日立高新發布“MirrorCLEM”系統用于光電關聯顯微鏡

　　分析測試百科網訊 近日，日立高新技術公司和日本理化學研究所，日本的國家科研機構之一，他們共同開發了“MirrorCLEM”，這是一個關于簡化光電關聯顯微鏡的系統，可以讓使用者同時使用光學和掃描電子顯微鏡。這個全新系統將在2016年7月25日由日立高新發售。

　　各類顯微鏡被廣泛應用于各種領域，例如納米科技、材料、醫藥和生命科學等。尤其是在醫藥和生命科學領域，SEMs常常用于確認細胞和組織的超顯微結構，而光學顯微鏡，熒光顯微鏡則越來越多的被用來定位和觀察分子水平的蛋白質活動。近年來，科學家已經開發出了CLEM技術，這種技術使得電子顯微鏡和光學顯微鏡相互關聯。但是，同一個場中，用不同的放大倍數的顯微鏡觀察樣本特征仍然是一個難題。

　　為了解決這個難題，2015年，日立高新與日本理化學研究所的 Dr. Kiminori Toyooka所帶領的研究小組合作研發一個可以觀察包含綠色熒光蛋白（GFP）的細胞器官的超顯微結構的系統。RIKEN 研究開發了顯微觀察工作流和樹脂包埋以保護GFP和超顯微結構的前處理方法。同時，日立高新開發了一種專用夾具用于安裝于場發射掃描電鏡（FE-SEM）下方蓋玻上的樹脂部分，同時還有用于FE-SEM快速準確觀察熒光顯微鏡相同位置的軟件。

　　“MirrorCLEM”系統，是日立高新和 RIKEN 隨后開發的用于支持使用FE-SEM快速準確的進行CLEM分析的系統。通過該系統，樹脂部分可以使用光學顯微鏡從低倍率到高到足以觀察感興趣結構的倍率進行觀察。此外， FE-SEM stage可以根據光學顯微鏡低倍圖像下的目標位置進行調整。并且 FE-SEM 的視野（FOV）也可以移動到低倍圖像中任何感興趣的地方，相同的視野可以在 “MirrorCLEM” 系統的FE-SEM中觀察到。同時，該系統可以實時顯示光學顯微鏡和 FE-SEM的重疊圖像。日立的 SU8220 FE-SEM配備上 “MirrorCLEM”系統，已經用于分析轉基因擬南芥子葉和根的具有GFP的過氧化物酶體的超顯微結構中。

　　日立高新將發布 “MirrorCLEM”作為CLEM SU8200 系列的 FE-SEMs的一個選擇項 ，并計劃每年銷售額為50套。展望未來，這將最大限度的增強 FE-SEM 的功能，并能與很多其他顯微鏡進行連接，促進很多領域的CLEM分析，尤其醫藥和生命科學。