接觸式芯片點樣儀：即點樣針直接與固相支持物表面接觸，將DNA樣品留在固相支持物上，此種點樣方式適合一次取樣點50張芯片以下的情況;其二為非接觸式點樣，即噴點，它是以壓電原理將DNA樣品通過毛細管直接噴至固相支持物表面，此種點樣方式適合一次取樣點50張芯片以上的情況，并且非接觸式點樣的密度不如接觸式點樣，主要適合于膜芯片，對于高密度的玻璃芯片一般均采用接觸式點樣。
非接觸式芯片點樣儀：系統構成除了運動機構之外需要高精度柱塞泵和壓電噴頭。運動機構用來移動噴頭實現在試劑盒取樣，到薄片噴樣以及到水槽清洗等功能，柱塞泵用來完成連續向噴頭供給樣品液，以及在洗針過程中從噴嘴汲取清洗液和沖洗噴頭腔體等動作。
噴頭結構原理：它是在硅片上刻蝕出腔體和細小的噴嘴，腔體的背面貼上壓電陶瓷，腔體的頂部用玻璃材料對腔體進行密封。工作時對壓電陶瓷施加電壓，壓電陶瓷產生形變并帶動硅片產生彎曲和凸凹形變，使腔體的體積迅速發生變化，進而噴射出液體微滴。這種形變噴射出的液體體積在納升和皮升量級，工作的頻率可達1kHz，所以非常適合高精度的納升皮升級點樣系統。