本文用掃描電子顯微鏡 (SEM)、能譜儀 (EDS)和IPP圖像處理系統聯用對PVC PP共混體系和磺化聚苯乙烯 (SPS)增容PVC PP共混體系相結構進行了X射線能譜微區分析。結果表明 :X射線能譜微區分析方法可用于共混物相結構的研究 ,所得到的特征元素面分布圖像清晰、相歸屬準確。通過對圖像處理得到的相面積百分數能夠半定量地說明相間相容性。研究還表明SPS能明顯改善PVC和PP的相容性 ,SPS對PVC和PP共混物的增容效果隨SPS磺化度增加而變差 ,隨SPS用量增加而提高
人類已經成功完成了十次月球采樣。月球樣品就像是歷史書一樣記錄了關于月球及其空間環境的“故事”。但我們能在多大程度上讀懂這些歷史書，取決于我們掌握了多先進的微區分析技術。相比于天文觀測和遙感探測，采樣返......
拉曼微區探針（微區拉曼）是把顯微鏡和拉曼光譜聯系起來，測得的拉曼光譜具有較高的精確性，可以用來進行表面光譜學研究，發現與組分化學性質有關的表面均一性。拉曼微區探針的概念最早是由TomasHirshfl......
1、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；4、金銀......
當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，......
微區分析也是俄歇電子能譜分析的一個重要功能，可以分為選點分析，線掃描分析和面掃描分析三個方面。這種功能是俄歇電子能譜在微電子器件研究中最常用的方法，也是納米材料研究的主要手段。（1）選點分析俄歇電子能......
本文提出一個直接利用薄膜和襯底的X射線能譜來同時測定薄膜的成分和厚度的新方法,利用薄膜發出的各元素的標識X射線強度比確定其成分,利用NaCl襯底的Nak_α和Clk_α標識X射線的強度隨膜厚增大而衰減......
本文通過在EM400T透射電鏡上用一些標準成分的樣品進行薄膜無標樣成份分析實驗,檢驗了EDAX9100能譜儀的分析準確度。在本試驗所用的樣品范圍內,其準確度為:近鄰元素同一X光線系分析相對誤差為5～1......
本文利用薄膜對入射電子束流的衰減作用和薄膜對襯底的x射線的吸收,提出了一種直接利用襯底的x射線的強度比來測量薄膜厚度的方法。并在各種實驗條件下,對Cu薄膜的厚度進行了測量,得到了較為滿意的結果。&nb......
隨著探頭制造技術水平的提高、電子學技術的發展,以及對脈沖處理技術和重疊峰處理方法的改進,能譜定量分析的精度得到不斷提高。目前,對原子序數在11～30之間的常用元素,其分析精度大體上可以達到波長譜儀的水......
本文利用EM400T透射電子顯微鏡和EDAX9100能譜儀研究微量元素在晶界的偏聚。通過本文采用的電子束直徑小到40A的微探針,低背底樣品臺,沿晶界拉長束斑,分段積分等措施,明顯地提高了分析靈敏度。用......