X射線熒光光譜分析技術發展研討會在京舉行

　　分析測試百科網訊 2016年4月12日，PANalytical Day 2016 X射線熒光光譜分析技術發展研討會在北京舉行。本次會議由北京市理化分析測試中心、北京理化分析測試技術學會以及荷蘭帕納科公司聯合主辦，會議吸引了100余業內專家、學者以及儀器使用人員等參加。分析測試百科網全程參與了此次會議。

會議現場

　　理化分析測試技術學會秘書長 桂三剛

　　北京光譜學會理事 余興

　　帕納科亞太區市場經理 Melissa Ho

　　理化分析測試技術學會秘書長桂三剛、北京光譜學會理事余興以及帕納科亞太區市場經理Melissa Ho分別為會議致辭。

　　帕納科XRF產品經理 Christos Tsouris

　　帕納科XRF產品經理Christos Tsouris帶來了報告“SumXcore多核X射線分析技術及核心新技術的實驗與應用”。

　　報告指出，關于X射線熒光光譜技術（XRF）現在被人們所熟知的有波長色散X射線熒光光譜（WDXRF）以及能量色散X射線熒光光譜（EDXRF）兩種技術。其中，WDXRF是現在使用最多的，其是對分開的光波進行逐個掃描，一個波長對應一個元素；而EDXRF不含分光系統，無需分光，X射線熒光直接進入檢測器，可以對所有波長同時進行掃描。這兩種技術各有優缺點，采購時可根據各自的使用需求進行采購，主要考慮的因素有：元素范圍、類型、靈敏度、分辨率以及檢出限，除此以外其他因素還有：價格、運營成本、尺寸大小、便攜性、輔助設備以及樣品量等。

　　Christos Tsouris還介紹了過去20年來XRF的發展情況。EDXRF在分辨率和靈敏度上取得了長足的進步——靈敏度從1998年的800ev發展到了2014年的145ev甚至更低，可分析元素也從Al到U發展到現在的C到U。WDXRF則在更緊湊以及平臺解決方案方面取得了進步——將EDXRF、WDXRF以及XRD技術整合在一起（即SumXcore，多核X射線分析技術），形成了Zetium光譜儀。

　　Zetium光譜儀

　　Zetium光譜儀通過采用SumXcore，將波普核和能譜核組合在一個平臺上，可并行運行，從而最大程度地增加分析靈活性并提升性能：

　　通過SumXcore的同步光譜分析將測量時間縮短50%；

　　較傳統WDXRF更快地獲取目標精度；

　　通過SumXcore更快獲取元素周期表上元素的最低檢出限；

　　跟蹤可影響過程元素分析的意外元素而不增加測量時間；

　　收集每個樣品全光譜圖而不影響準確度；

　　波普和能譜可各自獨立分析；

　　在一個平臺上同時符合波普和能譜兩種規范；

　　預防性維護工具；

　　強大的備份分析。

　　另外，Zetium光譜儀配置的分析軟件Virtual Analyst即“分析精靈”，大大簡化了樣品分析工作，其具有無標樣分析、石化產品的單一校準、痕量分析、無標多層膜分析以及類型標準化等可選軟件模塊，還有Pro-Trace、WROXI、CEMOXI、低合金鋼等可選應用模塊，可將用戶的問題直接轉化為解決方案。

　　帕納科亞太實驗室經理 薛石雷

　　帕納科亞太實驗室經理薛石雷介紹了臺式能量色散X射線熒光光譜技術發展與應用分析。

　　薛石雷指出在過去的近20年中，EDXRF技術取得了很大的進步。帕納科公司的Epsilon3^XLE用于輕元素檢測可低至C；其使用了新型光管，SDD^Ultra新探測器，元素范圍可從C到Am；可應用于所有樣品類型；操作簡單；易于安裝；可應用于任一工業領域，如：鑄鐵樣品中的C分析，水泥熔片樣品中的Na₂O分析，聚合物中的Na分析等領域。

　　Epsilon1

　　 Epsilon3X

　　薛石雷還介紹了Epsilon1專用臺式EDXRF。該儀器節能低功率，可用于實驗室和移動現場測試，內置觸屏式計算機，重量輕，體積小，無運行成本，工廠預校正。Epsilon1具有燃油中的S分析、潤滑油分析、奶粉分析以及研究專用型、地質/礦業專用型等專用模式。定量分析范圍可從Na到Am中的所有元素，濃度范圍從%低至ppm。其軟件與Epsilon3相似，具有標準模式和高級模式。觸屏計算機易操作，分析結果可自動顯示。

　　會后，參會人員前往北京市理化分析測試中心觀看了儀器演示。

　　演示現場

　　薛石雷以及實驗室工作人員為大家演示了臺式能量色散X射線熒光光譜儀Epsilon1進行水泥樣品無標定量和鍍層厚度測量，Epsilon3X指紋識別硬幣以及測C元素。

　　演示現場

　　Christos Tsouris則為大家演示了Zetium光譜儀測量硬幣上的微小區域。