島津亮相“國際化學年在中國”

島津亮相“國際化學年在中國”

——中國化學會超分子凝膠與自組裝材料研討會

　　為了交流我國學者在超分子凝膠與自組裝材料領域中的最新研究成果，由中國科學院化學研究所與陜西師范大學聯合舉辦的“國際化學年在中國——中國化學會超分子凝膠與自組裝材料研討會”于2011年11月8-10日在陜西師范大學啟夏苑隆重召開。

　　會議以“化學——我們的生活，我們的未來”為主題，旨在通過大會報告與邀請報告展示近年來超分子凝膠與自組裝材料方面的新成果、新進展，重點探討我國近十年來超分子凝膠與自組裝材料快速發展中的關鍵科學問題、重要的研究進展與動態。進一步促進和活躍我國超分子化學、軟物質材料科學的發展。

“國際化學年在中國”會議開幕式

　　島津公司大型儀器市場部 龔沿東研究員做了題為《使用MEM方法進行元素分布重構的XPS無損深度剖析技術》的大會報告。他介紹了島津/KRATOS 高性能成像X射線光電子能譜儀 AXIS-ULTRADLD 加配無損深度剖析重構軟件，能夠在不使用離子源對樣品進行刻蝕的情況下分析樣品的表面深度信息結構，目前該軟件的用戶已經在國際知名雜志上發表了數篇出色研究成果。此外，配置Ar/C24H12雙模式離子槍，該離子槍的C24H12離子源可實現不改變有機材料化學狀態的深度剖析，避免以往Ar離子源刻蝕導致有機材料化學狀態改變的弊端。

島津市場部 龔沿東研究員 做大會報告

　　島津/KRATOS 高性能成像X射線光電子能譜儀 AXIS-ULTRA DLD型，采用合理設計的雙層能量分析器，既可獲得高能量分辨和高靈敏度的XPS譜，也可以在數秒至數十秒的時間內得到空間分辨優于3μm的高分辨元素化學狀態像，是真正的成像XPS;結合先進的新一代二維陣列延遲線檢測器(Delay Line Detector)，可以對樣品進行超快速分析，并實現快拍采譜(Snap Shot)和從圖得譜(Spectra from Images)等功能。使用特殊設計的虛擬探針技術，若在圖像上以鼠標點擊指定分析位置，則無需移動樣品，便可進行最小至15μm微小區域的多點譜分析。

　　正因為島津XPS儀器本身技術的先進性，受到與會專家學者的關注。在茶歇時間，一位剛剛從歐洲回國的中科院專家談起在歐洲的研究，在該領域研究中用過多臺KRATOS XPS ，令他感到高興的是國內也開始使用高端XPS進行相關研究，相信不久將躋身世界科研先進水平行列。

　　什么是XPS?

　　X射線光電子能譜儀(X-ray Photoelectron Spectroscopy，簡稱XPS)是廣泛應用于材料科學領域的高技術分析儀器，主要用于固體材料的表面(2～3nm深度)元素成分和價態的定性和定量分析，與成像功能和離子濺射刻蝕相結合，也可以用于固體表面元素成分及價態的二維面分析和深度剖析，在納米材料、高分子材料、材料的腐蝕與防護、各類功能薄膜的機理研究、催化劑研究與失效等方面具有不可替代的作用。