材料光譜分析

主要包括火焰和電熱原子吸收光譜AAS， 電感耦合等離子體原子發射光譜ICP-OES， X-射線熒光光譜XFS和X-射線衍射光譜分析法XRD；

（1） 原子吸收光譜（Atomic Absorption Spectrometry, AAS） 又稱原子吸收分光光度分析。原子吸收光譜分析是基于試樣蒸氣相中被測元素的基態原子對由光源發出的該原子的特征性窄頻輻射產生共振吸收，其吸光度在一定范圍內與蒸氣相中被測元素的基態原子濃度成正比，以此測定試樣中該元素含量的一種儀器分析方法。

原子吸收分析特點：

（a）根據蒸氣相中被測元素的基態原子對其原子共振輻射的吸收強度來測定試樣中被測元素的含量；

（b）適合對納米材料中痕量金屬雜質離子進行定量測定，檢測限低 ，ng/cm3，10-10—10-14g；

（c）測量準確度很高，1%（3—5%）；

（d）選擇性好，不需要進行分離檢測；

（e）分析元素范圍廣，70多種； 應該是缺點（不確定）：難熔性元素，稀土元素和非金屬元素，不能同時進行多元素分析；

（2） 電感耦合等離子體原子發射光譜(Inductivelycoupledplasmaatomicemissionspectrometry, ICP-AES)

ICP是利用電感耦合等離子體作為激發源，根據處于激發態的待測元素原子回到基態時發射的特征譜線對待測元素進行分析的方法；可進行多元素同時分析，適合近70種元素的分析；很低的檢測限，一般可達到10-1～10-5μg/cm-3；穩定性很好，精密度很高，相對偏差在1%以內，定量分析效果好；線性范圍可達4～6個數量級；但是對非金屬元素的檢測靈敏度低。

（3）X-射線熒光光譜(X-ray fluorescence spectrometry, XFS)是一種非破壞性的分析方法，可對固體樣品直接測定。在納米材料成分分析中具有較大的優點；X射線熒光光譜儀有兩種基本類型波長色散型和能量色散型；具有較好的定性分析能力，可以分析原子序數大于3的所有元素。本低強度低，分析靈敏度高，其檢測限達到10-5～10-9g/g（或g/cm3）；可以測定幾個納米到幾十微米的薄膜厚度。

（4） X-射線衍射光譜分析法（X-ray diffraction analysis，XRD）