國內比較常用的兩種非接觸測量方法，一種是基于CCD器件接收光信號的測量方法，另一種是激光掃描測量方法。
兩種方法各有各的優勢以及劣勢，下面讓我們來看看他們的基本工作原理。
第一種測量原理：CCD尺寸測量
CCD尺寸測量系統基本都由CCD像傳感器、光學系統、微機數據采集和處理系統組成，我們先來看一下采用CCD測量的基本原理：
線陣CCD平行光法進行非接觸測量的基本原理：將線陣CCD置于平行光路，被測物放于CCD前方光路中，射向CCD的光就被物體擋住一部分，因此CCD輸出的信號就有一個凹口。顯然，凹口的寬度與物體的尺寸有一一對應的關系，我們利用數字電路設計和計算機處理就很容易的得到凹口對應的CCD像元數，從而計算出被測物體的尺寸。但是我們也很容易的發現一個問題：這種測量方法要求CCD光敏區的長度大于被測物體的尺寸，而大尺寸的CCD特別昂貴，所以必須通過其他方法來實現光的接收。
第二種測量原理：激光掃描測量
激光掃描測徑儀系統采用激光器發出的光束通過多面體掃描轉鏡和掃描光學系統后，形成與光軸平行的連續高速掃描光束，對被置于測量區域的的工件進行高速掃描，并由放在工件對面的光電接收器接收，投射到光電光電接收器上的光線在光束掃描工件時被遮斷，所以通過分析光電接受器輸出的信號，可獲得與工件直徑有關系的數據。