射線.德國物理學家勞厄于1912年發現了X射線衍射現象,并導出了勞厄晶體衍射公式.緊接著,英國物理學家布拉格父子又將此衍射關系用簡單的布拉格定律表示,使之易于接受.到本世紀四、五十年代,X射線衍射的原理、方法及在各方面的應用雖已建立,其應用范圍已遍及物理、化學、地質學、生命科學,
X射線衍射的應用介紹
X 射線衍射技術已經成為最基本、最重要的一種結構測試手段，其主要應用主要有以下幾個方面：物相分析物相分析是X射線衍射在金屬中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的點陣平面間距及衍射強度與標準物相的衍射數據相比較，確定材料中存在的物相；后者則根據衍射花樣的強度，確定材料中各相的含量。
x射線單晶體衍射儀的應用
晶體結構的測定對學科的發展、物體性能的解釋、新產品的生產和研究等方面都有很大的作用,其應用面很寬,不能盡述,略談幾點如下: (一)．晶體結構的成功測定,在 晶體學學科的發展上起了決定的作用。因為他將晶體具有周期性結構這一推測得到了證實,使晶體的許多特性得到了解釋:如晶體能自發長成 多面體外形(
X射線單晶體衍射儀的應用
晶體結構的測定對學科的發展、物體性能的解釋、新產品的生產和研究等方面都有很大的作用，其應用面很寬，不能盡述，略談幾點如下：（一）．晶體結構的成功測定，在晶體學學科的發展上起了決定的作用。因為他將晶體具有周期性結構這一推測得到了證實，使晶體的許多特性得到了解釋：如晶體能自發長成多面體外形（自范性），如
X射線衍射儀的原理和應用范圍
X射線衍射儀是一種常用的檢測儀器，利用波長很短的電磁波能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離，測定物質的晶體結構，織構及應力，的進行物相分析，定性分析，定量分析。 X射線衍射儀的原理： x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，
x射線衍射儀的工作原理和應用
什么是x射線衍射儀? X射線衍射儀(X-ray diffractometer，XRD)是利用X射線衍射原理研究物質內部結構的一種大型分析儀器。令一束X射線和樣品交互，用生成的衍射圖譜來分析物質結構。它是在X射線晶體學領域中在原子尺度范圍內研究材料結構的主要儀器，也可用于研究非晶體。? x射線衍
多晶x射線衍射儀
主要應用于樣品的物像定性或定量分析、晶體結構分析、材料的織構分析、宏觀應力或微觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等等，因此，在材料科學、物理學、化學、化工、冶金、礦物、藥物、塑料、建材、陶瓷。。。。。。。。。。。。。。以至考古、刑偵、商檢等眾多學科和行業中都有廣泛的應用，是理工科院校和材料研究、
X射線衍射儀原理
x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物
多晶X射線衍射儀
多晶X射線衍射儀是一種用于材料科學領域的分析儀器，于2008年7月1日啟用。 技術指標 ● X射線高壓發生器：最大功率：3kW，最大電壓：60kV，最大電流：60mA ● 陶瓷X光管：Cu靶，最大功率：2.2kW, 最大電壓：60kV，最大電流：55mA ● q/q 掃描模式，掃描范圍：0.
X射線衍射儀法
X射線主要被原子中緊束縛的外層電子所散射。X射線的散射可以是相干的(波長不變)或非相干的(波長變)。相干散射的光子可以再進行相互干涉并依次產生一些衍射現象。衍射出現的角度(θ)可以與晶體點陣中原子面間距(d)聯系起來，因此X射線衍射花樣可以研究寶玉石的晶體結構和進行物相鑒定。一、X射線的產生及其性質
X射線衍射儀構造
X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似，為X射線衍射儀的基本構造原理圖，主要部件包括4部分。 （1）高穩定度X射線源 提供測量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長,調節陽極電壓可控制X射線源的強度。 （2）樣品及樣品位置取向的調整機構系統 樣品須是單晶、粉
X射線衍射儀法
X射線主要被原子中緊束縛的外層電子所散射。X射線的散射可以是相干的(波長不變)或非相干的(波長變)。相干散射的光子可以再進行相互干涉并依次產生一些衍射現象。衍射出現的角度(θ)可以與晶體點陣中原子面間距(d)聯系起來，因此X射線衍射花樣可以研究寶玉石的晶體結構和進行物相鑒定。一、X射線的產生及其性質
X射線衍射技術的應用特點
X 射線衍射技術已經成為最基本、最重要的一種結構測試手段，其主要應用主要有以下幾個方面：物相分析物相分析是X射線衍射在金屬中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的點陣平面間距及衍射強度與標準物相的衍射數據相比較，確定材料中存在的物相；后者則根據衍射花樣的強度，確定材料中各相的含量。
X－射線衍射技術的主要應用
物相分析物相分析是X射線衍射在金屬中用得最多的方面,分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的點陣平面間距及衍射強度與標準物相的衍射數據相比較,確定材料中存在的物相;后者則根據衍射花樣的強度,確定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的關系和檢查材料的成分配比及隨后的處理規程是否合理等方面都得到廣泛應
x射線衍射儀的原理
x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是1912年德
x射線衍射儀的原理
x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是1912年德
X射線衍射儀的原理
x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物
x射線衍射儀的參數
三個物理量：從圖中可以看出，衍射譜上可以直接得到的有三個物理量，即衍射峰位置(2θ)、衍射峰強度(I)及衍射峰形狀(f(x))。粉末衍射可解決的任何問題或可求得的任何結構參數一般都是以這三個物理量為基礎的。 主要技術參數:一臺好的儀器應能得到準確(測得的數值與其真值相符)并精確(測量重復性好)